[發(fā)明專利]測(cè)試方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011393071.4
• 申請(qǐng)日: 2020-12-02
• 公開（公告）號(hào): CN112445710B
• 公開（公告）日: 2022-08-09
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉璐
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳平安醫(yī)療健康科技服務(wù)有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/36
• 分類號(hào): G06F11/36
• 代理公司: 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 44202
• 代理人: 熊永強(qiáng)

1.一種測(cè)試方法，其特征在于，包括：

獲取測(cè)試請(qǐng)求，所述測(cè)試請(qǐng)求包括待測(cè)對(duì)象的對(duì)象標(biāo)識(shí)；

根據(jù)所述對(duì)象標(biāo)識(shí)，從預(yù)設(shè)的測(cè)試數(shù)據(jù)庫中查找所述待測(cè)對(duì)象的第一測(cè)試數(shù)據(jù)集；

若查找所述第一測(cè)試數(shù)據(jù)集失敗，則根據(jù)所述對(duì)象標(biāo)識(shí)，從預(yù)設(shè)的測(cè)試邏輯庫中查找所述待測(cè)對(duì)象的第一測(cè)試邏輯；

根據(jù)所述第一測(cè)試邏輯獲取所述待測(cè)對(duì)象的第一測(cè)試參數(shù)集；

獲取第一測(cè)試參數(shù)的第一取值范圍，所述第一測(cè)試參數(shù)為所述第一測(cè)試參數(shù)集中的任一測(cè)試參數(shù)；

若所述第一測(cè)試參數(shù)集中的第二測(cè)試參數(shù)與所述第一測(cè)試參數(shù)關(guān)聯(lián)，則根據(jù)所述第一測(cè)試邏輯，獲取所述第一測(cè)試參數(shù)和所述第二測(cè)試參數(shù)之間的第一約束條件；

根據(jù)所述第一約束條件，對(duì)所述第一測(cè)試參數(shù)的第一取值范圍進(jìn)行更新，得到所述第一測(cè)試參數(shù)的第二取值范圍；

根據(jù)所述第二取值范圍填寫所述第一測(cè)試參數(shù)對(duì)應(yīng)的正交表格；

根據(jù)所述第一測(cè)試參數(shù)集中每一測(cè)試參數(shù)對(duì)應(yīng)的正交表格，獲取所述第一測(cè)試數(shù)據(jù)集；

根據(jù)所述第一測(cè)試數(shù)據(jù)集對(duì)所述待測(cè)對(duì)象進(jìn)行測(cè)試。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述第一測(cè)試邏輯，獲取所述第一測(cè)試參數(shù)和所述第二測(cè)試參數(shù)之間的第一約束條件，包括：

獲取所述第一測(cè)試參數(shù)和所述第二測(cè)試參數(shù)之間的第一關(guān)聯(lián)關(guān)系；

獲取所述第一測(cè)試邏輯中與所述第一測(cè)試參數(shù)對(duì)應(yīng)的第一子測(cè)試邏輯，以及與所述第二測(cè)試參數(shù)對(duì)應(yīng)的第二子測(cè)試邏輯；

根據(jù)所述第一子測(cè)試邏輯和所述第二子測(cè)試邏輯，獲取所述第一測(cè)試參數(shù)和所述第二測(cè)試參數(shù)之間的第二關(guān)聯(lián)關(guān)系；

根據(jù)所述第一關(guān)聯(lián)關(guān)系和所述第二關(guān)聯(lián)關(guān)系，獲取第一測(cè)試參數(shù)和所述第二測(cè)試參數(shù)之間的第一約束條件。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在所述獲取第一測(cè)試參數(shù)的第一取值范圍之后，在所述根據(jù)所述第一測(cè)試參數(shù)集中每一測(cè)試參數(shù)對(duì)應(yīng)的正交表格，獲取所述第一測(cè)試數(shù)據(jù)集之前，所述方法還包括：

若所述第一測(cè)試參數(shù)集中不包括所述第二測(cè)試參數(shù)，則獲取所述第一測(cè)試邏輯中與所述第一測(cè)試參數(shù)對(duì)應(yīng)的第一子測(cè)試邏輯；

根據(jù)所述第一子測(cè)試邏輯獲取所述第一測(cè)試參數(shù)的第二約束條件；

根據(jù)所述第二約束條件和所述第一取值范圍，填寫所述第一測(cè)試參數(shù)對(duì)應(yīng)的正交表格。

4.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，在所述根據(jù)所述第一測(cè)試邏輯獲取所述待測(cè)對(duì)象的第一測(cè)試參數(shù)集之后，所述方法還包括：

從所述測(cè)試邏輯庫中查找與所述第一測(cè)試邏輯類似的第二測(cè)試邏輯；

若所述測(cè)試數(shù)據(jù)庫中包括所述第二測(cè)試邏輯對(duì)應(yīng)的第二測(cè)試數(shù)據(jù)集，則獲取所述第二測(cè)試數(shù)據(jù)集對(duì)應(yīng)的第二測(cè)試參數(shù)集；

對(duì)所述第一測(cè)試參數(shù)集和所述第二測(cè)試參數(shù)集進(jìn)行對(duì)比，得到第三測(cè)試參數(shù)和/或第四測(cè)試參數(shù)，所述第三測(cè)試參數(shù)為所述第一測(cè)試參數(shù)集和所述第二測(cè)試參數(shù)集之間相同的測(cè)試參數(shù)，所述第四測(cè)試參數(shù)為所述第一測(cè)試參數(shù)集和所述第二測(cè)試參數(shù)集之間不同的測(cè)試參數(shù)；

根據(jù)所述第三測(cè)試參數(shù)和/或所述第四測(cè)試參數(shù)，對(duì)所述第二測(cè)試數(shù)據(jù)集進(jìn)行處理，得到所述第一測(cè)試數(shù)據(jù)集。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述從所述測(cè)試邏輯庫中查找與所述第一測(cè)試邏輯類似的第二測(cè)試邏輯，包括：

獲取所述第一測(cè)試邏輯對(duì)應(yīng)的測(cè)試步驟；

根據(jù)所述測(cè)試步驟和所述第一測(cè)試參數(shù)集，從所述測(cè)試邏輯庫中查找與所述第一測(cè)試邏輯類似的第二測(cè)試邏輯。

6.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，在所述根據(jù)所述對(duì)象標(biāo)識(shí)，從預(yù)設(shè)的測(cè)試邏輯庫中查找所述待測(cè)對(duì)象的第一測(cè)試邏輯之后，所述方法還包括：

若所述第一測(cè)試邏輯查找失敗，則獲取所述待測(cè)對(duì)象的待測(cè)功能；

根據(jù)所述待測(cè)功能獲取所述第一測(cè)試參數(shù)集。