[發明專利]一種外穿過式環形陣列電磁超聲測厚探頭

在審

• 申請號: 202011387932.8
• 申請日: 2020-12-01
• 公開（公告）號: CN112414337A
• 公開（公告）日: 2021-02-26
• 發明（設計）人: 涂君;鐘志武;宋小春;張旭;李冬林;鄧志揚;陳濤
• 申請（專利權）人: 湖北工業大學
• 主分類號: G01B17/02
• 分類號: G01B17/02;G01B7/02
• 代理公司: 武漢開元知識產權代理有限公司 42104
• 代理人: 涂潔;劉代樂

本發明涉及超聲檢測技術領域，具體涉及一種外穿過式環形陣列電磁超聲測厚探頭。包括激勵裝置、線圈和環形陣列磁化單元，所述激勵裝置用于激勵線圈，所述環形陣列磁化單元用于產生沿管道徑向磁化的磁場，所述線圈為圓環狀結構，所述線圈穿設于待測金屬管道上，且與所述待測金屬管道同軸設置，所述環形陣列磁化單元包括若干個磁化單元，若干個所述磁化單元沿圓周方向環繞設置在所述線圈外側且所述磁化單元與線圈之間設有間隙。在量化缺陷的同時，提高了檢測效率。結構簡單，檢測效率高，具有通道數少，以單一探頭同時測量金屬管道多點厚度值的特點，可廣泛應用于金屬管道壁厚測量及腐蝕檢測。

技術領域

本發明涉及超聲檢測技術領域，具體涉及一種外穿過式環形陣列電磁超聲測厚探頭。

背景技術

電磁超聲檢測技術，因其具有無需耦合劑、耐高溫、結構簡單等優勢，在無損檢測領域得到廣泛應用。在管道腐蝕檢測領域，常用的電磁超聲探頭采用跑道線圈、方形線圈等，對試件單點進行檢測，檢測效率低，且容易漏檢。新興的電磁超聲導波技術能夠實現長距離和大范圍的缺陷檢測，在管道檢測和監測當中被廣泛應用，但是對缺陷的量化不夠準確且具有較大的檢測盲區。

發明內容

本發明的目的就是針對現有技術的缺陷，提供一種外穿過式環形陣列電磁超聲測厚探頭，其能實現缺陷量化，無檢測盲區，且檢測效率高。

本發明技術方案為：包括激勵裝置、線圈和環形陣列磁化單元，所述激勵裝置用于激勵線圈，所述環形陣列磁化單元用于產生沿管道徑向磁化的磁場，所述線圈為圓環狀結構，所述線圈穿設于待測金屬管道上，且與所述待測金屬管道同軸設置，所述環形陣列磁化單元包括若干個磁化單元，若干個所述磁化單元沿圓周方向環繞設置在所述線圈外側且所述磁化單元與線圈之間設有間隙。

較為優選的，若干個所述磁化單元設置在所述待測金屬管道不同壁厚處。

較為優選的，所述線圈由單根銅線繞制成螺線管結構。

較為優選的，所述線圈外徑與待測金屬管道外徑的差值為1～3mm。

較為優選的，所述磁化單元為永磁鐵或電磁鐵。

本發明的有益效果為：采用外穿式線圈環繞金屬管道，以及多個磁化單元以環形陣列的方式分布在管道同一圓周不同部位，并均置于線圈上方，達到使用單一探頭線圈測量管道周向上多點厚度值的目的。在量化缺陷的同時，提高了檢測效率。結構簡單，檢測效率高，具有通道數少，以單一探頭同時測量金屬管道多點厚度值的特點，可廣泛應用于金屬管道壁厚測量及腐蝕檢測。

附圖說明

圖1為本發明具有單一磁化單元的外穿過式環形陣列電磁超聲測厚探頭結構示意圖；

圖2為圖1的試驗波形圖；

圖3為本發明具有多個磁化單元的外穿過式環形陣列電磁超聲測厚探頭結構示意圖；

圖4為圖3的試驗波形圖。

圖中：1-待測金屬管道，2-線圈，3-環形陣列磁化單元，4-磁化單元，5-超聲波。

具體實施方式

下面結合附圖和具體實施例對本發明作進一步的詳細說明，便于清楚地了解本發明，但它們不對本發明構成限定。