[發明專利]圖像重合度校驗方法、電子設備及計算機可讀存儲介質在審
| 申請號: | 202011410168.1 | 申請日: | 2020-12-03 |
| 公開(公告)號: | CN112464953A | 公開(公告)日: | 2021-03-09 |
| 發明(設計)人: | 崔英林 | 申請(專利權)人: | 上海連尚網絡科技有限公司 |
| 主分類號: | G06K9/46 | 分類號: | G06K9/46;G06K9/62;G06K9/32 |
| 代理公司: | 北京鴻德海業知識產權代理有限公司 11412 | 代理人: | 田宏賓 |
| 地址: | 200120 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 圖像 合度 校驗 方法 電子設備 計算機 可讀 存儲 介質 | ||
1.一種圖像重合度校驗方法,其特征在于,包括:
獲取第一圖像中邊界線之間的交點,得到至少一個待識別交點;
獲取所述至少一個待識別交點的交點屬性信息,所述至少一個待識別交點中每一個待識別交點的交點屬性信息包括:經過所述每一個待識別交點的相交邊界線的數量、經過所述每一個待識別交點的相交邊界線中每一條相交邊界線的偏斜角度、以及所述每一個待識別交點與所述每一條相交邊界線上最近一個交點之間的距離;
獲取第二圖像中至少一個參考交點的交點屬性信息;
基于所述至少一個待識別交點的交點屬性信息與所述至少一個參考交點的交點屬性信息,確定所述第一圖像與所述第二圖像之間的重合度。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述獲取第一圖像中邊界線之間的交點之前,還包括:
對接收到的圖像進行銳化,得到所述第一圖像;或者,
依次對接收到的圖像進行銳化、黑白化,得到所述第一圖像;或者,
依次對接收到的圖像進行黑白化、銳化,得到所述第一圖像。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述獲取第一圖像中邊界線之間的交點之前,還包括:
獲取所述第一圖像中邊界線的矩形邊界區;
基于預設尺寸、以及所述矩形邊界區的長度和高度,對所述第一圖像中邊界線沿預設平面坐標系中的兩個坐標軸方向等比例縮放。
4.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述獲取第一圖像中邊界線之間的交點,包括:
從所述第一圖像中選取長度最長的一條邊界線、以及與所述長度最長的一條邊界線相交的邊界線,并獲取所述長度最長的一條邊界線上的交點、以及與所述長度最長的一條邊界線相交的邊界線上的交點;或者,
按照長度從大到小的順序,從所述第一圖像中選取至少一條邊界線,并獲取所述至少一條邊界線上的交點;或者,
獲取所述第一圖像中所有邊界線之間的交點。
5.根據權利要求1~4任一權利要求所述的方法,其特征在于,所述獲取所述至少一個待識別交點的交點屬性信息,包括:
獲取所述至少一個待識別交點的交點數量;
分別針對所述每一個待識別交點,獲取經過所述每一個待識別交點的相交邊界線的數量;基于預設平面坐標系,獲取所述每一條相交邊界線按照預定旋轉方向與所述預設平面坐標系中其中一個預定坐標軸方向的偏斜角度;獲取所述每一個待識別交點與所述每一條相交邊界線上最近一個交點之間的直線距離;
分別針對所述每一條相交邊界線,獲取由經過所述每一個待識別交點的邊界線的數量、所述偏斜角度和所述直線距離組成的三元組;
基于經過所述每一個待識別交點的所有相交邊界線對應的三元組構建得到所述每一個待識別交點的第一屬性矩陣,所述每一個待識別交點的交點屬性信息具體為所述每一個待識別交點的第一屬性矩陣;
獲取所述至少一個待識別交點的第一屬性矩陣的集合,得到第一屬性矩陣集合,所述至少一個待識別交點的交點屬性信息具體為所述第一屬性矩陣集合。
6.根據權利要求5所述的方法,其特征在于,還包括:
以其中一條所述相交邊界線對應的三元組中元素值為基準,對所述第一屬性矩陣集合中其他三元組中的對應元素值進行比例轉換。
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