[發(fā)明專利]一種過欠壓檢測電路

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011443246.8
• 申請日: 2020-12-08
• 公開（公告）號: CN114609432A
• 公開（公告）日: 2022-06-10
• 發(fā)明（設計）人: 盛歡;李亮;林昌全;吳泉清;蕭碩
• 申請（專利權）人: 華潤微集成電路（無錫）有限公司
• 主分類號: G01R19/165
• 分類號: G01R19/165
• 代理公司: 上海光華專利事務所(普通合伙) 31219
• 代理人: 林麗麗

1.一種過欠壓檢測電路，其特征在于，所述過欠壓檢測電路包括：

一待檢測芯片，所述待檢測芯片具有一電壓檢測引腳；

電流支路，設于所述待檢測芯片的內部并與所述電壓檢測引腳連接，用于在所述電壓檢測引腳處提供一不為零的電流；

電阻支路，設于所述待檢測芯片的外部并與所述電壓檢測引腳連接，用于在所述電流支路的作用下，設定過壓保護點和欠壓保護點，同時調節(jié)兩者的比例，從而實現(xiàn)對所述待檢測芯片的過壓保護和欠壓保護。

2.根據(jù)權利要求1所述的過欠壓檢測電路，其特征在于，所述電流支路包括：一電流源，所述電流源接入所述電壓檢測引腳。

3.根據(jù)權利要求1所述的過欠壓檢測電路，其特征在于，所述電流支路包括：一電流源，所述電流源的電流輸入端連接于所述電壓檢測引腳，所述電流源的電流輸出端接地。

4.根據(jù)權利要求1所述的過欠壓檢測電路，其特征在于，所述電流支路包括：一供流電阻，所述供流電阻的一端接入預設電壓，所述供流電阻的另一端連接于所述電壓檢測引腳。

5.根據(jù)權利要求1所述的過欠壓檢測電路，其特征在于，所述電阻支路包括：第一檢測電阻和第二檢測電阻，所述第一檢測電阻的一端接入被測電壓，所述第一檢測電阻的另一端連接于所述第二檢測電阻的一端及所述電壓檢測引腳，所述第二檢測電阻的另一端接地。

6.根據(jù)權利要求1所述的過欠壓檢測電路，其特征在于，所述待檢測芯片包括：過壓比較器、欠壓比較器及邏輯控制器，其中，

所述過壓比較器的第一輸入端連接于所述電壓檢測引腳，其第二輸入端接入過壓基準，其輸出端連接于所述邏輯控制器，用于對所述電壓檢測引腳處的電壓和所述過壓基準進行比較，并輸出比較結果；

所述欠壓比較器的第一輸入端連接于所述電壓檢測引腳，其第二輸入端接入欠壓基準，其輸出端連接于所述邏輯控制器，用于對所述電壓檢測引腳處的電壓和所述欠壓基準進行比較，并輸出比較結果；

所述邏輯控制器用于根據(jù)所述過壓比較器及所述欠壓比較器輸出的比較結果判斷所述待檢測芯片是否處于過壓狀態(tài)或欠壓狀態(tài)。

7.根據(jù)權利要求1所述的過欠壓檢測電路，其特征在于，所述待檢測芯片包括電源芯片。