[發明專利]基于圖像分析的數據輸出方法、裝置、介質和計算設備

有效

• 申請號: 202011422905.X
• 申請日: 2020-12-08
• 公開（公告）號: CN112287951B
• 公開（公告）日: 2021-04-06
• 發明（設計）人: 曾凡;易銳;李靜;邰海軍;柯欽瑜;黃勇
• 申請（專利權）人: 萱闈（北京）生物科技有限公司;鄭州大學第一附屬醫院
• 主分類號: G06K9/46
• 分類號: G06K9/46;G06K9/34
• 代理公司: 北京箴思知識產權代理有限公司 11913
• 代理人: 李春暉

1.一種基于圖像分析的數據輸出方法，包括：

獲取待處理圖像中的特征點坐標數組；

按照預設方式對所述特征點坐標數組進行分析，得到所述特征點坐標數組對應的待輸出數據，其中，至少包含一種數據類型的待輸出數據；

通過所述待輸出數據的數據類型對應的輸出方式輸出所述待輸出數據；

其中，獲取待處理圖像中的特征點坐標數組，包括：

對待處理圖像進行預處理，得到所述待處理圖像對應的結果圖像；

通過特征提取算法對所述結果圖像進行處理，得到所述結果圖像對應的特征點坐標數組；

其中，所述按照預設方式對所述特征點坐標數組進行分析，得到所述特征點坐標數組對應的待輸出數據，包括：

按照預設方式對所述結果圖像進行分割，得到所述結果圖像對應的多個子矩陣；

從所述特征點坐標數組中獲取各個所述子矩陣對應的特征點坐標子數組；

對多個所述特征點坐標子數組進行計算，得到各個所述子矩陣對應的特征點中心點，并將各個所述特征點中心點插入與其對應的子矩陣特征點數組隊列；

分別對各個所述子矩陣特征點數組隊列進行擬合，得到各個所述子矩陣特征點數組隊列的擬合數據；

將所述特征點坐標數組、多個所述特征點坐標子數組、多個所述特征點中心點以及多個所述擬合數據確定為所述特征點坐標數組對應的待輸出數據，其中，所述特征點坐標數組為特征點數組類型的待輸出數據，所述特征點坐標子數組為特征點子數組類型的待輸出數據，所述特征點中心點為中心點類型的待輸出數據，所述擬合數據為擬合類型的待輸出數據。

2.根據權利要求1所述的基于圖像分析的數據輸出方法，所述按照預設方式對所述結果圖像進行分割，得到所述結果圖像對應的多個子矩陣，包括：

將所述結果圖像轉換為張量矩陣，并獲取所述張量矩陣的矩陣寬和矩陣高；

基于所述矩陣寬、所述矩陣高以及預設方式將所述張量矩陣進行分割，得到所述張量矩陣對應的多個子矩陣。

3.根據權利要求1或2所述的基于圖像分析的數據輸出方法，分別對各個所述子矩陣特征點數組隊列進行擬合，得到各個所述子矩陣特征點數組隊列的擬合數據，包括：

通過二階擬合方程分別對各個所述子矩陣特征點數組隊列進行擬合，得到各個所述子矩陣特征點數組隊列的擬合方程；

將各個所述擬合方程插入與其對應的擬合隊列，所述擬合隊列與所述子矩陣特征點數組隊列一一對應；

從所述子矩陣特征點數組隊列中獲取特征點均值向量，并且從所述擬合隊列中獲取擬合向量，以及根據所述特征點均值向量和所述擬合向量計算得到均值向量L2范數和擬合向量L2范數；

將多個所述擬合方程、所述均值向量L2范數以及所述擬合向量L2范數確定為擬合數據。

4.根據權利要求3所述的基于圖像分析的數據輸出方法，從所述子矩陣特征點數組隊列中獲取特征點均值向量，并且從所述擬合隊列中獲取擬合向量，以及根據所述特征點均值向量和所述擬合向量計算得到均值向量L2范數和擬合向量L2范數，包括：

從所述子矩陣特征點數組隊列中獲取特征點均值向量，并將所述特征點均值向量存儲至第一臨時向量；

從所述擬合隊列中獲取擬合向量，并將所述擬合向量存儲至第二臨時向量；

根據預設范數計算公式對所述第一臨時向量和所述第二臨時向量進行計算，得到均值向量L2范數和擬合向量L2范數。