[發(fā)明專利]目視殘影測試系統(tǒng)有效
申請?zhí)枺?/td> | 202011378467.1 | 申請日: | 2020-11-30 |
公開(公告)號: | CN112539921B | 公開(公告)日: | 2023-05-16 |
發(fā)明(設計)人: | 王志祥 | 申請(專利權(quán))人: | 昆山工研院新型平板顯示技術中心有限公司 |
主分類號: | G01M11/02 | 分類號: | G01M11/02 |
代理公司: | 上海晨皓知識產(chǎn)權(quán)代理事務所(普通合伙) 31260 | 代理人: | 成麗杰 |
地址: | 215300 江蘇省蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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摘要: | |||
搜索關鍵詞: | 目視 測試 系統(tǒng) | ||
本發(fā)明實施例涉及顯示屏技術領域,公開了一種目視殘影測試系統(tǒng),包括:箱體,具有第一收容空間,箱體包括第一側(cè)壁,第一側(cè)壁上設有目視孔;運動裝置,收容于第一收容空間內(nèi),運動裝置上固設有目視校準模組,并用于固定待測試屏體;控制裝置,與運動裝置連接,用于控制運動裝置運動,以使目視校準模組和待測試屏體輪流正對目視孔;還用于控制目視校準模組正對目視孔的時長為第一預設時長、待測試屏體正對目視孔的時長為第二預設時長,其中,人眼注視目視校準模組第一預設時長后,能夠消除待測試屏體的顯示畫面在人眼中的殘留。本發(fā)明提供的目視殘影測試系統(tǒng)能夠降低目視殘影測試的不確定度,提高測試的準確性。
技術領域
本發(fā)明實施例涉及顯示屏技術領域,特別涉及一種目視殘影測試系統(tǒng)。
背景技術
OLED(Organic?Light-Emitting?Diode)稱為有機電致發(fā)光二極管。OLED顯示技術具有全固態(tài)、主動發(fā)光、高對比度、超薄、低功耗、效應速度快、工作范圍寬、易于實現(xiàn)柔性顯示和3D顯示等諸多優(yōu)點,使它在目前在眾多顯示屏上得到應用,例如應用于電視機和移動顯示設備上。OLED顯示器件出貨前需要對其進行各項指標的檢測,其中,殘影消失時間是評價OLED顯示器件的一項重要指標。殘影是指顯示面板顯示一種畫面一段時間后,當切換到另一畫面時,先前的畫面會有殘留,經(jīng)過一段時間后方可消失的現(xiàn)象。現(xiàn)有技術中使用人工視覺檢測法對OLED顯示器件的殘影程度進行檢測,即通過目視檢查殘影消失時間以對OLED顯示器件的殘影程度進行判斷。
現(xiàn)有技術中對OLED顯示器件進行目視殘影檢查的方法有待提高,因此,有必要提供一種新的目視殘影測試系統(tǒng)來解決上述問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實施方式的目的在于提供一種目視殘影測試系統(tǒng),其能夠降低目視殘影測試的不確定度,提高目視殘影測試的準確性。
為解決上述技術問題,本發(fā)明的實施方式提供了一種目視殘影測試系統(tǒng),包括:
箱體,具有第一收容空間,所述箱體包括第一側(cè)壁,所述第一側(cè)壁上設有目視孔;運動裝置,收容于所述第一收容空間內(nèi),所述運動裝置上固設有目視校準模組,并用于固定待測試屏體;控制裝置,與所述運動裝置連接,用于控制所述運動裝置運動,以使所述目視校準模組和所述待測試屏體輪流正對所述目視孔;還用于控制所述目視校準模組正對所述目視孔的時長為第一預設時長、所述待測試屏體正對所述目視孔的時長為第二預設時長,其中,人眼注視所述目視校準模組第一預設時長后,能夠消除所述待測試屏體的顯示畫面在人眼中的殘留。
另外,所述運動裝置具有第二收容空間,所述運動裝置包括圍設成所述第二收容空間的第二側(cè)壁,所述目視校準模組和所述待測試屏體均設置在所述第二側(cè)壁上;所述目視殘影測試系統(tǒng)還包括點屏裝置,所述點屏裝置收容于所述第二收容空間內(nèi),且分別與所述目視校準模組和所述待測試屏體連接,用于控制所述目視校準模組和所述待測試屏體的畫面顯示。
另外,所述點屏裝置包括第一點屏裝置和第二點屏裝置,所述第一點屏裝置與所述目視校準模組連接,用于控制所述目視校準模組顯示第一預設灰階的畫面;所述第二點屏裝置與所述待測試屏體連接,用于在所述待測試屏體的殘影老化過程中控制所述待測試屏體顯示棋盤格畫面,在所述待測試屏體的殘影老化過程結(jié)束后控制所述待測試屏體顯示第二預設灰階的畫面。
另外,所述目視校準模組和所述待測試屏體均為多個,多個所述目視校準模組和多個所述待測試屏體在所述第二側(cè)壁上依次交替設置。
另外,所述點屏裝置為一個或多個,所述點屏裝置為一個時,一個所述點屏裝置分別與多個所述目視校準模組和多個所述待測試屏體連接;所述點屏裝置為多個時,每個所述目視校準模組均與一個所述點屏裝置連接,每個所述待測試屏體均與一個所述點屏裝置連接。
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