[發(fā)明專利]曲面激光測(cè)厚方法、裝置、鐵軌汽車及存儲(chǔ)介質(zhì)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011415735.2 | 申請(qǐng)日: | 2020-12-04 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112697053A | 公開(公告)日: | 2021-04-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 程清思;吳華偉;劉禎;杜聰聰;萬銳;吳紅靜 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 湖北文理學(xué)院 |
| 主分類號(hào): | G01B11/06 | 分類號(hào): | G01B11/06 |
| 代理公司: | 深圳市世紀(jì)恒程知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 44287 | 代理人: | 胡海國(guó) |
| 地址: | 441053 湖北省襄*** | 國(guó)省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 曲面 激光 方法 裝置 鐵軌 汽車 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
本發(fā)明公開了一種曲面激光測(cè)厚方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),所述方法包括:通過獲取相互平行的第一參考水平直線與第一參考水平直線;根據(jù)所述第一參考水平直線與所述不規(guī)則被測(cè)物一側(cè)上各個(gè)采集點(diǎn)的距離,得到所述不規(guī)則被測(cè)物一側(cè)上各個(gè)采集點(diǎn)的擬合點(diǎn)坐標(biāo);對(duì)所述不規(guī)則被測(cè)物一側(cè)上各個(gè)采集點(diǎn)的擬合點(diǎn)坐標(biāo)進(jìn)行擬合,得到第一擬合曲線;根據(jù)所述第一擬合曲線得到所述不規(guī)則被測(cè)物一側(cè)上各個(gè)采集點(diǎn)的第一法線向量;同理得到第二法線向量;根據(jù)所述第一法線向量和第二法線向量得到法向厚度,從而通過建立坐標(biāo)系,得到不規(guī)則被測(cè)物的各個(gè)面形成的擬合曲線,并根據(jù)擬合曲線得到法線向量,實(shí)現(xiàn)任一點(diǎn)任意方向的厚度計(jì)算,擴(kuò)大測(cè)量對(duì)象的范圍。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及激光測(cè)厚技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種曲面激光測(cè)厚方法、裝置、鐵軌汽車及存儲(chǔ)介質(zhì)。
背景技術(shù)
對(duì)于板狀結(jié)構(gòu)以及具有規(guī)則曲面的物體來說,現(xiàn)有的激光測(cè)厚方法能夠便捷精確的測(cè)量其厚度。但對(duì)于表面不規(guī)則的物體,尤其對(duì)于一些原本是規(guī)則的表面,但經(jīng)過侵蝕而不規(guī)則的物體來說,現(xiàn)有的激光測(cè)厚方法無法獲取某點(diǎn)的法向厚度。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于提出一種曲面激光測(cè)厚方法、裝置、鐵軌汽車及存儲(chǔ)介質(zhì),旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中無法對(duì)不規(guī)則的物體進(jìn)行激光測(cè)厚的技術(shù)問題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供一種曲面激光測(cè)厚方法,所述曲面激光測(cè)厚方法包括以下步驟:
獲取相互平行的第一參考水平直線與第二參考水平直線,其中,所述第一參考水平直線相對(duì)于不規(guī)則被測(cè)物一側(cè),所述第二參考水平直線相對(duì)于所述不規(guī)則被測(cè)物另一側(cè);
根據(jù)所述第一參考水平直線與所述不規(guī)則被測(cè)物一側(cè)上各個(gè)采集點(diǎn)的距離,得到所述不規(guī)則被測(cè)物一側(cè)上各個(gè)采集點(diǎn)的擬合點(diǎn)坐標(biāo);
對(duì)所述不規(guī)則被測(cè)物一側(cè)上各個(gè)采集點(diǎn)的擬合點(diǎn)坐標(biāo)進(jìn)行擬合,得到第一擬合曲線;
根據(jù)所述第一擬合曲線得到所述不規(guī)則被測(cè)物一側(cè)上各個(gè)采集點(diǎn)的第一法線向量;
根據(jù)所述第二參考水平直線與所述不規(guī)則被測(cè)物另一側(cè)上各個(gè)采集點(diǎn)的距離,得到所述不規(guī)則被測(cè)物另一側(cè)上各個(gè)采集點(diǎn)的擬合點(diǎn)坐標(biāo);
對(duì)所述不規(guī)則被測(cè)物另一側(cè)上各個(gè)采集點(diǎn)的擬合點(diǎn)坐標(biāo)進(jìn)行擬合,得到第二擬合曲線;
根據(jù)所述第二擬合曲線得到所述不規(guī)則被測(cè)物另一側(cè)上各個(gè)采集點(diǎn)的第二法線向量;
根據(jù)所述第一法線向量和第二法線向量得到所述不規(guī)則被測(cè)物上各個(gè)采集點(diǎn)的法向厚度。
可選地,所述根據(jù)所述第一參考水平直線與所述不規(guī)則被測(cè)物一側(cè)上各個(gè)采集點(diǎn)的距離,得到所述不規(guī)則被測(cè)物一側(cè)上各個(gè)采集點(diǎn)的擬合點(diǎn)坐標(biāo)之前,還包括:
從所述不規(guī)則被測(cè)物一側(cè)上選取一點(diǎn)作為第一基準(zhǔn)點(diǎn);
建立平面坐標(biāo)系,根據(jù)所述平面坐標(biāo)系以及第一參考水平直線確定所述第一基準(zhǔn)點(diǎn)的坐標(biāo);
所述根據(jù)所述第一參考水平直線與所述不規(guī)則被測(cè)物一側(cè)上各個(gè)采集點(diǎn)的距離,得到所述不規(guī)則被測(cè)物一側(cè)上各個(gè)采集點(diǎn)的擬合點(diǎn)坐標(biāo),包括:
根據(jù)所述第一參考水平直線與所述不規(guī)則被測(cè)物一側(cè)上各個(gè)采集點(diǎn)的距離、所述平面坐標(biāo)系以及所述第一基準(zhǔn)點(diǎn)的坐標(biāo),得到所述不規(guī)則被測(cè)物一側(cè)上各個(gè)采集點(diǎn)的擬合點(diǎn)坐標(biāo)。
可選地,所述對(duì)所述不規(guī)則被測(cè)物一側(cè)上各個(gè)采集點(diǎn)的擬合點(diǎn)坐標(biāo)進(jìn)行擬合,得到第一擬合曲線,包括:
根據(jù)所述不規(guī)則被測(cè)物一側(cè)上各個(gè)采集點(diǎn)的擬合點(diǎn)坐標(biāo)得到多組控制點(diǎn)坐標(biāo);
獲取所述不規(guī)則被測(cè)物一側(cè)上各個(gè)采集點(diǎn)的擬合點(diǎn)坐標(biāo)對(duì)應(yīng)的權(quán)因子以及預(yù)設(shè)B樣條基函數(shù);
根據(jù)所述多組控制點(diǎn)坐標(biāo)、權(quán)因子以及預(yù)設(shè)B樣條基函數(shù)進(jìn)行擬合,得到第一擬合曲線。
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