[發(fā)明專利]傳感器光路組件、氣體傳感器及測量方法和空調(diào)系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011431324.2 | 申請日: | 2020-12-07 |
| 公開(公告)號: | CN112649389B | 公開(公告)日: | 2022-03-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 羨浩博;苗岑岑 | 申請(專利權(quán))人: | 珠海格力電器股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/3504 | 分類號: | G01N21/3504;G01N21/01;F24F11/89 |
| 代理公司: | 北京煦潤律師事務(wù)所 11522 | 代理人: | 朱櫟;梁永芳 |
| 地址: | 519070*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 傳感器 組件 氣體 測量方法 空調(diào) 系統(tǒng) | ||
本申請?zhí)峁┮环N傳感器光路組件、氣體傳感器及測量方法和空調(diào)系統(tǒng)。該傳感器光路組件包括固定座和滑塊,所述滑塊和所述固定座上均設(shè)有反光面,兩個(gè)所述反光面平行且傾斜設(shè)置;所述滑塊能相對所述固定座沿所述平行的方向移動(dòng);光源和探測器,所述光源發(fā)出的光線經(jīng)兩個(gè)所述反光面反射后到達(dá)所述探測器;所述光源設(shè)在所述固定座上,所述探測器設(shè)在所述滑塊上;或所述光源設(shè)在所述滑塊上,所述探測器設(shè)在所述固定座上。通過滑塊的移動(dòng),能改變光線的反射次數(shù),從而是得光路的傳播路徑長度可變。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請屬于空調(diào)系統(tǒng)技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種傳感器光路組件、氣體傳感器及測量方法和空調(diào)系統(tǒng)。
背景技術(shù)
隨著人們生活水平的提高,對所處環(huán)境中空氣質(zhì)量的關(guān)注度也不斷提高,為了滿足對空氣質(zhì)量的監(jiān)測,環(huán)境類傳感器如空氣質(zhì)量傳感器(CO2、PM2.5)等市場需求越來越大。二氧化碳濃度是衡量空氣質(zhì)量的重要指標(biāo)之一,市面上已經(jīng)存在各式各樣用于檢測二氧化碳濃度的傳感器,基于非分光紅外(NDIR)技術(shù)的二氧化碳傳感器憑借穩(wěn)定性好,精度高等特點(diǎn)成為普遍選擇。
現(xiàn)有NDIR二氧化碳傳感器氣室的光路長度固定,不能較好的適應(yīng)不同濃度下的數(shù)值測量。
發(fā)明內(nèi)容
因此,本申請要解決的技術(shù)問題在于提供一種傳感器光路組件、氣體傳感器及測量方法和空調(diào)系統(tǒng),能夠調(diào)整光路的長度。
為了解決上述問題,本申請?zhí)峁┮环N傳感器光路組件,包括:
固定座和滑塊,所述滑塊和所述固定座上均設(shè)有反光面,兩個(gè)所述反光面平行且傾斜設(shè)置;所述滑塊能相對所述固定座沿所述平行的方向移動(dòng);
光源和探測器,所述光源發(fā)出的光線經(jīng)兩個(gè)所述反光面反射后到達(dá)所述探測器;所述光源設(shè)在所述固定座上,所述探測器設(shè)在所述滑塊上;或所述光源設(shè)在所述滑塊上,所述探測器設(shè)在所述固定座上。
可選地,所述傳感器光路組件還包括有固定在所述固定座上的驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu),用于驅(qū)動(dòng)所述滑塊。
可選地,所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)包括有電機(jī)和螺桿,所述電機(jī)驅(qū)動(dòng)所述螺桿旋轉(zhuǎn);所述滑塊上設(shè)有與所述螺桿嚙合的齒條。
可選地,所述傳感器光路組件還包括有滑軌,所述滑軌固定在所述固定座上;所述滑塊沿所述滑軌滑動(dòng)。
根據(jù)本申請的另一方面,提供了一種氣體傳感器,包括如上所述的傳感器光路組件。
根據(jù)本申請的再一方面,提供了一種如上所述氣體傳感器的測量方法,包括:
調(diào)整所述滑塊移動(dòng),使得所述光線的光程包括:第一光程和第二光程,所述第一光程大于所述第二光程;
所述第一光程用于測量第一濃度的氣體,所述第二光程用于測量第二濃度的氣體,所述第一濃度的數(shù)值小于所述第二濃度的數(shù)值。
可選地,所述測量方法包括:
所述第一光程下測量,獲得氣體濃度為所述第二濃度時(shí),調(diào)整所述滑塊移動(dòng)到所述第二光程,再次測量;或,
所述第二光程下測量,獲得氣體濃度為所述第一濃度時(shí),調(diào)整所述滑塊移動(dòng)到所述第一光程,再次測量。
可選地,所述滑塊移動(dòng)的位置包括最大光程位置、最小光程位置和中間光程位置;所述中間光程位置位于所述最大光程位置和所述最小光程位置之間的中點(diǎn)處;
設(shè)定測量氣體的濃度范圍為:低濃度A為LbALt、中濃度B為MbBMt、高濃度C為HbCHt;其中,LbMbLtHbMtHt;
在所述最大光程位置測量,獲得的濃度值處于Mb和Lt之間時(shí),調(diào)整所述滑塊移動(dòng)至所述中間光程位置,再次測量;
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
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