[發(fā)明專利]一種證件圖像缺陷檢測方法及裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011399734.3 | 申請日: | 2020-12-02 |
| 公開(公告)號(hào): | CN114581359A | 公開(公告)日: | 2022-06-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張志達(dá);劉洋;蔡書成;龔晨;張果斌;唐燕飛;蔡勝國 | 申請(專利權(quán))人: | 航天信息股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06T7/00 | 分類號(hào): | G06T7/00;G06V20/62;G06V10/30;G06V10/40;G06V10/80;G06V10/774;G06V10/75;G06K9/62 |
| 代理公司: | 北京同達(dá)信恒知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11291 | 代理人: | 盧志娟 |
| 地址: | 100195 北京市*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 證件 圖像 缺陷 檢測 方法 裝置 | ||
本申請涉及圖像處理技術(shù)領(lǐng)域,提供一種證件圖像缺陷檢測方法及裝置。在多種光源下從至少一個(gè)角度采集證件圖像;按照缺陷類型,并采用與所述缺陷類型相匹配方法檢測所述證件圖像的缺陷狀態(tài),從而提高證件圖像缺陷檢測的準(zhǔn)確率。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請涉及圖像處理技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種證件圖像缺陷檢測方法及裝置。
背景技術(shù)
目前,一般由質(zhì)檢人員對證件進(jìn)行缺陷檢測,對于細(xì)小的缺陷需要將證件放置在不同的角度下仔細(xì)觀察才能發(fā)現(xiàn),檢測效率較低,隨著工作時(shí)間的增加容易疲勞,導(dǎo)致準(zhǔn)確率較低。而傳統(tǒng)的視覺方法只能識(shí)別固定的幾類缺陷,對于缺陷位置不固定、缺陷大小和顏色斑點(diǎn)以及覆膜劃痕等缺陷無法準(zhǔn)確識(shí)別。
發(fā)明內(nèi)容
本申請實(shí)施例提供一種證件圖像缺陷檢測方法及裝置,用以提高證件圖像缺陷檢測的準(zhǔn)確率。
第一方面,本申請實(shí)施例提供一種證件圖像缺陷檢測方法,包括:
在多種光源下從至少一個(gè)角度采集證件圖像;
按照缺陷類型,并采用與缺陷類型相匹配方法檢測證件圖像的缺陷狀態(tài)。
本申請的上述實(shí)施例在多種光源下從至少一個(gè)角度采集證件圖像,并按照缺陷類型采用與缺陷類型相匹配的方法檢測證件圖像的缺陷,可以提高證件檢測的準(zhǔn)確率,且各缺陷類型對應(yīng)的檢測方法互不影響,可并行運(yùn)行,提高了缺陷檢測效率。
本申請的一些實(shí)施例中,缺陷類型包括防偽缺陷,采用與缺陷類型相匹配方法檢測證件圖像的缺陷狀態(tài),包括:
確定在第一光源下采集的證件圖像的防偽區(qū)域圖像;
若證件圖像的防偽區(qū)域圖像與第一光源對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)防偽圖像不一致,則確定證件圖像存在防偽缺陷。
本申請的上述實(shí)施例將采集的證件圖像的防偽區(qū)域圖像與相應(yīng)光源下的標(biāo)準(zhǔn)防偽圖像比較,根據(jù)比較結(jié)果確定證件圖像是否存在防偽缺陷,實(shí)現(xiàn)證件圖像的防偽檢測。
本申請的一些實(shí)施例中,第一光源包括紫外線UV光源,確定在第一光源下采集的證件圖像的防偽區(qū)域圖像;若證件圖像的防偽區(qū)域圖像與第一光源對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)防偽圖像不一致,則確定證件圖像存在防偽缺陷,包括:
確定UV光源下至少一個(gè)角度采集的證件圖像的UV防偽區(qū)域圖像;若證件圖像的UV防偽區(qū)域圖像與標(biāo)準(zhǔn)UV防偽圖像不一致,則確定UV光源下采集的證件圖像存在UV防偽缺陷;和/或
第一光源包括紅外線IR光源,確定在第一光源下采集的證件圖像的防偽區(qū)域圖像;若證件圖像的防偽區(qū)域圖像與第一光源對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)防偽圖像不一致,則確定證件圖像存在防偽缺陷,包括:
確定IR光源下從指定方向采集的證件圖像的IR防偽區(qū)域圖像;若證件圖像的IR防偽區(qū)域圖像與標(biāo)準(zhǔn)IR防偽圖像不一致,則確定IR光源下采集的證件圖像存在IR防偽缺陷。
本申請的上述實(shí)施例當(dāng)光源包括UV光源時(shí),將UV光源下從至少一個(gè)角度采集證件圖像與UV光源下的標(biāo)準(zhǔn)的UV防偽圖像進(jìn)行比較分析,根據(jù)比較分析結(jié)果檢測采集的證件圖像是否存在UV防偽缺陷;當(dāng)光源包括IR光源時(shí),將IR光源下從至少一個(gè)角度采集證件圖像與IR光源下的標(biāo)準(zhǔn)的IR防偽圖像進(jìn)行比較分析,根據(jù)比較分析結(jié)果檢測采集的證件圖像是否存在IR防偽缺陷,從而實(shí)現(xiàn)對證件圖像的防偽檢測。
本申請的一些實(shí)施例中,缺陷類型包括刻蝕缺陷,光源包括普通光源;
采用與缺陷類型相匹配方法檢測證件圖像的缺陷狀態(tài),包括:
截取普通光源下從至少一個(gè)角度采集的證件圖像的刻蝕區(qū)域圖像;
若從每個(gè)角度對應(yīng)的刻蝕區(qū)域圖像中提取的刻蝕信息與標(biāo)準(zhǔn)激光圖像的刻蝕信息不一致,則確定普通光源下采集的證件圖像存在刻蝕缺陷。
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