[發明專利]一種基于誤差估計的集成電路的電磁響應確定方法及系統有效
| 申請號: | 202011425196.0 | 申請日: | 2020-12-09 |
| 公開(公告)號: | CN112232002B | 公開(公告)日: | 2021-03-16 |
| 發明(設計)人: | 唐章宏;鄒軍;汲亞飛;王芬;黃承清 | 申請(專利權)人: | 北京智芯仿真科技有限公司 |
| 主分類號: | G06F30/33 | 分類號: | G06F30/33 |
| 代理公司: | 深圳市行一知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 44453 | 代理人: | 楊賢 |
| 地址: | 100000 北京市海淀區信*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 誤差 估計 集成電路 電磁 響應 確定 方法 系統 | ||
1.一種基于誤差估計的集成電路的電磁響應確定方法,其特征在于,包括:
根據集成電路的電磁響應仿真頻段范圍確定多個均勻分布的初始頻率點;所述頻段范圍為用戶預先設定的集成電路電磁響應仿真的頻段范圍;
利用粗顆粒并行方法計算初始頻率點的電磁響應,以第一采樣間隔及第二采樣間隔分別對電磁響應進行采樣,確定第一電磁響應序列以及第二電磁響應序列;所述第一采樣間隔為第二采樣間隔的
對所述第一電磁響應序列以及第二電磁響應序列進行插值處理,確定第一三次樣條插值曲線以及第二三次樣條插值曲線;
獲取仿真曲線最大允許誤差,并根據所述第一三次樣條插值曲線和所述第二三次樣條插值曲線確定第三三次樣條插值曲線的采樣步長,使得第三三次樣條插值曲線的最大誤差估計小于所述仿真曲線最大允許誤差;
根據所述第三三次樣條插值曲線的采樣步長確定所述初始頻率點之間新插入的頻率點;
利用粗顆粒并行方法計算所有新插入的頻率點的電磁響應,對所有頻率點的電磁響應進行三次樣條插值確定最終的集成電路電磁響應曲線。
2.根據權利要求1所述的基于誤差估計的集成電路的電磁響應確定方法,其特征在于,所述獲取仿真曲線最大允許誤差,并根據所述第一三次樣條插值曲線和所述第二三次樣條插值曲線確定第三三次樣條插值曲線的采樣步長,使得第三三次樣條插值曲線的最大誤差估計小于所述仿真曲線最大允許誤差,具體包括:
根據公式確定第三三次樣條插值曲線的采樣步長;其中,,N為仿真頻段范圍的最終采樣點個數;為向上取整;
3.根據權利要求2所述的基于誤差估計的集成電路的電磁響應確定方法,其特征在于,所述三次樣條插值曲線的最大誤差估計為:
式中為相鄰離散頻點的最大間距,在
根據所述第一三次樣條插值曲線和所述第二三次樣條插值曲線確定第三三次樣條插值曲線的采樣步長,使得所述第三三次樣條插值曲線的最大誤差估計小于所述仿真曲線最大允許誤差;所述采樣步長滿足;所述仿真曲線最大允許誤差為:;其中,
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