[發明專利]ZQ校準方法、裝置、存儲器芯片及存儲介質

有效

• 申請號: 202011388455.7
• 申請日: 2020-12-01
• 公開（公告）號: CN112489715B
• 公開（公告）日: 2023-01-24
• 發明（設計）人: 王小光
• 申請（專利權）人: 西安紫光國芯半導體有限公司
• 主分類號: G11C29/02
• 分類號: G11C29/02;G11C29/50;G11C11/4063
• 代理公司: 北京眾達德權知識產權代理有限公司 11570
• 代理人: 梁凱

1.一種ZQ校準方法，應用于存儲器中，其特征在于，所述存儲器包括多個接口電阻電路，接口電阻電路為離線驅動電路或終端匹配電路，所述方法包括：

在檢測到ZQ校準請求時，對目標接口電阻電路的接口電阻進行ZQ校準，得到電阻校準配置信號，所述目標接口電阻電路為所述多個接口電阻電路中的一個或多個；

獲取所述目標接口電阻電路的電路使能信號以及電阻校準更新信號，并基于所述電路使能信號以及所述電阻校準更新信號，確定是否對所述接口電阻進行校準；

若是，基于所述電阻校準配置信號，對所述接口電阻進行校準。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在獲取所述目標接口電阻電路的電路使能信號之前，所述方法還包括：

基于所述目標接口電阻電路對應的信號端口的信號屬性信息，生成所述電路使能信號。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在獲取所述目標接口電阻電路的電阻校準更新信號之前，所述方法還包括：

基于所述目標接口電阻電路的工作環境參數，生成所述電阻校準更新信號。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在獲取所述目標接口電阻電路的電阻校準更新信號之后，所述方法還包括：

基于所述電阻校準更新信號，確定是否將所述接口電阻的當前校準配置值切換為所述電阻校準配置信號對應的目標校準配置值；

其中，若需要切換，將所述目標校準配置值作為最終校準配置值；若不需要切換，將所述當前校準配置值作為所述最終校準配置值。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述電路使能信號以及所述電阻校準更新信號，確定是否對所述接口電阻進行校準，包括：

基于所述電路使能信號，確定是否需要關閉所述目標接口電阻電路；

若否，基于所述最終校準配置值，對所述接口電阻進行校準。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述對目標接口電阻電路的接口電阻進行ZQ校準，得到電阻校準配置信號之前，所述方法還包括：

獲取所述多個接口電阻電路中每個接口電阻電路的電路使能信號，以及所述每個接口電阻電路的電阻校準更新信號；

針對所述每個接口電阻電路，若該接口電阻電路的電路使能信號為第一預設信號，且該接口電阻電路的電阻校準更新信號為第二預設信號，將該接口電阻電路作為所述目標接口電阻電路。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

確定是否接收到針對所述多個接口電阻電路中的N個接口電阻電路的監控信號，N為正整數；

若是，分別獲取所述N個接口電阻電路的接口電阻的當前校準配置值，并基于每個接口電阻的當前校準配置值，對該接口電阻的校準電路的工作狀態進行檢測。

8.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述確定是否對所述接口電阻進行校準之后，所述方法還包括：

若對所述接口電阻進行校準，獲取所述目標接口電阻電路對應的信號端口在完成接口電阻校準之后的目標信號；

基于所述目標信號的信號質量，以及預設信號質量，對所述目標接口電阻電路進行調試。

9.一種ZQ校準裝置，應用于存儲器中，其特征在于，所述存儲器包括多個接口電阻電路，接口電阻電路為離線驅動電路或終端匹配電路，所述裝置包括：

校準模塊，用于在檢測到ZQ校準請求時，對目標接口電阻電路的接口電阻進行ZQ校準，得到電阻校準配置信號，所述目標接口電阻電路為所述多個接口電阻電路中的一個或多個；

處理模塊，用于獲取所述目標接口電阻電路的電路使能信號以及電阻校準更新信號，并基于所述電路使能信號以及所述電阻校準更新信號，確定是否對所述接口電阻進行校準；

執行模塊，用于在對所述接口電阻進行校準時，基于所述電阻校準配置信號，對所述接口電阻進行校準。