[發明專利]一種集成電路芯片用次品檢測裝置

在審

• 申請號: 202011443623.8
• 申請日: 2020-12-08
• 公開（公告）號: CN112444488A
• 公開（公告）日: 2021-03-05
• 發明（設計）人: 李松
• 申請（專利權）人: 安徽竣陽信息技術有限公司
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01;G01N21/95
• 代理公司: 北京化育知識產權代理有限公司 11833
• 代理人: 秦麗

本發明公開一種集成電路芯片用次品檢測裝置，包括主體，所述主體左側設置有側板一，所述主體右側設置有側板二，所述側板一上端和側板二上端靠近兩側位置均設置有滑塊一，所述滑塊一上端表面設置有限位板，所述主體上方設置有蓋板，所述蓋板上端靠近兩側位置均開設有滑槽一，所述側板一一側靠近中間位置開設有兩組固定槽，所述固定槽內部設置有固定板，兩組所述固定板之間靠近底部位置設置底板，所述底板上端靠近中間位置開設有滑槽二；本發明能夠改變照射角度，可以更好地檢測出次品芯片，便于將芯片夾持在裝置內部，且可以調整芯片和光敏傳感器之間的相對位置，便于對不同尺寸的芯片進行檢測。

技術領域

本發明屬于集成電路領域，具體的是一種集成電路芯片用次品檢測裝置。

背景技術

集成電路是一種微型電子器件或部件，采用一定的工藝，把一個電路中所需的晶體管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起，制作在一小塊或幾小塊半導體晶片或介質基片上，然后封裝在一個管殼內，成為具有所需電路功能的微型結構；其中所有元件在結構上已組成一個整體，使電子元件向著微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面邁進了一大步，它在電路中用字母IC表示，當今半導體工業大多數應用的是基于硅的集成電路。

市場上的集成電路芯片用次品檢測裝置不能改變照射角度，從而不可以更好地檢測出次品芯片，不便于將芯片夾持在裝置內部，且不可以調整芯片和光敏傳感器之間的相對位置，不便于對不同尺寸的芯片進行檢測，為此，我們提出一種集成電路芯片用次品檢測裝置。

發明內容

本發明的目的在于提供一種集成電路芯片用次品檢測裝置，以解決上述背景技術中提出的市場上的集成電路芯片用次品檢測裝置不能改變照射角度，從而不可以更好地檢測出次品芯片，不便于將芯片夾持在裝置內部，且不可以調整芯片和光敏傳感器之間的相對位置，不便于對不同尺寸的芯片進行檢測的問題。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：一種集成電路芯片用次品檢測裝置，包括主體，所述主體左側設置有側板一，所述主體右側設置有側板二，所述側板一上端和側板二上端靠近兩側位置均設置有滑塊一，所述滑塊一上端表面設置有限位板，所述主體上方設置有蓋板，所述蓋板上端靠近兩側位置均開設有滑槽一；

所述側板一一側靠近中間位置開設有兩組固定槽，所述固定槽內部設置有固定板，兩組所述固定板之間靠近底部位置設置底板，所述底板上端靠近中間位置開設有滑槽二，所述滑槽二內部活動設置有滑塊二，所述滑塊二上端設置有夾板一，所述夾板一一側開設有卡槽，所述卡槽內側壁均開設有滑道，所述滑道內部設置有滑板，兩組所述滑板之間設置有推板，所述夾板一上端靠近中間位置設置有滑塊三，所述夾板一另一側靠近中間位置設置有固定塊，所述固定塊另一側靠近頂部位置設置有把手，所述固定塊一側貫穿開設有導向槽，所述導向槽內側壁開設有調節齒輪，另一組所述滑塊二上端設置有夾板二，所述夾板二另一側設置有連接板，所述連接板一側設置有導向板，所述導向板上端開設有若干組齒槽；

所述固定板一側靠近頂部位置開設有擋板槽，兩組所述擋板槽之間設置有限位擋板，所述限位擋板底端表面開設有凸型滑槽，所述限位擋板上端靠近凸型滑槽邊沿位置設置有擋板；

所述側板一一側靠近中間位置貫穿開設有橫槽，所述橫槽內部底端設置有橫板一，所述橫板一上端靠近一側位置設置有輪軸，所述輪軸上活動套設有主動齒輪，所述主動齒輪一側設置有從動齒輪，所述橫板一下方設置有橫板二，所述橫板一和橫板二之間設置有轉軸，所述轉軸表面靠近且位于橫板一上方位置固定設置有傳動齒輪，所述轉軸表面靠近中間位置固定設置有燈座，所述燈座一側設置有燈管。

優選的，所述側板一和側板二相互平行設置，所述蓋板通過滑槽一套設在滑塊一上，所述蓋板通過限位板、滑塊一配合滑槽一與主體活動設置，兩組所述蓋板相互配合。

優選的，所述橫板一和橫板二相互平行設置，所述主動齒輪、從動齒輪和傳動齒輪兩兩之間相互嚙合，所述燈座通過轉軸配合傳動齒輪活動設置在橫板一和橫板二之間。