[發明專利]顯示模塊校正方法以及顯示模塊校正系統

在審

• 申請號: 202011393712.6
• 申請日: 2020-12-03
• 公開（公告）號: CN113465882A
• 公開（公告）日: 2021-10-01
• 發明（設計）人: 林品杰;何明鴻
• 申請（專利權）人: 由田新技股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 北京律和信知識產權代理事務所(普通合伙) 11446
• 代理人: 冷文燕;項榮

1.一種顯示模塊校正方法，其特征在于，包括以下步驟：

提供一點燈測試信號至一待測顯示模塊，以獲得所述待測顯示模塊的一亮度均勻度信息；

依據所述亮度均勻度信息判斷，當所述待測顯示模塊處于一亮度非均勻狀態時，提供一分屏信號至所述待測顯示模塊，將所述待測顯示模塊區分為一第一分屏區以及一第二分屏區；

獲取所述第一分屏區以及所述第二分屏區之間的一亮度平均差異信息；以及

依據所述亮度平均差異信息調整所述待測顯示模塊的所述第一分屏區或所述第二分屏區的一灰階值。

2.如權利要求1所述的顯示模塊校正方法，其特征在于，所述待測顯示模塊具有復數個像素區塊以及一位于中央處的分屏基線，所述分屏信號以所述分屏基線將所述待測顯示模塊區分為大小均等的所述第一分屏區以及所述第二分屏區。

3.如權利要求2所述的顯示模塊校正方法，其特征在于：

所述第一分屏區以及所述第二分屏區分別具有一子區域，所述子區域分別具有部分所述像素區塊，所述子區域具有相同數量的像素區塊；以及

所述亮度平均差異信息為，先計算所述第一分屏區以及所述第二分屏區的所述子區域中，沿著所述分屏基線相對應的像素區塊之間的亮度差異總和，再除以每一所述子區域中所具有的所述像素區塊數量，進而得到一亮度平均差異值。

4.如權利要求2所述的顯示模塊校正方法，其特征在于：

所述第一分屏區以及所述第二分屏區分別具有復數個子區域，所述子區域分別具有部分所述像素區塊，所述子區域具有相同數量的像素區塊；以及

將所述待測顯示模塊區分為所述第一分屏區以及所述第二分屏區后，分別獲取所述子區域的復數個亮度平均差異信息，所述子區域的所述亮度平均差異信息分別為，先計算所述第一分屏區以及所述第二分屏區的所述子區域中，沿著所述分屏基線相對應的像素區塊之間的亮度差異總和，再除以每一所述子區域中所具有的所述像素區塊數量，進而得到復數個亮度平均差異值。

5.如權利要求4所述的顯示模塊校正方法，其特征在于，獲得所述亮度平均差異信息后，依據所述亮度平均差異信息依序調整所述待測顯示模塊的所述第一分屏區或所述第二分屏區的該灰階值。

6.如權利要求4所述的顯示模塊校正方法，其特征在于，將所述待測顯示模塊區分為所述第一分屏區以及所述第二分屏區后，自所述分屏基線依序向外分別獲取所述子區域的所述亮度平均差異信息。

7.如權利要求4所述的顯示模塊校正方法，其特征在于，所述第一分屏區的所述子區域彼此相鄰設置，所述第二分屏區的所述子區域彼此相鄰設置，以及所述第一分屏區以及所述第二分屏區靠近所述分屏基線的所述子區域彼此相鄰設置。

8.如權利要求4所述的顯示模塊校正方法，其特征在于，所述第一分屏區的所述子區域彼此間隔設置，以及所述第二分屏區的所述子區域彼此間隔設置。

9.如權利要求2所述的顯示模塊校正方法，其特征在于，每一所述像素區塊包括PxP個像素，P大于等于2。

10.一種顯示模塊校正系統，其特征在于，包括：

一顯示模塊檢測裝置，提供一點燈檢測信號以及一分屏信號；以及

一待測顯示模塊，電性連接所述顯示模塊檢測裝置，接收所述點燈檢測信號以及所述分屏信號；

當所述待測顯示模塊處于一亮度非均勻狀態時，所述顯示模塊檢測裝置提供所述分屏信號至所述待測顯示模塊，將所述待測顯示模塊區分為一第一分屏區以及一第二分屏區，并獲取所述第一分屏區以及所述第二分屏區之間的一亮度平均差異信息，所述顯示模塊檢測裝置依據所述亮度平均差異信息調整所述待測顯示模塊的所述第一分屏區或所述第二分屏區的一灰階值。