[發明專利]電腦硬盤批量化檢測設備

有效

• 申請號: 202011396026.4
• 申請日: 2020-12-03
• 公開（公告）號: CN112722793B
• 公開（公告）日: 2022-03-15
• 發明（設計）人: 李宇杰;梁亨龍;宋安陽
• 申請（專利權）人: 武漢攀升鼎承科技有限公司;武漢科技大學
• 主分類號: B65G47/42
• 分類號: B65G47/42;B65G47/44;B65G47/82;B65G47/90;G06F11/22;G06F11/26
• 代理公司: 武漢卓越志誠知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 42266
• 代理人: 胡婷婷

本發明公開了一種電腦硬盤批量化檢測設備，包括底板、傳送帶組件、設置于所述傳送帶組件一側的第一推拉機構、設置于所述傳送帶組件另一側的第一回轉機構、設置于所述第一回轉機構沿傳送帶組件方向的第二回轉機構，所述第一回轉機構包括轉動連接的第一轉盤和第二轉盤、若干可沿回轉機構端面來回運動的運料機構、設置于所述回轉機構中間的第二推拉機構，所述第一回轉機構依次設置有輪廓檢測工位、磁頭檢測工位、荷力檢測工位、移料工位，所述第二回轉機構包括若干檢測機構，并與設置于所述第二回轉機構上端的檢測箱連接。通過上述方式，本發明采用一種電腦硬盤批量化檢測設備，可自動對硬盤進行多種檢測，且檢測效率高、不浪費工位。

技術領域

本發明涉及自動化檢測領域，特別是涉及電腦硬盤批量化檢測設備。

背景技術

隨著計算機的日益普及，其生產的規模也越來越大。而硬盤作為計算機里面必不可缺的部件，對其生產的數量以及質量都有著很高的標準，而在工業生產中，對硬盤通常從以下幾個方面進行檢測，包括外觀檢測、磁頭偏移檢測、荷力檢測以及其工作性能檢測，但是目前市面上并沒有可對硬盤進行這些方面的自動化流程檢測，大多是分開進行或手動進行，其檢測效率低，在檢測時也會對硬盤造成不必要的損傷。

因此，設計一種可以對硬盤進行多方面的連續自動化檢測的設備就很有必要。

發明內容

為了克服現有的硬盤檢測只能單一檢測硬盤的性能且人工檢測占據大多數情況的問題，本發明提供了一種可自動化對硬盤進行一系列多方面的檢測的電腦硬盤批量化檢測設備，通過兩個轉動的回轉機構，將傳送帶流水線上的硬盤取下放入第一回轉機構上，依次經過四個檢測工位進行檢測，且檢測到不合格時，通過第一轉盤和第二轉盤的轉速切換，使得外圈的運料機構下料并加快轉動至上料處，提高工位的使用效率。

為實現上述的目的，本發明采用的技術方案是：

一種電腦硬盤批量化檢測設備，包括底板、傳送帶組件、設置于所述傳送帶組件一側的第一推拉機構、設置于所述傳送帶組件另一側的第一回轉機構、設置于所述第一回轉機構沿傳送帶組件方向的第二回轉機構，所述第一回轉機構包括轉動連接的第一轉盤和第二轉盤、若干可沿回轉機構端面來回運動的運料機構、設置于所述第一回轉機構中間的第二推拉機構，所述第一回轉機構依次設置有輪廓檢測工位、磁頭檢測工位、荷力檢測工位、移料工位，所述第二回轉機構包括若干檢測機構，并與設置于所述第二回轉機構上端的檢測箱連接。

進一步地，所述第一轉盤上端面設置有第一凹槽，且所述第一凹槽側面周向設置有棘齒圈，所述第二轉盤位于所述第一凹槽內，且其外側周向設置有若干與所述棘齒圈配合的棘齒，所述第二轉盤可單向驅動所述第一轉盤轉動；所述第二轉盤上端面設置有第二凹槽，且所述第二凹槽內設置有固定于所述第二轉盤中心處的第一電機，所述第一電機驅動所述第二轉盤轉動；

所述第二轉盤底部設置有第一圓臺，且所述第一圓臺底端設置有環向的第一滑槽，所述第一滑槽內滑動設置有底端固定于所述底板的第一連接桿，所述第一連接桿上滑動設置有穿過所述第一連接桿的滑臺，所述滑臺上端固定有第二電機，其下端固定有底部固定于所述底板上的第一氣缸，所述第二電機輸出端與所述第一轉盤內部設置的第一齒輪配合滑動連接。

進一步地，所述第一轉盤和第二轉盤沿徑向設置有若干滑道，且所述第一轉盤區域內的滑道為第一滑道、所述第二轉盤區域內的滑道為第二滑道，若干所述滑道內均設置有可沿所述滑道滑動的運料機構；

所述滑道兩側設置有導向臺，所述滑道兩端設置有凸臺，且所述滑道兩端開口均小于所述滑道寬度，所述第一滑道外端設置有固定于所述第一轉盤內部的復位機構，所述復位機構包括固定于設置在所述第一轉盤靠近所述第一滑道開口處的第三凹槽內的第一彈簧、固定于所述第一彈簧外端的復位板，所述復位板與所述第三凹槽配合；所述第一滑道內端兩側設置有限位機構，所述限位機構包括凹形擋板、連接于所述凹形擋板內端的電磁閥，所述凹形擋板與所述第一滑道對應位置處設置的第四凹槽配合。