[發(fā)明專利]一種用于多目標(biāo)數(shù)字圖像檢測的專用標(biāo)定尺及方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011415383.0 | 申請日: | 2020-12-07 |
| 公開(公告)號: | CN112378313A | 公開(公告)日: | 2021-02-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 彭波;張全旭;陳衛(wèi)紅;龍保佳;李得睿;晏班夫 | 申請(專利權(quán))人: | 北京智博聯(lián)科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01B5/02 | 分類號: | G01B5/02;G01B11/02 |
| 代理公司: | 北京融智邦達(dá)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11885 | 代理人: | 吳強 |
| 地址: | 100088 北京市西城區(qū)德*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 多目標(biāo) 數(shù)字圖像 檢測 專用 標(biāo)定 方法 | ||
1.一種用于多目標(biāo)數(shù)字圖像檢測的專用標(biāo)定尺,其特征在于:所述專用標(biāo)定尺包括水平尺和與所述水平尺垂直的豎直尺,所述水平尺、豎直尺形成的平面設(shè)為標(biāo)定平面,所述水平尺和豎直尺的中線分別代表標(biāo)定平面的X軸和Y軸,所述專用標(biāo)定尺上還設(shè)置有用于將其放置在某一表面的底座,所述水平尺和豎直尺固定在所述底座上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的專用標(biāo)定尺,其特征在于,所述專用標(biāo)定尺的水平尺和豎直尺上設(shè)有易于辨識的單位刻度格,通過讀取刻度格數(shù)量得到水平線和垂直線上的刻度值。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的專用標(biāo)定尺,其特征在于,所述易于辨識的單位刻度格為相鄰刻度格使用顏色對比明顯的相同單位的刻度格。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的專用標(biāo)定尺,其特征在于,所述底座上設(shè)置有用于調(diào)節(jié)水平尺水平的地腳螺釘以及水平氣泡。
5.一種使用權(quán)利要求1至4中任一項所述專用標(biāo)定尺的多目標(biāo)數(shù)字圖像檢測方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟1:將專用標(biāo)定尺分別放置在測試對象的目標(biāo)點上表面對各目標(biāo)點進(jìn)行單獨標(biāo)定,所述專用標(biāo)定尺所形成的標(biāo)定平面為各目標(biāo)點所在平面,使用圖像采集儀采集各目標(biāo)點單獨標(biāo)定時的初始圖像并進(jìn)行分析,得到與各目標(biāo)點相對應(yīng)的標(biāo)定參數(shù);
步驟2:按照預(yù)先設(shè)定的時間間隔采集測試對象的圖像,使用數(shù)字圖像相關(guān)方法對測試對象的圖像進(jìn)行分析計算,得到各目標(biāo)點所在平面內(nèi)的像素位移,根據(jù)標(biāo)定參數(shù)計算得到各目標(biāo)點的實際位移。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的檢測方法,其特征在于,步驟1中對各目標(biāo)點單獨標(biāo)定的方法是:使用圖像采集儀采集放置有專用標(biāo)定尺的目標(biāo)點初始圖像,利用目標(biāo)點標(biāo)定圖像中專用標(biāo)定尺的某一段水平線、某一段豎直線以及由該兩條線組成的直角三角形的斜邊的已知長度對目標(biāo)點所在平面進(jìn)行標(biāo)定,并記錄與目標(biāo)點相對應(yīng)的標(biāo)定參數(shù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的檢測方法,其特征在于,所述圖像采集儀采集圖像時,其光軸不垂直于測試對象與所述圖像采集儀相對的外表面。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的檢測方法,其特征在于,圖像采集儀的光軸與測試對象的外表面的夾角為30到45度。
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