[發(fā)明專利]一種片上系統(tǒng)性能檢驗(yàn)方法、裝置、設(shè)備及可讀存儲(chǔ)介質(zhì)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011395064.8
• 申請(qǐng)日: 2020-12-03
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN112540902B
• 公開(kāi)（公告）日: 2023-03-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 緱佳禛;邵海波
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 山東云海國(guó)創(chuàng)云計(jì)算裝備產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新中心有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/34
• 分類號(hào): G06F11/34
• 代理公司: 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 侯珊

1.一種片上系統(tǒng)性能檢驗(yàn)方法，其特征在于，包括：

對(duì)片上系統(tǒng)中各主設(shè)備及各從設(shè)備進(jìn)行數(shù)據(jù)流監(jiān)控，得到各監(jiān)控參數(shù)；

對(duì)各所述監(jiān)控參數(shù)進(jìn)行量化操作，得到各所述主設(shè)備及各所述從設(shè)備分別對(duì)應(yīng)的量化指標(biāo)集；其中，所述量化指標(biāo)集包括并行度指標(biāo)和反壓指標(biāo)；

獲取預(yù)設(shè)的指標(biāo)檢驗(yàn)邏輯關(guān)系；反壓指標(biāo)是指主設(shè)備發(fā)起讀寫(xiě)指令以后，從設(shè)備開(kāi)始處理所述指令的時(shí)間；并行度指標(biāo)是指主從設(shè)備不等待讀或?qū)憯?shù)據(jù)通道完成，可以在命令通道內(nèi)發(fā)出多少個(gè)讀或?qū)懙闹噶钅芰Γ?/p>

判斷各所述主設(shè)備對(duì)應(yīng)的量化指標(biāo)集中的第一延遲指標(biāo)是否均滿足預(yù)設(shè)延遲閾值；

若否，則將未滿足所述預(yù)設(shè)延遲閾值的第一延遲指標(biāo)對(duì)應(yīng)的主設(shè)備確定為目標(biāo)設(shè)備；

獲取所述目標(biāo)設(shè)備對(duì)應(yīng)的目標(biāo)從設(shè)備的第二延遲指標(biāo)和反壓指標(biāo)；

分別對(duì)所述第二延遲指標(biāo)和所述反壓指標(biāo)進(jìn)行校驗(yàn)，得到校驗(yàn)結(jié)果；

當(dāng)所述校驗(yàn)結(jié)果為第二延遲指標(biāo)不滿足所述預(yù)設(shè)延遲閾值，且所述反壓指標(biāo)不滿足預(yù)設(shè)反壓閾值時(shí)，對(duì)所述目標(biāo)從設(shè)備進(jìn)行檢驗(yàn)；

當(dāng)所述校驗(yàn)結(jié)果為第二延遲指標(biāo)滿足所述預(yù)設(shè)延遲閾值，且所述反壓指標(biāo)滿足預(yù)設(shè)反壓閾值時(shí)，對(duì)所述目標(biāo)設(shè)備和片上網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行檢驗(yàn)，以對(duì)所述片上系統(tǒng)進(jìn)行性能檢驗(yàn)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的片上系統(tǒng)性能檢驗(yàn)方法，其特征在于，對(duì)所述目標(biāo)從設(shè)備進(jìn)行檢驗(yàn)，包括：

獲取所述目標(biāo)設(shè)備的并行度指標(biāo)；

根據(jù)所述并行度指標(biāo)對(duì)所述目標(biāo)從設(shè)備進(jìn)行檢驗(yàn)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的片上系統(tǒng)性能檢驗(yàn)方法，其特征在于，對(duì)所述目標(biāo)設(shè)備和片上網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行檢驗(yàn)，包括：

獲取所述目標(biāo)設(shè)備的并行度指標(biāo)；

根據(jù)所述并行度指標(biāo)對(duì)所述目標(biāo)設(shè)備進(jìn)行檢驗(yàn)；

獲取所述片上網(wǎng)絡(luò)的第三延遲指標(biāo)；

判斷所述第三延遲指標(biāo)是否滿足所述預(yù)設(shè)延遲閾值；

若否，則對(duì)所述片上網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)調(diào)整操作。

4.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一項(xiàng)所述的片上系統(tǒng)性能檢驗(yàn)方法，其特征在于，對(duì)片上系統(tǒng)中各主設(shè)備及各從設(shè)備進(jìn)行數(shù)據(jù)流監(jiān)控，包括：

在架構(gòu)階段、寄存器傳輸階段、FPGA階段分別對(duì)所述片上系統(tǒng)中各所述主設(shè)備及各所述從設(shè)備進(jìn)行數(shù)據(jù)流監(jiān)控。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的片上系統(tǒng)性能檢驗(yàn)方法，其特征在于，還包括：

獲取所述片上系統(tǒng)在所述架構(gòu)階段對(duì)應(yīng)的第一性能檢驗(yàn)結(jié)果、所述寄存器傳輸階段對(duì)應(yīng)的第二性能檢驗(yàn)結(jié)果、以及所述FPGA階段對(duì)應(yīng)的第三性能檢驗(yàn)結(jié)果；

將所述第一性能檢驗(yàn)結(jié)果、所述第二性能檢驗(yàn)結(jié)果、以及所述第三性能檢驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行對(duì)比驗(yàn)證，得到目標(biāo)性能檢驗(yàn)結(jié)果。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的片上系統(tǒng)性能檢驗(yàn)方法，其特征在于，在得到各所述主設(shè)備及各所述從設(shè)備分別對(duì)應(yīng)的量化指標(biāo)集之后，還包括：

根據(jù)各所述量化指標(biāo)集中的各所述量化指標(biāo)構(gòu)建得到各指標(biāo)圖表；

按照所述指標(biāo)檢驗(yàn)邏輯關(guān)系對(duì)各所述量化指標(biāo)集中各量化指標(biāo)進(jìn)行檢驗(yàn)，包括：

結(jié)合所述指標(biāo)檢驗(yàn)邏輯關(guān)系和各所述指標(biāo)圖表，對(duì)各所述量化指標(biāo)集中各所述量化指標(biāo)進(jìn)行檢驗(yàn)。