[發明專利]一種高世代玻璃基板微波紋度的在線測量方法

在審

• 申請號: 202011427500.5
• 申請日: 2020-12-09
• 公開（公告）號: CN112326692A
• 公開（公告）日: 2021-02-05
• 發明（設計）人: 朱永遷;張沖;侯建偉;曹志強;權立振;朱猛
• 申請（專利權）人: 蚌埠中光電科技有限公司
• 主分類號: G01N21/958
• 分類號: G01N21/958;G01N21/01;G01N1/28
• 代理公司: 安徽省蚌埠博源專利商標事務所(普通合伙) 34113
• 代理人: 陳俊

本發明公開一種高世代玻璃基板微波紋度的在線測量方法，包括以下步驟：a、沿玻璃基板的浮法流向，將玻璃基板分隔標記成一組取樣矩形塊，取樣矩形塊按照矩形陣列分布；b、每個取樣矩形塊的中心線作為取樣線，取樣線與浮法流向垂直；c、采用光學微波紋度檢查機對玻璃基板所有的取樣線進行掃描，每個取樣線的微波紋度代表對應取樣矩形塊的微波紋度；d、計算所有取樣矩形塊微波紋度的平均值，該平均值作為玻璃基板的微波紋度平均值；所有取樣矩形塊中的最大微波紋度，作為玻璃基板的最大微波紋度；所有取樣矩形塊中的最小微波紋度，作為玻璃基板的最小微波紋度；該方法能夠在線、且無損地對玻璃基板的微波紋度進行全面測量，測量效率高，準確度高。

技術領域

本發明涉及玻璃基板檢測技術領域，具體是一種高世代玻璃基板微波紋度的在線測量方法。

背景技術

浮法工藝生產的玻璃基板垂直于浮法方向存在微波紋，玻璃制造過程需檢測微波紋度以分級，玻璃面加工后需檢測微波紋度以驗證面加工質量。現有手段一般垂直于浮法玻璃流向取一條玻璃帶用于抽測微波紋度和粗糙度。使用探針儀掃描取樣玻璃帶中線得到垂直與浮法流向一條線的微波紋度數值。因探針儀掃描的長度局限，掃描前通常根據探針儀的掃描長度把玻璃帶切割成一組樣品，樣品1、樣品2、樣品3等。

現有的微波紋度檢測手段存在如下的局限性：

1、抽測樣本量數量少。只能抽測某一個時間點或某個點的檢測數據，不能如實反應整板玻璃的微波紋度。

2、抽測樣本長度小。抽測時使用探針掃描法檢測微波紋度，測試樣本不大于50cmx50cm，掃描長度≤20cm，只能測量1小段的平面度，不可知整板的微波紋度。

3、抽測過程需要對玻璃做破壞性實驗，導致不能過多抽檢玻璃。

4、抽測使用探針掃描法檢測微波紋度，測試時間長，等到測試結果出來，可能已經產生很多不良品。

發明內容

本發明的目的在于提供一種高世代玻璃基板微波紋度的在線測量方法，該方法能夠在線、且無損地對玻璃基板的微波紋度進行全面測量，測量效率高，準確度高。

本發明解決其技術問題所采用的技術方案是：

一種高世代玻璃基板微波紋度的在線測量方法，包括以下步驟：

a、沿玻璃基板的浮法流向，將玻璃基板分隔標記成一組取樣矩形塊，取樣矩形塊按照矩形陣列分布；

b、每個取樣矩形塊的中心線作為取樣線，取樣線與浮法流向垂直；

c、采用光學微波紋度檢查機對玻璃基板所有的取樣線進行掃描，每個取樣線的微波紋度代表對應取樣矩形塊的微波紋度；

d、計算所有取樣矩形塊微波紋度的平均值，該平均值作為玻璃基板的微波紋度平均值；所有取樣矩形塊中的最大微波紋度，作為玻璃基板的最大微波紋度；所有取樣矩形塊中的最小微波紋度，作為玻璃基板的最小微波紋度。

進一步的，每個取樣線采用取樣線的中點坐標進行定義。

本發明的有益效果是，舍棄傳統的對玻璃基板進行切割破壞的方法，將玻璃基板標記分隔成一組取樣矩形塊，然后對每個取樣矩形塊采用光學微波紋度檢查機進行測量，測量的樣本極大地提高，能夠全面地對玻璃基板的微波紋度進行測量，且為無損非接觸式測量，提高測量的精度和準確性，并且效率高。

附圖說明

下面結合附圖和實施例對本發明進一步說明：

圖1是本發明的示意圖。

具體實施方式

如圖1所示，本發明提供一種高世代玻璃基板微波紋度的在線測量方法，包括以下步驟：