[發明專利]一種集成電路測試多工位定位裝置

在審

• 申請號: 202011397235.0
• 申請日: 2020-12-03
• 公開（公告）號: CN112485479A
• 公開（公告）日: 2021-03-12
• 發明（設計）人: 厲紀成
• 申請（專利權）人: 瑞安市宏創科技有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R31/28
• 代理公司: 杭州高盟專利代理事務所(普通合伙) 33402
• 代理人: 單燕君

本發明公開了一種集成電路測試多工位定位裝置，包括有底板，所述底板頂部的左右兩側均固定連接有支撐板，其中一個所述支撐板的左側固定連接有連接板，所述連接板的頂部固定連接有電機，兩個所述支撐板相對一側的頂部和底部之間分別轉動連接有第一螺紋桿和第二螺紋桿，所述第一螺紋桿和第二螺紋桿的外表面均螺紋連接有螺紋套，兩個所述螺紋套相對的一側之間固定連接有安裝框，本發明通過電機、第一皮帶輪和第二皮帶輪之間的配合可以帶動第一螺紋桿和第二螺紋桿同時轉動，便可以帶動安裝框進行左右移動，方便實現對被測集成電路的安裝定位，提高了對集成電路的測試效率。

技術領域

本發明涉及集成電路技術領域，具體是一種集成電路測試多工位定位裝置。

背景技術

集成電路是一種微型電子器件或部件。采用一定的工藝，把一個電路中所需的晶體管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起，制作在一小塊或幾小塊半導體晶片或介質基片上，然后封裝在一個管殼內，成為具有所需電路功能的微型結構；其中所有元件在結構上已組成一個整體，使電子元件向著微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面邁進了一大步。它在電路中用字母“IC”表示。

集成電路的生產需要經過多項測試，測試的工作量比較大，需要每次都需要對集成電路設備進行定位方能進行測試，需要參與的人工工作量較大，效率也比較低下，且對于集成電路的拆卸也比較麻煩，為此本發明提供一種集成電路測試多工位定位裝置。

發明內容

本發明的目的在于提供一種集成電路測試多工位定位裝置，以解決上述背景技術中提出的問題。

為了解決上述技術問題，本發明提供了如下的技術方案：

本發明提供一種集成電路測試多工位定位裝置，包括有底板，所述底板頂部的左右兩側均固定連接有支撐板，其中一個所述支撐板的左側固定連接有連接板，所述連接板的頂部固定連接有電機，兩個所述支撐板相對一側的頂部和底部之間分別轉動連接有第一螺紋桿和第二螺紋桿，所述第一螺紋桿和第二螺紋桿的外表面均螺紋連接有螺紋套，兩個所述螺紋套相對的一側之間固定連接有安裝框。

作為本發明的一種優選技術方案：所述安裝框的左右兩側均固定連接有條形塊，兩個所述條形塊的正面均固定連接有固定塊，兩個所述固定塊相對的一側均固定連接有第一掛鉤塊，所述第一掛鉤塊的一側連接有掛鉤彈簧，所述掛鉤彈簧的一端連接有第二掛鉤塊，所述第二掛鉤塊的一側固定連接有夾板。

作為本發明的一種優選技術方案：所述安裝框的內壁頂端通過第一支塊固定連接有第一滑桿，所述第一滑桿的外表面滑動連接有第一滑塊，所述第一滑塊的底部與夾板的頂部固定連接，所述安裝框的內壁底端通過第二支塊固定連接有第二滑桿，所述第二滑桿的外表面滑動連接有第二滑塊，所述第二滑塊的頂部與夾板的底部固定連接，兩個所述夾板相對一側的底部均固定連接有放置塊。

作為本發明的一種優選技術方案：兩個所述第二滑塊的底部均固定連接有第一轉動塊，兩個所述第一轉動塊的內部均轉動連接有轉動桿，兩個所述轉動桿的底端均轉動連接有第二轉動塊，所述第二轉動塊的底部固定連接有活動桿。

作為本發明的一種優選技術方案：位于下方的所述螺紋套的正面固定連接有固定套，所述固定套的內表面與活動桿的外表面滑動連接，所述活動桿的外表面開設有限位孔，所述固定套的內部插設有限位柱，所述限位柱的外表面與限位孔的內表面卡接，所述活動桿的底端固定連接有把手。

作為本發明的一種優選技術方案：所述電機的輸出端固定連接有第一皮帶輪，所述第一皮帶輪的中心軸與第二螺紋桿的左端固定連接，所述第一螺紋桿的左端固定連接有第二皮帶輪，所述第二皮帶輪通過皮帶與第一皮帶輪傳動連接。

作為本發明的一種優選技術方案：所述底板頂部的左右兩側均固定連接有導向桿，兩個所述導向桿的外表面均滑動連接有滑動塊，兩個所述滑動塊相對的一側均固定連接有測試裝置，所述底板的頂部且位于測試裝置的正下方安裝有升降裝置。