[發明專利]電子元件品質檢測篩分裝置

有效

• 申請號: 202011384328.X
• 申請日: 2020-12-01
• 公開（公告）號: CN112570271B
• 公開（公告）日: 2022-05-17
• 發明（設計）人: 楊旭方;李慧
• 申請（專利權）人: 楊旭方;李慧
• 主分類號: B07B1/34
• 分類號: B07B1/34;B07B1/46
• 代理公司: 重慶市諾興專利代理事務所(普通合伙) 50239
• 代理人: 盧玲

本發明涉及電子元件品質檢測篩分裝置，包括篩分箱和入料斗，所述入料斗活動插接在篩分箱的頂板上，所述入料斗外纏繞連接有一號支撐彈簧；本發明通過震動作用對電子元件進行篩分，并且設置多組篩分網，從而可以實現不同直徑的電子元件的篩分，進而使得電子元件篩分的更加精準，并且通過震動篩分的方式，可以加快電子元件篩分的速度，從而提供工作效率，在設置時，入料斗和出料斗與篩分箱均活動設置，因此在震動的過程中，入料斗和出料斗均能發生運動，從而在實際工作過程中，二者的運動，可以有效起到防堵的效果，從而使得該設備的使用更加的便捷和高效，因此具有更高的市場前景。

技術領域

本發明涉及電子元件技術領域，具體涉及電子元件品質檢測篩分裝置。

背景技術

電子元件是電子電路中的基本元素，通常是個別封裝，并具有兩個或以上的引線或金屬接點，電子元件須相互連接以構成一個具有特定功能的電子電路，例如放大器、無線電接收機和振蕩器等，連接電子元件常見的方式之一是焊接到印刷電路板上，電子元件也許是單獨的封裝，或是各種不同復雜度的群組，當電子元件在成產完成后，往往規格不同以及品質不一的電子元件將會混在一起，故而需要對電子元件進行檢測篩分，但是現有的篩分裝置在進行篩分時效率低，且篩分時間長，操作復雜，浪費工作時間，并且現有的篩分裝置，也存在進料斗和出料斗電子元件被堵住的風險。

為了解決上述問題，本發明中提出了電子元件品質檢測篩分裝置。

發明內容

(1)要解決的技術問題

本發明的目的在于克服現有技術的不足，適應現實需要，提供電子元件品質檢測篩分裝置，以解決上述技術問題。

(2)技術方案

為了實現本發明的目的，本發明所采用的技術方案為：

電子元件品質檢測篩分裝置，包括篩分箱和入料斗，所述入料斗活動插接在篩分箱的頂板上，所述入料斗外纏繞連接有一號支撐彈簧，且一號支撐彈簧的兩端分別固定連接在入料斗的外側壁上和篩分箱的外頂壁上，所述篩分箱的底板上活動插接有出料斗，且出料斗的外側壁上固定連接有若干個二號支撐彈簧的一端，且二號支撐彈簧的另一端固定連接在篩分箱的內底壁上，所述篩分箱的側壁活動插接有一號轉動桿，且一號轉動桿的一端與驅動電機相連接，所述驅動電機外固定套設有固定環，且固定環通過一號L型支撐桿固定設置在篩分箱的外側壁上，所述一號轉動桿的另一端固定連接有一號抵觸板，且一號抵觸板的左視圖呈橢圓形結構，所述一號抵觸板的上端抵觸設置有篩分機構。

進一步地，所述篩分機構包括抵觸桿和篩分網，所述篩分網固定套設在抵觸桿外，且篩分網設置有多組，多組所述篩分網上均開設有若干個泄露孔，所述篩分箱的側壁上開設有與篩分網相匹配的取料孔，且取料孔內設置有傾斜導料板，所述篩分網的兩端均固定連接有支撐滑塊，且支撐滑塊滑動設置在支撐滑槽內，所述支撐滑槽開設在篩分箱的內側壁上，所述支撐滑塊的下端上連接有一號導向組件，且一號導向組件的下端固定連接在支撐滑槽的底壁上。

進一步地，所述篩分網的數量至少設置有三個，且若干個篩分網上開設的泄露孔大小不一致，且從上往下依次減小。

進一步地，所述一號導向組件包括一號導向桿、一號導向筒和一號導向彈簧，所述一號導向桿活動插接在一號導向筒內，所述一號導向彈簧纏繞連接在一號導向桿外，且一號導向彈簧的兩端分別固定連接在一號導向桿的側壁上和一號導向筒的外側壁上。