[發(fā)明專利]一種測試探針卡

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011440158.2
• 申請(qǐng)日: 2020-12-11
• 公開（公告）號(hào): CN112557878A
• 公開（公告）日: 2021-03-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 鐘志宏;張衛(wèi)勇;謝禹東
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 蘇州光和精密測試有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28;G01R1/073;G01R1/04
• 代理公司: 無錫市匯誠永信專利代理事務(wù)所(普通合伙) 32260
• 代理人: 豐葉

1.一種測試探針卡，包括基板(1)，其特征在于：所述基板(1)上設(shè)置有測試通槽(2)、主板(3)和多根測試?yán)|線(16)，所述主板(3)和測試?yán)|線(16)分別設(shè)置于基板(1)兩側(cè)，所述測試通槽(2)位于主板(3)一側(cè)，所述主板(3)上設(shè)置有多個(gè)通過焊線(15)連接的探針焊孔(4)和金屬觸片(5)，所述測試?yán)|線(16)一端與探針焊孔(4)連接，所述基板(1)上滑動(dòng)設(shè)置有引導(dǎo)板(6)，所述金屬觸片(5)與探針(7)一端接觸，所述探針(7)另一端與引導(dǎo)板(6)接觸，所述引導(dǎo)板(6)上設(shè)置有多個(gè)引腳(8)，所述引腳(8)位于測試通槽(2)內(nèi)并能與待測電子元器件接觸。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測試探針卡，其特征在于：所述主板(3)和引導(dǎo)板(6)的數(shù)量均為兩個(gè)，所述引導(dǎo)板(6)位于測試通槽(2)與主板(3)之間，所述基板(1)上設(shè)置有兩個(gè)滑槽，所述引導(dǎo)板(6)與滑槽滑動(dòng)連接且兩個(gè)引導(dǎo)板(6)之間能做相互靠近/遠(yuǎn)離的水平運(yùn)動(dòng)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測試探針卡，其特征在于：所述基板(1)上設(shè)置有多個(gè)安裝槽(9)和連接板(10)，所述安裝槽(9)和連接板(10)數(shù)量相等且一一對(duì)應(yīng)，所述連接板(10)一端與基板(1)固定連接，另一端上設(shè)置有橡膠氣囊(11)并能通過橡膠氣囊(11)與安裝槽(9)活動(dòng)連接，所述安裝槽(9)包括相連通的多個(gè)限位槽，每兩個(gè)所述限位槽之間設(shè)置有擋板(91)，所述橡膠氣囊(11)與限位槽的尺寸相匹配，所述基板(1)與連接板(10)之間具有一定間距并形成放置區(qū)域，多根所述測試?yán)|線(16)均穿過放置區(qū)域。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種測試探針卡，其特征在于：所述橡膠氣囊(11)的底部呈弧形結(jié)構(gòu)且頂部呈平行結(jié)構(gòu)，所述橡膠氣囊(11)的頂部通過支撐塊(12)與連接板(10)固定連接。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測試探針卡，其特征在于：所述主板(3)包括電源層(31)、一號(hào)信號(hào)層(32)、地層(33)與二號(hào)信號(hào)層(34)，所述一號(hào)信號(hào)層(32)固定安裝在電源層(31)的上端外表面，所述地層(33)固定安裝在電源層(31)的下端外表面，所述二號(hào)信號(hào)層(34)固定安裝在地層(33)的下端外表面。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測試探針卡，其特征在于：所述基板(1)上設(shè)置有多個(gè)安裝孔(13)且安裝孔(13)內(nèi)設(shè)置有螺紋。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測試探針卡，其特征在于：所述引導(dǎo)板(6)包括第一引導(dǎo)板(61)和第二引導(dǎo)板(62)，所述第一引導(dǎo)板(61)和第二引導(dǎo)板(62)之間通過支撐部和連接針進(jìn)行連接，所述第一引導(dǎo)板(61)和第二引導(dǎo)板(62)上分別設(shè)置有第一插入通道和第二插入通道，所述探針(7)一端穿過第一插入通道并位于第一引導(dǎo)板(61)和第二引導(dǎo)板(62)之間，所述引腳(8)一端穿過第二插入通道與探針(7)接觸。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種測試探針卡，其特征在于：所述第一引導(dǎo)板(61)和第二引導(dǎo)板(62)之間設(shè)置有連接限位件(14)，所述連接限位件(14)呈凸字形且底部與第二引導(dǎo)板(62)連接，所述連接限位件(14)具有限位通孔且探針(7)與引腳(8)的接觸部位于限位通孔內(nèi)。