[發明專利]識別移動終端射頻校準數據是否正常的方法和裝置

在審

• 申請號: 202011442690.8
• 申請日: 2020-12-08
• 公開（公告）號: CN112579341A
• 公開（公告）日: 2021-03-30
• 發明（設計）人: 陳錦
• 申請（專利權）人: 上海立可芯半導體科技有限公司
• 主分類號: G06F11/10
• 分類號: G06F11/10;H04B17/11;H04B17/21
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 駱希聰

本發明提供了一種識別移動終端射頻校準數據是否正常的方法和裝置。該方法包括以下步驟：在經過射頻校準的移動終端中，使用射頻校準數據、校準標志位及序列號生成第一校驗碼，并存儲所述第一校驗碼；響應于檢查校準數據指令，讀取移動終端的射頻校準數據、校準標志位及序列號生成第二校驗碼；以及比較所述第一校驗碼與第二校驗碼，如果校驗碼一致則判斷射頻校準數據正常，如果校驗碼不一致則判斷射頻校準數據不正常。

技術領域

本發明主要涉及移動終端射頻校準，尤其涉及一種識別移動終端射頻校準數據是否正常的方法和裝置。

背景技術

校準是移動終端極其重要的步驟，它直接影響到移動終端的射頻性能。現有移動終端產線射頻校準識別技術是通過射頻校準標志位識別移動終端射頻校準是否正常。產線上的射頻校準站位在對移動終端完成射頻校準后，對移動終端中指定的非易失性隨機訪問存儲器(Nonvolatile Random Access Memory,NVRAM)寫入一個射頻校準標志位。射頻校準成功標志位寫入P，射頻校準失敗標志位寫入F，射頻未校準標志位為U(在射頻校準站位前已經對該NV初始化為U)。移動終端出廠前對NVRAM中射頻校準標志位檢查，確認射頻校準數據是否正常。

上述現有移動終端產線射頻校準識別技術存在一些缺點。首先，即使產線操作員將非本移動終端的射頻校準數據導入已經成功射頻校準的本終端，并覆蓋本終端的射頻校準數據，本終端的射頻校準標志位仍然是P。產線僅通過射頻校準標志位無法識別出移動終端的射頻校準數據被篡改過。而因為移動終端射頻器件的差異性，本終端無法使用非本終端的射頻校準數據。其次，在產線射頻校準站位后，即使在移動終端軟件版本升級過程中異常操作對射頻校準數據進行了篡改，射頻校準標志位狀態仍然是P。現有技術僅通過校準標志位無法識別出射頻校準數據已經被篡改。再者，移動終端完成射頻校準站位后，如果在后續站位測試中誤寫站位，將射頻校準標志位篡改，則產線操作員會通過射頻校準標志位誤判射頻校準數據不正常。

發明內容

本發明要解決的技術問題是提供一種識別移動終端射頻校準數據是否正常的方法和裝置，以移動終端射頻校準的準確率。

為解決上述技術問題，本發明提供了一種識別移動終端射頻校準數據是否正常的方法，包括以下步驟：在經過射頻校準的移動終端中，使用射頻校準數據、校準標志位及序列號生成第一校驗碼，并存儲所述第一校驗碼；響應于檢查校準數據指令，讀取移動終端的射頻校準數據、校準標志位及序列號生成第二校驗碼；以及比較所述第一校驗碼與第二校驗碼，如果校驗碼一致則判斷射頻校準數據正常，如果校驗碼不一致則判斷射頻校準數據不正常。

在本發明的一實施例中，上述方法還包括在所述移動終端接收寫入的所述序列號。

在本發明的一實施例中，使用射頻校準數據、校準標志位及序列號生成第一校驗碼的方法包括加密處理。

在本發明的一實施例中，上述方法還包括顯示射頻校準數據是否正常的識別結果。

在本發明的一實施例中，所述方法在所述移動終端中執行。

本發明還提出一種識別移動終端射頻校準數據是否正常的裝置，包括：生成模塊，用于生成校驗碼；輸入模塊，用于接收檢查校準數據指令；控制模塊，用于在射頻校準后控制所述生成模塊使用射頻校準數據、校準標志位及序列號生成第一校驗碼，且響應于檢查校準數據指令，控制所述生成模塊讀取移動終端的射頻校準數據、校準標志位及序列號并生成第二校驗碼；存儲模塊，用于存儲所述第一校驗碼；以及判斷模塊，用于比較所述第一校驗碼與第二校驗碼，如果校驗碼一致則判斷射頻校準數據正常，如果校驗碼不一致則判斷射頻校準數據不正常。

在本發明的一實施例中，所述生成模塊包括加密模塊，用于以加密方式生成所述第一校驗碼和第二校驗碼。

在本發明的一實施例中，上述的裝置還包括輸出模塊，用于輸出射頻校準數據是否正常的識別結果。