[發明專利]一種基于遺忘因子的配電網參數校驗方法及裝置

在審

• 申請號: 202011427570.0
• 申請日: 2020-12-09
• 公開（公告）號: CN112632456A
• 公開（公告）日: 2021-04-09
• 發明（設計）人: 張華;龍呈;胡思洋;高藝文;李波;廖凱;李世龍;蘇學能;楊勇波
• 申請（專利權）人: 國網四川省電力公司電力科學研究院
• 主分類號: G06F17/12
• 分類號: G06F17/12;G06F17/16;H02J3/00
• 代理公司: 成都行之專利代理事務所(普通合伙) 51220
• 代理人: 張超

1.一種基于遺忘因子的配電網參數校驗方法，其特征在于，包括：

獲取配電網參數校驗指令，所述配電網參數校驗指令攜帶待校驗參數以及待校驗低壓配電網中各節點n次測量的節點電壓值和負荷電流值；

對n次測量的所述節點電壓值和所述負荷電流值進行矩陣轉換，得到輸入參數矩陣、待估計參數矩陣和輸出參數矩陣；

基于所述輸入參數矩陣、所述待估計參數矩陣和所述輸出參數矩陣，獲取目標方程；

通過所述目標方程對所述節點電壓值和所述負荷電流值進行計算，得到阻抗計算值；

基于所述阻抗計算值對所述待校驗參數進行校驗，獲取校驗結果。

2.根據權利要求1所述的基于遺忘因子的配電網參數校驗方法，其特征在于，所述對n次測量的所述節點電壓值和所述負荷電流值進行矩陣轉換，得到輸入參數矩陣、待估計參數矩陣和輸出參數矩陣，包括：

根據基爾霍夫電壓定律和基爾霍夫電流定律將n次測量的所述節點電壓值和所述負荷電流值建立n個方程，形成方程組；

將所述方程組轉換為對應的輸入參數矩陣、待估計參數矩陣和輸出參數矩陣。

3.根據權利要求1所述的基于遺忘因子的配電網參數校驗方法，其特征在于，所述基于所述輸入參數矩陣、所述待估計參數矩陣和所述輸出參數矩陣，獲取目標方程，包括：

基于所述輸入參數矩陣、所述待估計參數矩陣和所述輸出參數矩陣，獲取狀態估計方程；

根據最小二乘法啟動條件啟動最小二乘法模型；

將所述狀態估計方程的輸入參數矩陣作為所述最小二乘法模型的輸入參數矩陣輸入到所述最小二乘法模型中，得到目標估計方程。

4.根據權利要求3所述的基于遺忘因子的配電網參數校驗方法，其特征在于，所述最小二乘法模型具體為：其中，k表示時間序列，P(k)表示第k個待估計參數矩陣的誤差協方差矩陣，λ表示遺忘因子表示第k個輸入參數矩陣。

5.根據權利要求3所述的基于遺忘因子的配電網參數校驗方法，其特征在于，所述狀態估計方程具體為：其中，表示輸入參數矩陣，θ表示待估計參數矩陣，y表示輸出參數矩陣。

6.根據權利要求1所述的基于遺忘因子的配電網參數校驗方法，其特征在于，所述基于所述阻抗計算值對所述待校驗參數進行校驗，獲取校驗結果，包括：

當所述待校驗參數為待校驗阻抗時，則比較所述阻抗計算值是否與所述待校驗阻抗一致，若一致，則校驗結果為校驗通過，若不一致，則校驗結果為校驗不一致；

當所述待校驗參數為待校驗線路長度時，則將所述阻抗計算值轉換為電網線路長度計算值，并比較所述電網線路長度計算值是否與所述待校驗線路長度一致，若一致，則校驗結果為校驗通過，若不一致，則校驗結果為校驗不一致。

7.根據權利要求1所述的基于遺忘因子的配電網參數校驗方法，其特征在于，所述基于所述阻抗計算值對所述待校驗參數進行校驗，獲取校驗結果，還包括：

當所述待校驗參數包括待校驗阻抗和待校驗線路長度時，則將所述阻抗計算值轉換為電網線路長度計算值，并比較所述阻抗計算值是否與所述待校驗阻抗一致，所述電網線路長度計算值是否與所述待校驗線路長度一致；

若所述阻抗計算值與所述待校驗阻抗一致，且所述電網線路長度計算值與所述待校驗線路長度一致，則校驗結果為校驗通過；

若所述阻抗計算值與所述待校驗阻抗不一致，或所述電網線路長度計算值與所述待校驗線路長度不一致，則校驗結果為校驗不通過。

8.根據權利要求6或7所述的基于遺忘因子的配電網參數校驗方法，其特征在于，所述將所述阻抗計算值轉換為電網線路長度計算值，包括：

通過電網線路長度計算公式，將所述阻抗計算值轉換為電網線路長度計算值；所述電網線路長度計算公式具體為：其中，Z表示阻抗計算值，Z₀表示單位阻抗，L表示電網線路長度計算值。