[發明專利]用于測試隨機數產生器中的錯誤注入參數的方法、裝置、存儲介質及設備

有效

• 申請號: 202011412436.3
• 申請日: 2020-12-04
• 公開（公告）號: CN112558923B
• 公開（公告）日: 2023-07-04
• 發明（設計）人: 華剛;王永寶
• 申請（專利權）人: 航天信息股份有限公司
• 主分類號: G06F7/58
• 分類號: G06F7/58;G06F11/22
• 代理公司: 北京英創嘉友知識產權代理事務所(普通合伙) 11447
• 代理人: 曾堯

本公開涉及一種用于測試隨機數產生器中的錯誤注入參數的方法、裝置、存儲介質及設備，屬于芯片檢測領域，該方法包括：多次將三維檢測空間中的多個采樣點的參數值作為錯誤注入的參數生成隨機數，得到多個多維數組；從該多個多維數組中選取兩組多維數組進行相關性計算，得到相關性數組，該相關性數組中任一元素的值表征針對該元素對應的采樣點兩次生成的隨機數之間的相關性大小；在該相關性數組中存在目標點簇的情況下，確定該隨機數產生器存在有效的錯誤注入參數，該目標點簇的存在表征該相關性數組中具有多個相鄰的且值均大于第一相關性閾值的元素；在該相關性數組中不存在該目標點簇的情況下，則確定該隨機數產生器不存在有效的錯誤注入參數。

技術領域

本公開涉及芯片檢測領域，具體地，涉及一種用于測試隨機數產生器中的錯誤注入參數的方法、裝置、存儲介質及設備。

背景技術

隨機數產生器是整個安全體系中非常重要的安全模塊，其在進行錯誤注入的時候，除非產生的結果的錯誤性非常明顯，比如固定為全1，否則那種帶某種偏差地降低了隨機性的結果則難以發現。

然而相關技術中，需要確定性的知道結果數據錯了，而由于隨機數產生器輸出的結果的隨機性，難以判斷是否出錯，所以現有的錯誤注入檢測手段并不適用于對隨機數模塊的抗錯誤注入攻擊檢測的全面檢測上。

發明內容

為解決相關技術中存在的問題，本公開提供一種用于測試隨機數產生器中的錯誤注入參數的方法、裝置、存儲介質及設備。

本公開第一方面提供一種用于測試隨機數產生器中的錯誤注入參數的方法，所述方法包括：

多次將三維檢測空間中的多個采樣點的參數值作為錯誤注入的參數生成隨機數，得到多個多維數組，所述三維檢測空間是根據所述隨機數產生器的寬度、所述隨機數產生器的長度、所述隨機數產生器能接受的最高電磁注入強度建立的，所述多個采樣點屬于所述三維檢測空間中預先標定的采樣點；

從所述多個多維數組中選取兩組多維數組進行相關性計算，得到相關性數組，所述相關性數組中任一元素的值表征針對該元素對應的采樣點兩次生成的隨機數之間的相關性大小；

在所述相關性數組中存在目標點簇的情況下，確定所述隨機數產生器存在有效的錯誤注入參數，所述目標點簇的存在表征所述相關性數組中具有多個相鄰的且值均大于第一相關性閾值的元素；

在所述相關性數組中不存在所述目標點簇的情況下，確定所述隨機數產生器不存在有效的錯誤注入參數。

可選地，所述多次將所述多個采樣點對應的參數值作為錯誤注入的參數生成隨機數，得到多個多維數組包括：

在所述多個采樣點中選取多個目標采樣點，并多次將所述多個目標采樣點對應的參數值作為錯誤注入的參數生成隨機數，得到所述多個多維數組。

所述方法還包括：

在所述相關性數組中不存在所述目標點簇的情況下，返回在所述在所述多個采樣點中選取多個目標采樣點的步驟；

在所述多個采樣點均被選取為所述目標采樣點，得到的對應的所述相關性數組中仍不存在所述目標點簇的情況下，確定所述隨機數產生器不存在有效的錯誤注入參數。

可選地，所述在所述多個采樣點中選取多個目標采樣點包括：

標定選擇窗口，所述選擇窗口的寬度小于所述隨機數產生器的寬度，長度小于隨機數產生器的長度，高度小于所述隨機數產生器能接受的最高電磁注入強度，且所述選擇窗口的寬度、長度、高度均大于零；

將所述選擇窗口置入所述檢測空間內，選取處于所述選擇窗口內的采樣點作為所述目標檢測點。

可選地，所述返回所述在所述多個采樣點中選取多個目標采樣點的步驟包括：