[發(fā)明專利]微控制器模數(shù)轉換器微分非線性和積分非線性的測試方法在審

申請?zhí)枺?/td>	202011386942.X	申請日：	2020-12-01
公開（公告）號：	CN112526973A	公開（公告）日：	2021-03-19
發(fā)明（設計）人：	肖晗;周玉潔;孫堅	申請（專利權）人：	上海愛信諾航芯電子科技有限公司
主分類號：	G05B23/02	分類號：	G05B23/02;H03M1/10
代理公司：	上海漢聲知識產(chǎn)權代理有限公司 31236	代理人：	胡晶
地址：	201103 上海市***	國省代碼：	上海;31
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摘要：
搜索關鍵詞：	控制器轉換器微分非線性積分測試方法
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【說明書】：

本發(fā)明提供了一種微控制器模數(shù)轉換器微分非線性和積分非線性的測試方法，包括以下步驟：S1：信號發(fā)生器產(chǎn)生預設頻率的正弦波作為測試信號；S2：微控制器采用預設速率的模數(shù)轉換采樣頻率對所述測試信號進行采樣；S3：所述微控制器采用串口進行采樣數(shù)據(jù)的發(fā)送；S4：計算機端接收所述采樣數(shù)據(jù)并保存成文件；S5：計算機采用碼密度直方圖法分析所述文件的數(shù)據(jù)得到測試結果。本發(fā)明可以用低成本、便捷的方式，在微控制器只有低速輸入輸出接口的情況下，完成內(nèi)置模數(shù)轉換器的重要參數(shù)微分非線性和積分非線性的性能測試。

技術領域

本發(fā)明涉及集成電路領域，特別涉及一種微控制器模數(shù)轉換器微分非線性和積分非線性的測試方法。

背景技術

微控制器內(nèi)置模數(shù)轉換器，是目前微控制器為了提升集成度和產(chǎn)品競爭力，將模數(shù)轉換器設計在微控制器內(nèi)部，用于拓展微控制器的應用領域，提高產(chǎn)品的集成化程度、降低成本、提高可靠性和產(chǎn)品的競爭力。

現(xiàn)有技術中，在使用動態(tài)測試法對微控制器內(nèi)置模數(shù)轉換器進行微分非線性和積分非線性的性能測試時，需要將大量連續(xù)的采樣數(shù)據(jù)保存到計算機端，采用碼密度直方圖法分析采樣數(shù)據(jù)得到測試結果。由于模數(shù)采樣頻率過高，采集數(shù)據(jù)量較大，且需要保證采樣數(shù)據(jù)的連續(xù)性，內(nèi)部高速內(nèi)存無法保存足夠多的數(shù)據(jù)，也難以連續(xù)通過低速的外部接口發(fā)送給計算機。在微控制器具有高速外部接口時，也需采用昂貴的數(shù)據(jù)采集儀器來接駁微控制器和計算機。而在微控制器沒有高速外部接口時，難以保存大量連續(xù)高速采樣數(shù)據(jù)的保存和轉發(fā)，基本無法完成測試，僅采用仿真結果作為性能指標。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種微控制器模數(shù)轉換器微分非線性和積分非線性的測試方法，以解決在微控制器沒有高速外部接口時，內(nèi)置模數(shù)轉換器微分非線性和積分非線性的性能無法測試的問題，以及在微控制器有高速外部接口時，需采用昂貴儀器來接駁微控制器和計算機的問題。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種微控制器模數(shù)轉換器微分非線性和積分非線性的測試方法，包括以下步驟：

S1：信號發(fā)生器產(chǎn)生預設頻率的正弦波作為測試信號；

S2：微控制器采用預設速率的模數(shù)轉換采樣頻率對所述測試信號進行采樣；

S3：所述微控制器采用串口進行采樣數(shù)據(jù)的發(fā)送；

S4：計算機端接收所述采樣數(shù)據(jù)并保存成文件；

S5：計算機采用碼密度直方圖法分析所述文件的數(shù)據(jù)得到測試結果。

較佳地，步驟S3包括：所述微控制器采用雙DMA方式進行數(shù)據(jù)搬運，再由串口進行數(shù)據(jù)發(fā)送。

較佳地，所述微控制器采用雙DMA方式完成數(shù)據(jù)搬運的過程包括以下步驟：

S31：首先由第一DMA負責采樣后數(shù)據(jù)的搬運，并將數(shù)據(jù)存入內(nèi)存緩存中；

S32：當所述第一DMA完成預設數(shù)量的數(shù)據(jù)搬運后，第二DMA開始搬運所述內(nèi)存緩中的數(shù)據(jù)至串口發(fā)送寄存器；