[發(fā)明專利]電磁兼容注入電壓測(cè)試用植入電極通用連接結(jié)構(gòu)及裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011398439.6 | 申請(qǐng)日: | 2020-12-02 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112642056A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-04-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王偉明;李冰;李路明;吳峰;艾飛 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 清華大學(xué);北京品馳醫(yī)療設(shè)備有限公司 |
| 主分類號(hào): | A61N1/36 | 分類號(hào): | A61N1/36;G01R1/04;G01R31/00 |
| 代理公司: | 北京力致專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11900 | 代理人: | 陳博旸 |
| 地址: | 10008*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電磁 兼容 注入 電壓 測(cè)試 植入 電極 通用 連接 結(jié)構(gòu) 裝置 | ||
本發(fā)明提供一種電磁兼容注入電壓測(cè)試用植入電極通用連接結(jié)構(gòu)及裝置,其中植入電極通用連接結(jié)構(gòu)用于將植入電極電連接到植入式神經(jīng)刺激器電磁兼容測(cè)試的注入電壓測(cè)試裝置,由于不同規(guī)格的植入電極結(jié)構(gòu)不同、觸點(diǎn)間距也不同,本發(fā)明提供的連接結(jié)構(gòu)能夠根據(jù)不同規(guī)格的植入電極的電極觸點(diǎn)間距來(lái)調(diào)整導(dǎo)電端子在基座的安裝導(dǎo)向結(jié)構(gòu)中的位置,即根據(jù)植入電極的電極觸點(diǎn)間距來(lái)移動(dòng)導(dǎo)電端子并定位,從而使得導(dǎo)電端子間距與植入電極的電極觸點(diǎn)間距一致,實(shí)現(xiàn)了與不同規(guī)格的植入電極的通用性電連接,在注入電壓測(cè)試時(shí)針對(duì)不同規(guī)格的植入電極,無(wú)需另?yè)Q測(cè)試設(shè)備,降低了測(cè)試成本,提高了測(cè)試效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及植入式醫(yī)療儀器技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種電磁兼容注入電壓測(cè)試用植入電極通用連接結(jié)構(gòu)、具有該通用連接結(jié)構(gòu)的裝置,以及具有該裝置的用于植入式神經(jīng)刺激器電磁兼容測(cè)試的注入電壓測(cè)試裝置。
背景技術(shù)
對(duì)有源植入式神經(jīng)刺激器,要求進(jìn)行電磁干擾防護(hù)測(cè)試,尤其是對(duì)于頻率16.6Hz-80MHz電磁干擾防護(hù)的測(cè)試,考慮磁場(chǎng)和電場(chǎng)耦合對(duì)患者導(dǎo)線的影響,需要進(jìn)行整機(jī)測(cè)試(不僅包括刺激器本身,還包括延長(zhǎng)導(dǎo)線和電極等導(dǎo)線部分)。傳統(tǒng)方式采用人工測(cè)試,測(cè)試效率低、準(zhǔn)確率低。
為了解決測(cè)試效率低、準(zhǔn)確率低的問(wèn)題,中國(guó)專利文獻(xiàn)CN 209728070 U公開(kāi)了一種用于植入式神經(jīng)刺激器電磁兼容測(cè)試的注入電壓測(cè)試裝置,通過(guò)注入電壓測(cè)試電路板和測(cè)試工裝的配合實(shí)現(xiàn)對(duì)整機(jī)測(cè)試,然而該注入電壓測(cè)試裝置中只能針對(duì)一種規(guī)格的植入電極進(jìn)行測(cè)試,若要對(duì)多種規(guī)格植入電極測(cè)試則需要定制多套不同規(guī)格的注入電壓測(cè)試裝置,成本昂貴,且由于需要轉(zhuǎn)換設(shè)備進(jìn)行測(cè)試操作,測(cè)試效率也不高。
發(fā)明內(nèi)容
因此,本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題在于克服現(xiàn)有技術(shù)中用于植入式神經(jīng)刺激器電磁兼容測(cè)試的注入電壓測(cè)試裝置只能針對(duì)一種規(guī)格的植入電極進(jìn)行測(cè)試,測(cè)試效率低的缺陷,從而提供一種可以針對(duì)不同規(guī)格植入電極進(jìn)行測(cè)試的電磁兼容注入電壓測(cè)試用植入電極通用連接結(jié)構(gòu)及裝置。
第一方面,本發(fā)明提供一種電磁兼容注入電壓測(cè)試用植入電極通用連接結(jié)構(gòu),用于將植入電極電連接到植入式神經(jīng)刺激器電磁兼容測(cè)試的注入電壓測(cè)試裝置,該通用連接結(jié)構(gòu)包括:
基座,設(shè)有用于安裝不同規(guī)格植入電極的安裝導(dǎo)向結(jié)構(gòu);
若干導(dǎo)電端子,可移動(dòng)且間隔地設(shè)置于所述安裝導(dǎo)向結(jié)構(gòu)內(nèi),所述若干導(dǎo)電端子被配置為在所述植入電極安裝于所述安裝導(dǎo)向結(jié)構(gòu)時(shí)根據(jù)所述植入電極的電極觸點(diǎn)間距在所述安裝導(dǎo)向結(jié)構(gòu)中移動(dòng)定位,以與所述植入電極的若干電極觸點(diǎn)電連接。
可選地,所述基座呈板狀,所述安裝導(dǎo)向結(jié)構(gòu)為成型在板上表面的條形卡槽,用于安裝不同規(guī)格的植入電極;所述若干導(dǎo)電端子為可移動(dòng)地設(shè)置于所述條形卡槽中的若干金屬?gòu)椘鼋饘購(gòu)椘軌蚩ń铀鲋踩腚姌O的電極觸點(diǎn)并建立電連接。
可選地,還包括用于驅(qū)動(dòng)所述金屬?gòu)椘谒鰲l形卡槽中移動(dòng)位置的彈片移動(dòng)機(jī)構(gòu)。
可選地,所述彈片移動(dòng)機(jī)構(gòu)為連接于所述金屬?gòu)椘粋?cè)、方向與所述條形卡槽垂直的呈柱狀的彈片撥動(dòng)開(kāi)關(guān)。
可選地,還包括限位卡槽,用于將所述金屬?gòu)椘谒鰲l形卡槽內(nèi)移動(dòng)到指定的位置時(shí)進(jìn)行固定。
可選地,還包括連接多個(gè)所述彈片撥動(dòng)開(kāi)關(guān)的彈片連接結(jié)構(gòu),用于實(shí)現(xiàn)多個(gè)所述金屬?gòu)椘?lián)動(dòng)。
可選地,所述基座呈筒狀,所述安裝導(dǎo)向結(jié)構(gòu)為成型在筒內(nèi)壁上的軌道,用于安裝不同規(guī)格的方向電極;所述若干導(dǎo)電端子為可沿所述筒的內(nèi)壁軌道滑動(dòng)的若干金屬片,所述若干金屬片被配置為與插入所述筒內(nèi)的方向電極的若干電極觸點(diǎn)相貼合并建立電連接。
第二方面,本發(fā)明提供一種植入電極通用連接裝置,用于將植入電極電連接到植入式神經(jīng)刺激器電磁兼容測(cè)試的注入電壓測(cè)試裝置,該通用連接裝置包括:
第二接插端,包括連接注入電壓測(cè)試通道的若干連接觸點(diǎn);
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