[發(fā)明專利]檢測(cè)圖像缺陷的方法、系統(tǒng)、電子設(shè)備及介質(zhì)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011435861.4 | 申請(qǐng)日: | 2020-12-10 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112598627A | 公開(公告)日: | 2021-04-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 郭羽鵬;薛靜;劉建;許漢荊;王云 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 廣東省大灣區(qū)集成電路與系統(tǒng)應(yīng)用研究院 |
| 主分類號(hào): | G06T7/00 | 分類號(hào): | G06T7/00;G06K9/62 |
| 代理公司: | 北京辰權(quán)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11619 | 代理人: | 劉廣達(dá) |
| 地址: | 510535 廣東省廣*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 檢測(cè) 圖像 缺陷 方法 系統(tǒng) 電子設(shè)備 介質(zhì) | ||
1.一種檢測(cè)圖像缺陷的方法,其特征在于,包括:
獲取待檢測(cè)圖像以及模板圖像,所述待檢測(cè)圖像中包含待檢測(cè)物體,所述模板圖像中包含所述待檢測(cè)物體對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)圖像;
將所述待檢測(cè)圖像與所述模板圖像進(jìn)行圖像融合,得到待檢測(cè)融合圖像;
將所述待檢測(cè)融合圖像輸入至預(yù)設(shè)的圖像檢測(cè)網(wǎng)絡(luò)模型,得到圖像檢測(cè)結(jié)果;
基于所述圖像檢測(cè)結(jié)果,確定所述待檢測(cè)圖像是否存在缺陷。
2.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述將所述待檢測(cè)圖像與所述模板圖像進(jìn)行圖像融合,得到待檢測(cè)融合圖像,包括:
定位所述待檢測(cè)物體在所述待檢測(cè)圖像中的第一坐標(biāo)區(qū)域,以及所述標(biāo)準(zhǔn)圖像在所述模板圖像中的第二坐標(biāo)區(qū)域;
將所述第一坐標(biāo)區(qū)域?qū)?yīng)的圖像與所述第二坐標(biāo)區(qū)域?qū)?yīng)的圖像進(jìn)行圖像融合,得到所述待檢測(cè)融合圖像。
3.如權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述圖像檢測(cè)結(jié)果,確定所述待檢測(cè)圖像是否存在缺陷,包括:
獲取所述圖像檢測(cè)結(jié)果,所述圖像檢測(cè)結(jié)果中包括所述待檢測(cè)圖像對(duì)應(yīng)的類別、置信度、橫坐標(biāo),縱坐標(biāo)、寬高信息的至少一種;
基于所述圖像檢測(cè)結(jié)果,確定所述待檢測(cè)圖像的置信度值;
確定所述置信度值大于預(yù)設(shè)閾值的待檢測(cè)圖像是否存在缺陷。
4.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述獲取待檢測(cè)圖像以及模板圖像之前,還包括:
獲取第一數(shù)量的樣本缺陷圖像以及樣本合格圖像,所述樣本缺陷圖像包含目標(biāo)物體的缺陷圖像,所述樣本合格圖像包含所述目標(biāo)物體的合格圖像;
基于所述樣本缺陷圖像以及所述樣本合格圖像,生成所述圖像檢測(cè)網(wǎng)絡(luò)模型。
5.如權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于,所述基于所述樣本缺陷圖像以及所述樣本合格圖像,生成所述圖像檢測(cè)網(wǎng)絡(luò)模型,包括:
定位所述樣本缺陷圖像中的目標(biāo)物體所在的第三坐標(biāo)區(qū)域,以及所述樣本合格圖像中的目標(biāo)物體所在的第四坐標(biāo)區(qū)域;
將所述第三坐標(biāo)區(qū)域?qū)?yīng)的第一樣本圖像與所述第四坐標(biāo)區(qū)域?qū)?yīng)的第二樣本圖像進(jìn)行圖像融合,得到樣本融合圖像。
6.如權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,所述將所述第三坐標(biāo)區(qū)域?qū)?yīng)的第一樣本圖像與所述第四坐標(biāo)區(qū)域?qū)?yīng)的第二樣本圖像進(jìn)行圖像融合,得到所述樣本融合圖像,包括:
將所述第一樣本圖像進(jìn)行灰度轉(zhuǎn)換,得到第一灰度圖像,以及,將所述第二樣本圖像進(jìn)行灰度轉(zhuǎn)換,得到第二灰度圖像;
利用圖像融合技術(shù),采用所述第一灰度圖像的G通道,以及,所述第二灰度圖像的R通道和B通道,拼接得到所述樣本融合圖像。
7.如權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,所述得到所述樣本融合圖像之后,還包括:
利用所述第二數(shù)量的樣本融合圖像對(duì)空白的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型進(jìn)行訓(xùn)練,得到滿足預(yù)設(shè)條件的所述圖像檢測(cè)網(wǎng)絡(luò)模型。
8.一種檢測(cè)圖像缺陷的裝置,其特征在于,包括:
獲取模塊,被配置為獲取待檢測(cè)圖像以及模板圖像,所述待檢測(cè)圖像中包含待檢測(cè)物體,所述模板圖像中包含所述待檢測(cè)物體對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)圖像;
融合模塊,被配置為將所述待檢測(cè)圖像與所述模板圖像進(jìn)行圖像融合,得到待檢測(cè)融合圖像;
生成模塊,被配置為將所述待檢測(cè)融合圖像輸入至預(yù)設(shè)的圖像檢測(cè)網(wǎng)絡(luò)模型,得到圖像檢測(cè)結(jié)果;
確定模塊,被配置為基于所述圖像檢測(cè)結(jié)果,確定所述待檢測(cè)圖像是否存在缺陷。
9.一種電子設(shè)備,其特征在于,包括:
存儲(chǔ)器,用于存儲(chǔ)可執(zhí)行指令;以及,
處理器,用于與所述存儲(chǔ)器顯示以執(zhí)行所述可執(zhí)行指令從而完成權(quán)利要求1-7中任一項(xiàng)所述檢測(cè)圖像缺陷的方法的操作。
10.一種電子設(shè)備,其特征在于,包括:
存儲(chǔ)器,用于存儲(chǔ)可執(zhí)行指令;以及,
處理器,用于與所述存儲(chǔ)器顯示以執(zhí)行所述可執(zhí)行指令從而完成權(quán)利要求1-7中任一項(xiàng)所述檢測(cè)圖像缺陷的方法的操作。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于廣東省大灣區(qū)集成電路與系統(tǒng)應(yīng)用研究院,未經(jīng)廣東省大灣區(qū)集成電路與系統(tǒng)應(yīng)用研究院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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