[發明專利]一種基于堿金屬電子極化率的堿金屬密度測量方法有效
| 申請號： | 202011401826.0 | 申請日： | 2020-12-04 |
| 公開（公告）號： | CN112504912B | 公開（公告）日： | 2021-10-12 |
| 發明（設計）人： | 翟躍陽;徐子童;魏凱;韓邦成;劉穎 | 申請（專利權）人： | 北京航空航天大學 |
| 主分類號： | G01N9/00 | 分類號： | G01N9/00 |
| 代理公司： | 北京海虹嘉誠知識產權代理有限公司 11129 | 代理人： | 吳小燦;朱亞娜 |
| 地址： | 100191*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 堿金屬 電子 極化 密度 測量方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種基于堿金屬電子極化率的堿金屬密度測量方法，其特征在于，包括通過以下堿金屬電子極化率與堿金屬電子產生的有效磁場的關系式計算原子自旋慣性測量裝置氣室中的堿金屬密度ne：
式中κ0是自旋交換增強因子，μ0是真空下的磁導率，μe是堿金屬原子磁矩。
2.根據權利要求1所述的基于堿金屬電子極化率的堿金屬密度測量方法，其特征在于，采用原子自旋慣性測量裝置進行測量得到所述
3.根據權利要求1所述的基于堿金屬電子極化率的堿金屬密度測量方法，其特征在于，所述通過以下公式獲得：式中為磁場補償點的磁場，為惰性氣體核子產生的有效磁場。
4.根據權利要求3所述的基于堿金屬電子極化率的堿金屬密度測量方法，其特征在于，采用原子自旋慣性測量裝置進行測量得到所述
5.根據權利要求3所述的基于堿金屬電子極化率的堿金屬密度測量方法，其特征在于，采用原子自旋慣性測量裝置進行測量得到所述
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