[發明專利]目標可見光光電特性異地測量等效方法

在審

• 申請號: 202011447549.7
• 申請日: 2020-12-09
• 公開（公告）號: CN112698338A
• 公開（公告）日: 2021-04-23
• 發明（設計）人: 袁宏學;王小兵;廖俊勃;張燕;劉德連;何亞磊
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍32202部隊
• 主分類號: G01S17/02
• 分類號: G01S17/02;G01S7/48;G06F17/18;G01J1/00;G01C21/02
• 代理公司: 西北工業大學專利中心 61204
• 代理人: 顧潮琪

本發明提供了一種目標可見光光電特性異地測量等效方法，在試驗場區內通過標準靶色標來記錄當地不同的環境光條件，并記錄目標的亮度；計算太陽天頂角和方位角；分別對紅光、綠光和藍光進行測量，制成目標亮度?紅光表格、目標亮度?綠光表格、目標亮度?藍光表格，每個表格中的亮度測量結果對應太陽天頂角、太陽方位角和觀察方位角三個參數；用相同的標準靶測量待測量地點的環境光條件；通過查找表計算得到目標所應該呈現出的光電特性。本發明能夠通過易測量區域的測試結果計算得到難測區域目標的光電特性。

技術領域

本發明涉及一種光電特性測量方法。

背景技術

目標光電特性是目標自身重要的特征在目標識別、目標跟蹤、光電對抗等領域都有廣泛的應用，通過實測獲取目標的光電特性是最有效的獲取目標光電特性的方法，也是后端應用和評估的重要基礎。在實際應用中，研究人員可以通過實驗的方法測量不同條件目標所表現的光電特性，但是由于試驗條件的限制，在某些場地卻無法搭建試驗場地，比如研究人員可以在地面測量典型目標的光電特性，卻無法在月球搭建試驗場地，如何通過地面測量結果，將其等效為在月球測量得到光電特性便是一個急需要解決的研究課題。

發明內容

為了克服現有技術的不足，本發明提供一種目標可見光光電特性異地測量等效方法，能夠通過易測量區域的測試結果計算得到難測區域目標的光電特性。

本發明解決其技術問題所采用的技術方案包括以下步驟：在試驗場區內通過標準靶色標來記錄當地不同的環境光條件，并記錄目標的亮度；計算太陽天頂角和方位角；分別對紅光、綠光和藍光進行測量，制成目標亮度-紅光表格、目標亮度-綠光表格、目標亮度-藍光表格，即紅綠藍光在不同環境光條件下的查找表，每個表格中的亮度測量結果對應太陽天頂角、太陽方位角和觀察方位角三個參數；用相同的標準靶測量待測量地點的環境光條件；通過查找表計算得到目標所應該呈現出的光電特性。

所述的不同環境光條件是在春夏秋冬四個季節中各選擇一天作為一個季節的代表，在這一天內每間隔一個小時測量一次。

所述的查找表計算采用三維插值法。

所述的三維插值過程是假設欲求取某測量結果X(rx，sx，fx)，其中(rx，sx，fx)分別表示太陽天頂角、太陽方位角、觀察方位角，而建立的查找表中只有X(r，s，f)，X(r+1，s，f)，X(r，s+1，f)，X(r+1，s+1，f)，X(r，s，f+1)，X(r+1，s，f+1)，X(r，s+1，f+1)，X(r+1，s+1，f+1)臨近的八個頂點的值，設三個臨時變量tx＝rx-r，ty＝sx-s，tz＝fx-f，則插值結果為

X(rx，sx，fx)＝X(r，s，f)×(1-tx)(1-ty)(1-tz)+X(r+1，s，f)×tx(1-ty)(11-tz)+X(r，s+1，f)×(11-tx)ty(1-tz)+X(r+1，s+1，f)×txty(1-tz)+X(r，s，f+1)×(1-tx)(1-ty)tz+X(r+1，s，f+1)×tx(1-ty)tz+X(r，s+1，f+1)×(1-tx)tytz+X(r+1，s+1，f+1)×txtytz。

本發明的有益效果是：只用測得目標和標準靶在標準測試場地目標的光電特性，并利用標準靶測量等效場景的環境光條件，便可以通過查表和插值公式直接計算得到等效區域的給定目標的光電特性，測的數據越多，分的表越精細，得到的數據便越精確。

附圖說明

圖1是目標光電特性異地測量等效方法示意圖；

圖2是目標和標準靶測量示意圖；

圖3是雙向反射分布函數示意圖；

圖4是等效場景標準靶測量示意圖；

圖5是查找表原理示意圖；

圖6是太陽天頂角、太陽方位角和觀察方位角示意圖。

具體實施方式