[發(fā)明專利]一種高溫超導(dǎo)帶材沖擊恢復(fù)特性測(cè)試方法及系統(tǒng)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011394576.2
• 申請(qǐng)日: 2020-12-02
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN112557974A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-03-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 黑穎頓;周興梅;陳偉;錢國(guó)超
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 云南電網(wǎng)有限責(zé)任公司電力科學(xué)研究院
• 主分類號(hào): G01R33/12
• 分類號(hào): G01R33/12;G01D21/02
• 代理公司: 北京弘權(quán)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11363
• 代理人: 逯長(zhǎng)明;許偉群

1.一種高溫超導(dǎo)帶材沖擊恢復(fù)特性測(cè)試方法，其特征在于，包括以下步驟：

將待測(cè)高溫超導(dǎo)帶材的樣品置于裝有液氮的低溫杜瓦中，兩端接沖擊電流源，再將恒流穩(wěn)流源與延時(shí)繼電器串聯(lián)后接在樣品的兩端，在樣品兩端連接示波器，在沖擊電流源的電流回路中設(shè)置第一電流夾子，在恒流穩(wěn)流源的電流回路中設(shè)置第二電流夾子，在樣品的表面設(shè)置溫度傳感器；

設(shè)置延時(shí)繼電器的延遲時(shí)間，使恒流穩(wěn)流源輸出的小電流在沖擊電流源的沖擊電流變?yōu)?后再流過(guò)樣品；

通過(guò)示波器測(cè)量樣品兩端的電壓，得到樣品兩端的電壓數(shù)據(jù)，通過(guò)第一電流夾子測(cè)量沖擊電流，通過(guò)第二電流夾子測(cè)量小電流，通過(guò)溫度傳感器測(cè)量樣品的溫度數(shù)據(jù)；

通過(guò)溫度采集設(shè)備采集溫度傳感器測(cè)量的溫度數(shù)據(jù)；

記錄并分析所述電壓數(shù)據(jù)、所述沖擊電流數(shù)據(jù)、所述小電流數(shù)據(jù)以及所述溫度數(shù)據(jù)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高溫超導(dǎo)帶材沖擊恢復(fù)特性測(cè)試方法，其特征在于，所述待測(cè)高溫超導(dǎo)帶材為釔鋇銅氧化物高溫超導(dǎo)帶材。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高溫超導(dǎo)帶材沖擊恢復(fù)特性測(cè)試方法，其特征在于，所述沖擊電流源的沖擊電流為高溫超導(dǎo)帶材臨界電流以上至2000A范圍的電流，所述小電流為不超過(guò)5A的小電流。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高溫超導(dǎo)帶材沖擊恢復(fù)特性測(cè)試方法，其特征在于，所述液氮的低溫杜瓦可在無(wú)外來(lái)熱源情況下維持1個(gè)大氣壓下77K的低溫。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高溫超導(dǎo)帶材沖擊恢復(fù)特性測(cè)試方法，其特征在于，所述沖擊電流源和恒流穩(wěn)流源并聯(lián)接入樣品得到兩端，并先后向樣品通電。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高溫超導(dǎo)帶材沖擊恢復(fù)特性測(cè)試方法，其特征在于，所述記錄并分析所述電壓數(shù)據(jù)、所述沖擊電流數(shù)據(jù)、所述小電流數(shù)據(jù)以及所述溫度數(shù)據(jù)的步驟中，采用LabVIEW程控主機(jī)記錄并分析。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的高溫超導(dǎo)帶材沖擊恢復(fù)特性測(cè)試方法，其特征在于，所述示波器與所述溫度采集設(shè)備設(shè)置LabVIEW接口，所述LabVIEW程控主機(jī)通過(guò)LabVIEW編程實(shí)現(xiàn)各個(gè)設(shè)備的遠(yuǎn)程、同步以及測(cè)量。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高溫超導(dǎo)帶材沖擊恢復(fù)特性測(cè)試方法，其特征在于，所述設(shè)置延時(shí)繼電器的延遲時(shí)間，使恒流穩(wěn)流源輸出的小電流在沖擊電流源的沖擊電流變?yōu)?后再流過(guò)樣品的步驟中，包括：

所述延時(shí)繼電器的延遲時(shí)間使恒流穩(wěn)流源輸出的小電流在沖擊電流源的沖擊電流變?yōu)?后的0-0.1s后再流過(guò)樣品。

9.一種高溫超導(dǎo)帶材沖擊恢復(fù)特性測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括：裝有液氮的低溫杜瓦、待測(cè)高溫超導(dǎo)帶材樣品、沖擊電流源、恒流穩(wěn)流源、延時(shí)繼電器、示波器、溫度傳感器、溫度采集設(shè)備以及程控主機(jī)；

所述待測(cè)高溫超導(dǎo)帶材樣品布設(shè)在裝有液氮的低溫杜瓦中，所述待測(cè)高溫超導(dǎo)帶材樣品的兩端連接沖擊電流源，再將所述恒流穩(wěn)流源與所述延時(shí)繼電器串聯(lián)后接在樣品的兩端，在所述待測(cè)高溫超導(dǎo)帶材樣品的兩端連接示波器，在所述沖擊電流源的電流回路中設(shè)置第一電流夾子，在所述恒流穩(wěn)流源的電流回路中設(shè)置第二電流夾子，在所述待測(cè)高溫超導(dǎo)帶材樣品的表面設(shè)置溫度傳感器；

所述延時(shí)繼電器被配置為：設(shè)置延時(shí)繼電器的延遲時(shí)間，使恒流穩(wěn)流源輸出的小電流在沖擊電流源的沖擊電流變?yōu)?后再流過(guò)樣品；

所述示波器被配置為：通過(guò)示波器測(cè)量樣品兩端的電壓，得到樣品兩端的電壓數(shù)據(jù)；

所述第一電流夾子被配置為：采集沖擊電流源的電流回路中的沖擊電流，所述第二電流夾子被配置為：采集恒流穩(wěn)流源的電流回路中的小電流；

所述溫度采集設(shè)備被配置為：采集溫度傳感器測(cè)量的溫度數(shù)據(jù)；

所述程控主機(jī)被配置為：記錄并分析所述電壓數(shù)據(jù)、所述沖擊電流數(shù)據(jù)、所述小電流數(shù)據(jù)以及所述溫度數(shù)據(jù)。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的高溫超導(dǎo)帶材沖擊恢復(fù)特性測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述程控主機(jī)為L(zhǎng)abVIEW程控主機(jī)，所述示波器與所述溫度采集設(shè)備設(shè)置LabVIEW接口，所述LabVIEW程控主機(jī)通過(guò)LabVIEW編程實(shí)現(xiàn)各個(gè)設(shè)備的遠(yuǎn)程、同步以及測(cè)量。