[發(fā)明專利]一種物體定位方法、裝置、終端設(shè)備及存儲介質(zhì)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011380314.0
• 申請日: 2020-11-30
• 公開（公告）號: CN112465908B
• 公開（公告）日: 2023-09-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 黃明強(qiáng);劉志超;趙勇勝;賴有仿
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市優(yōu)必選科技股份有限公司
• 主分類號: G06T7/73
• 分類號: G06T7/73
• 代理公司: 深圳中一聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44414
• 代理人: 肖遙

1.一種物體定位方法，其特征在于，包括：

通過激光雷達(dá)采集背景物體表面的第一點(diǎn)云數(shù)據(jù)；其中，所述背景物體表面設(shè)置有m個(gè)目標(biāo)物體，m為正整數(shù)；

濾除所述第一點(diǎn)云數(shù)據(jù)中反射強(qiáng)度低于預(yù)設(shè)強(qiáng)度閾值的點(diǎn)，得到第二點(diǎn)云數(shù)據(jù)；其中，所述預(yù)設(shè)強(qiáng)度閾值小于或等于所述目標(biāo)物體表面的高反射率區(qū)域的反射強(qiáng)度；

將所述第二點(diǎn)云數(shù)據(jù)由激光雷達(dá)坐標(biāo)系轉(zhuǎn)換到背景物體坐標(biāo)系，得到第三點(diǎn)云數(shù)據(jù)；

濾除所述第三點(diǎn)云數(shù)據(jù)中相對于所述背景物體表面的高度在預(yù)設(shè)高度范圍之外的點(diǎn)，得到第四點(diǎn)云數(shù)據(jù)；其中，所述預(yù)設(shè)高度范圍為所述高反射率區(qū)域相對于所述背景物體表面的高度范圍；

對所述第四點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行聚類分割，得到n個(gè)第五點(diǎn)云數(shù)據(jù)；其中，n為大于或等于m的正整數(shù)；

分別計(jì)算每個(gè)所述第五點(diǎn)云數(shù)據(jù)在所述背景物體坐標(biāo)系下的位姿和方向包圍盒；

濾除所述n個(gè)第五點(diǎn)云數(shù)據(jù)中方向包圍盒與所述高反射率區(qū)域之間的面積差大于預(yù)設(shè)面積閾值的第五點(diǎn)云數(shù)據(jù)的位姿，得到所述m個(gè)目標(biāo)物體在所述背景物體坐標(biāo)系下的位姿；

所述將所述第二點(diǎn)云數(shù)據(jù)由激光雷達(dá)坐標(biāo)系轉(zhuǎn)換到背景物體坐標(biāo)系，得到第三點(diǎn)云數(shù)據(jù)，包括：

根據(jù)激光雷達(dá)坐標(biāo)系相對于背景物體坐標(biāo)系的旋轉(zhuǎn)矩陣、姿態(tài)和位置以及所述激光雷達(dá)向所述背景物體表面發(fā)射的激光點(diǎn)在所述激光雷達(dá)坐標(biāo)系下的位置，得到第三點(diǎn)云數(shù)據(jù)；

所述根據(jù)激光雷達(dá)坐標(biāo)系相對于背景物體坐標(biāo)系的旋轉(zhuǎn)矩陣、姿態(tài)和位置以及所述激光雷達(dá)向所述背景物體表面發(fā)射的激光點(diǎn)在所述激光雷達(dá)坐標(biāo)系下的位置，得到第三點(diǎn)云數(shù)據(jù)的公式為：

其中，為所述第三點(diǎn)云數(shù)據(jù)中第i點(diǎn)在所述背景物體坐標(biāo)系下的位置，R(q)為所述激光雷達(dá)坐標(biāo)系相對于所述背景物體坐標(biāo)系的旋轉(zhuǎn)矩陣，為所述激光雷達(dá)向所述背景物體表面發(fā)射的第i激光點(diǎn)在所述激光雷達(dá)坐標(biāo)系下的位置，q為所述激光雷達(dá)坐標(biāo)系相對于所述背景物體坐標(biāo)系的姿態(tài)，p為所述激光雷達(dá)坐標(biāo)系相對于所述背景物體坐標(biāo)系的位置。

2.如權(quán)利要求1所述的物體定位方法，其特征在于，所述通過激光雷達(dá)采集背景物體表面的第一點(diǎn)云數(shù)據(jù)，包括：

通過朝向背景物體表面設(shè)置的多線激光雷達(dá)采集所述背景物體表面的第一點(diǎn)云數(shù)據(jù)。

3.如權(quán)利要求1所述的物體定位方法，其特征在于，所述濾除所述第一點(diǎn)云數(shù)據(jù)中反射強(qiáng)度低于預(yù)設(shè)強(qiáng)度閾值的點(diǎn)，得到第二點(diǎn)云數(shù)據(jù)之前，包括：

獲取所述第一點(diǎn)云數(shù)據(jù)中與所述m個(gè)目標(biāo)物體表面的高反射率區(qū)域?qū)?yīng)的所有點(diǎn)的反射強(qiáng)度中的最小反射強(qiáng)度，得到所述預(yù)設(shè)強(qiáng)度閾值。

4.如權(quán)利要求1所述的物體定位方法，其特征在于，所述對所述第四點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行聚類分割，得到n個(gè)第五點(diǎn)云數(shù)據(jù)，包括：

通過歐幾里得聚類算法對所述第四點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行聚類分割，得到n個(gè)第五點(diǎn)云數(shù)據(jù)。

5.如權(quán)利要求1所述的物體定位方法，其特征在于，所述分別計(jì)算每個(gè)所述第五點(diǎn)云數(shù)據(jù)在所述背景物體坐標(biāo)系下的位姿和方向包圍盒，包括：

通過主成分分析算法分別計(jì)算每個(gè)所述第五點(diǎn)云數(shù)據(jù)在所述背景物體坐標(biāo)系下的中心和主方向，得到每個(gè)所述第五點(diǎn)云數(shù)據(jù)在所述背景物體坐標(biāo)系下的位姿；

分別根據(jù)每個(gè)所述第五點(diǎn)云數(shù)據(jù)的位姿，建立每個(gè)所述第五點(diǎn)云數(shù)據(jù)在所述背景物體坐標(biāo)系下的方向包圍盒。