[發明專利]一種針對頁巖氣資源量的誤差校正方法及相關裝置

有效

• 申請號: 202011402347.0
• 申請日: 2020-12-04
• 公開（公告）號: CN112529384B
• 公開（公告）日: 2023-06-06
• 發明（設計）人: 王東升;張金川;李振;牛嘉亮;仝忠正
• 申請（專利權）人: 中國地質大學（北京）
• 主分類號: G06Q10/0639
• 分類號: G06Q10/0639;G06Q50/06;G06F17/11
• 代理公司: 石家莊國為知識產權事務所 13120
• 代理人: 付曉娣

1.一種針對頁巖氣資源量的誤差校正方法，所述頁巖氣資源量為基于一個以上頁巖氣資源評價參數和預設的頁巖氣資源評價公式計算得到的值，其特征在于，所述誤差校正方法包括：

基于所述一個以上頁巖氣資源評價參數、所述頁巖氣資源評價公式和微分法，確定所述頁巖氣資源量的系統誤差；

基于所述一個以上頁巖氣資源評價參數、所述頁巖氣資源評價公式和標準差法，確定所述頁巖氣資源量的偶然誤差；

基于所述系統誤差和所述偶然誤差，對所述頁巖氣資源量進行校正；

其中，所述基于所述一個以上頁巖氣資源評價參數、頁巖氣資源評價公式和微分法，確定所述頁巖氣資源量的系統誤差包括：

基于所述一個以上頁巖氣資源評價參數、所述頁巖氣資源評價公式和式(1)，計算所述系統誤差；

所述式(1)具體為：

其中，Q為所述頁巖氣資源評價公式，x₁、x₂…x_n分別為所述一個以上頁巖氣資源評價參數，Δy_系統為所述系統誤差；

其中，所述基于所述一個以上頁巖氣資源評價參數、頁巖氣資源評價公式和標準差法，確定所述頁巖氣資源量的偶然誤差包括：

獲取所述一個以上頁巖氣資源評價參數中各所述頁巖氣資源評價參數在預設測量精度和預設測量次數時的標準差；

基于所述一個以上頁巖氣資源評價參數、所述頁巖氣資源評價公式、所述一個以上頁巖氣資源評價參數分別對應的所述標準差和式(2)，計算所述偶然誤差；

所述式(2)具體為：

其中，Q為所述頁巖氣資源評價公式，x₁、x₂…x_n分別為所述一個以上頁巖氣資源評價參數，為所述一個以上頁巖氣資源評價參數分別對應的所述標準差，Δy_偶然為所述偶然誤差。

2.根據權利要求1所述的誤差校正方法，其特征在于，所述基于所述系統誤差和所述偶然誤差，對所述頁巖氣資源量進行校正包括：

基于所述系統誤差、所述偶然誤差、所述頁巖氣資源量和式(3)，計算所述頁巖氣資源量的校正值，之后將所述頁巖氣資源量更新為所述校正值；

所述式(3)具體為：

其中，A_校正值為所述校正值，A_資源量為所述頁巖氣資源量，Δy_系統為所述系統誤差，Δy_偶然為所述偶然誤差。

3.一種針對頁巖氣資源量的誤差校正裝置，所述頁巖氣資源量為基于一個以上頁巖氣資源評價參數和預設的頁巖氣資源評價公式計算得到的值，其特征在于，所述誤差校正裝置包括：

第一誤差確定單元，用于基于所述一個以上頁巖氣資源評價參數、所述頁巖氣資源評價公式和微分法，確定所述頁巖氣資源量的系統誤差；

第二誤差確定單元，用于基于所述一個以上頁巖氣資源評價參數、所述頁巖氣資源評價公式和標準差法，確定所述頁巖氣資源量的偶然誤差；

校正單元，用于基于所述系統誤差和所述偶然誤差，對所述頁巖氣資源量進行校正；

其中，所述第一誤差確定單元具體用于：

基于所述一個以上頁巖氣資源評價參數、所述頁巖氣資源評價公式和式(1)，計算所述系統誤差；

所述式(1)具體為：

其中，Q為所述頁巖氣資源評價公式，x₁、x₂…x_n分別為所述一個以上頁巖氣資源評價參數，Δy_系統為所述系統誤差；

其中，所述第二誤差確定單元具體用于：

獲取所述一個以上頁巖氣資源評價參數中各所述頁巖氣資源評價參數在預設測量精度和預設測量次數時的標準差；

基于所述一個以上頁巖氣資源評價參數、所述頁巖氣資源評價公式、所述一個以上頁巖氣資源評價參數分別對應的所述標準差和式(2)，計算所述偶然誤差；

所述式(2)具體為：

其中，Q為所述頁巖氣資源評價公式，x₁、x₂…x_n分別為所述一個以上頁巖氣資源評價參數，為所述一個以上頁巖氣資源評價參數分別對應的所述標準差，Δy_偶然為所述偶然誤差。