[發明專利]延時模型的構建方法及裝置、電子設備及存儲介質有效
| 申請號: | 202011442829.9 | 申請日: | 2020-12-08 |
| 公開(公告)號: | CN112596869B | 公開(公告)日: | 2023-05-26 |
| 發明(設計)人: | 王斌;陳俊;鄢傳欽;張劍峰 | 申請(專利權)人: | 成都海光微電子技術有限公司 |
| 主分類號: | G06F9/48 | 分類號: | G06F9/48 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人: | 王麗 |
| 地址: | 610216 四川省成都市中國(四*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 延時 模型 構建 方法 裝置 電子設備 存儲 介質 | ||
1.一種用于芯片的延時模型的構建方法,包括:
獲取測試單元在運行環境中針對至少一個操作過程獲取反饋信號時的多個延時信息,其中,所述運行環境包括測試單元和多個執行單元,所述測試單元配置為向至少一個執行單元發送第一激勵信號,并接收所述至少一個執行單元響應于所述第一激勵信號反饋的第二激勵信號作為所述反饋信號;以及
基于獲取的所述多個延時信息建立所述測試單元的延時模型,
其中,所述測試單元和所述執行單元分別為所述芯片中的子模塊。
2.根據權利要求1所述的延時模型的構建方法,其中,所述運行環境包括第一運行環境和第二運行環境,所述第二運行環境中包括的執行單元的數量少于所述第一運行環境中包括的執行單元的數量,
獲取所述測試單元在所述運行環境中針對所述至少一個操作過程獲取反饋信號時的所述多個延時信息,包括:
獲取所述測試單元在所述第一運行環境中針對一個或多個操作過程獲取反饋信號時的多個第一延時信息,其中,所述多個延時信息包括所述多個第一延時信息;以及
獲取所述測試單元在所述第二運行環境中針對一個或多個操作過程獲取反饋信號時的多個第二延時信息,其中,所述多個延時信息包括所述多個第二延時信息。
3.根據權利要求2所述的延時模型的構建方法,其中,所述第一運行環境包括系統級芯片,所述第二運行環境包括知識產權核。
4.根據權利要求1-3任一所述的延時模型的構建方法,其中,所述多個延時信息中的每個延時信息包括從所述測試單元發送所述第一激勵信號開始直至所述測試單元接收所述第二激勵信號為止的延遲時間。
5.根據權利要求4所述的延時模型的構建方法,其中,基于獲取的所述多個延時信息建立所述測試單元的延時模型,包括:
基于獲取的所述多個延時信息,建立延時分布圖,其中,所述延時分布圖用于表示所述多個延時信息中的不同延遲時間的發生次數;以及
對所述延時分布圖進行擬合處理生成延時模擬函數,其中,所述延時模型包括所述延時模擬函數。
6.根據權利要求5所述的延時模型的構建方法,其中,所述至少一個操作過程包括多個操作過程,所述多個操作過程包括至少一個功能類型,
基于獲取的所述多個延時信息,建立所述延時分布圖,包括:
根據所述至少一個功能類型,對獲取的所述多個延時信息進行分組處理,得到與所述至少一個功能類型對應的至少一個延時信息組,其中,每個延時信息組包括對應于一個功能類型的全部操作過程的延時信息;以及
基于所述每個延時信息組分別建立所述延時分布圖。
7.根據權利要求6所述的延時模型的構建方法,其中,基于所述每個延時信息組分別建立所述延時分布圖,包括:
針對所述每個延時信息組,根據該延時信息組中的每個延時信息對應的反饋信號在一個操作過程中的獲取順序,將該延時信息組中包括的延時信息劃分為至少一個時間組,并基于每個時間組分別建立所述延時分布圖。
8.根據權利要求7所述的延時模型的構建方法,其中,所述至少一個操作過程包括目標操作過程,所述多個延時信息包括所述測試單元在所述運行環境中針對所述目標操作過程獲取反饋信號時的多個目標操作過程延時信息,
所述延時模型的構建方法還包括:
基于所述多個目標操作過程延時信息,優化所述延時模型。
9.根據權利要求8所述的延時模型的構建方法,其中,基于所述多個目標操作過程延時信息,優化所述延時模型,包括:
基于所述延時模型,確定所述測試單元在測試環境中針對所述目標操作過程獲取反饋信號時的多個測試延時信息,其中,所述反饋信號為響應于所述測試單元發出的激勵信號隨機產生的虛擬信號;
將所述多個測試延時信息分別與所述多個目標操作過程延時信息進行比較,以確定所述多個測試延時信息與所述多個目標操作過程延時信息之間的差值是否在參考值范圍內;以及
響應于所述差值超過所述參考值范圍,調整所述延時分布圖。
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