[發明專利]修復圖像的方法、裝置、設備和計算機可讀介質在審
| 申請號: | 202011392205.0 | 申請日: | 2020-12-02 |
| 公開(公告)號: | CN112488942A | 公開(公告)日: | 2021-03-12 |
| 發明(設計)人: | 李華夏 | 申請(專利權)人: | 北京字跳網絡技術有限公司 |
| 主分類號: | G06T5/00 | 分類號: | G06T5/00;G06T7/40;G06K9/46 |
| 代理公司: | 北京衛智暢科專利代理事務所(普通合伙) 11557 | 代理人: | 陳佳 |
| 地址: | 100190 北京市*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 修復 圖像 方法 裝置 設備 計算機 可讀 介質 | ||
1.一種修復圖像的方法,包括:
獲取待修復圖像,所述待修復圖像為存在圖像裂痕的圖像;
提取所述圖像裂痕的掩膜圖像;
提取所述待修復圖像的邊緣圖像,所述邊緣圖像用于表征所述待修復圖像的圖像內容的紋理;
根據所述待修復圖像、所述掩膜圖像和所述邊緣圖像,得到目標圖像。
2.根據權利要求1所述的方法,其中,所述提取所述圖像裂痕的掩膜圖像,包括:
提取所述待修復圖像的圖像裂痕區域;
根據所述圖像裂痕區域生成所述掩膜圖像。
3.根據權利要求1所述的方法,其中,所述提取所述待修復圖像的邊緣圖像,包括:
將所述待修復圖像進行噪聲去除,得到去噪圖像;
確定所述去噪圖像的每個像素點的至少一個梯度參數組,所述梯度參數組包括梯度值和梯度角,所述梯度值表示像素點與鄰近像素點之間像素差值的變化大小,所述梯度角表示像素點與鄰近像素點之間的角度,所述梯度值與所述梯度角一一對應;
根據所述至少一個梯度參數組,確定所述待修復圖像的邊緣圖像。
4.根據權利要求3所述的方法,其中,所述將所述待修復圖像進行噪聲去除,得到去噪圖像,包括:
將所述待修復圖像通過高斯濾波器進行噪聲去除,得到所述去噪圖像。
5.根據權利要求3所述的方法,其中,所述根據所述至少一個梯度參數組,確定所述待修復圖像的邊緣圖像,包括:
對于所述去噪圖像中的像素點,確定該像素點對應的所述至少一個梯度參數組中的梯度值大于該像素點的梯度值的數量,根據所述數量確定該像素點的有效性;
根據所述有效性確定所述邊緣圖像。
6.根據權利要求5所述的方法,其中,所述根據所述數量確定該像素點的有效性,包括:
響應于所述數量大于預先設定的閾值,確定該像素點為有效像素,否則,確定該像素點為無效像素。
7.根據權利要求6所述的方法,其中,所述根據所述有效性確定所述邊緣圖像,包括:
對所述有效像素進行激活,得到激活特征矩陣;
對所述無效像素進行抑制,得到抑制特征矩陣;
根據所述激活特征矩陣和所述抑制特征矩陣構成所述邊緣圖像。
8.根據權利要求1所述的方法,其中,所述根據所述待修復圖像、所述掩膜圖像和所述邊緣圖像,得到目標圖像,包括:
將所述待修復圖像、所述掩膜圖像和所述邊緣圖像轉換為對應的待修復圖像矩陣、掩膜圖像矩陣和邊緣圖像矩陣;
基于所述待修復圖像矩陣、所述掩膜圖像矩陣和所述邊緣圖像矩陣得到目標圖像。
9.根據權利要求8所述的方法,其中,所述基于所述待修復圖像矩陣、所述掩膜圖像矩陣和所述邊緣圖像矩陣得到目標圖像,包括:
對所述待修復圖像矩陣、所述掩膜圖像矩陣和所述邊緣圖像矩陣進行拼接,得到拼接矩陣;
將所述拼接矩陣和所述邊緣圖像矩陣輸入目標網絡中,得到所述目標圖像。
10.根據權利要求9所述的方法,其中,所述目標網絡包括特征提取層、下采樣層和上采樣層;以及
所述將所述拼接矩陣和所述邊緣圖像矩陣輸入目標網絡中,得到所述目標圖像,包括:
將所述拼接矩陣輸入所述特征提取層,得到圖像特征矩陣,并執行以下步驟:將所述圖像特征矩陣和所述邊緣圖像矩陣輸入到所述下采樣層,得到對應所述下采樣層的圖像特征矩陣;
將所述下采樣層的圖像特征矩陣輸入所述上采樣層,得到所述目標圖像。
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