[發明專利]一種兼容LDMOS和GaN功放的設計方法在審
| 申請號: | 202011378230.3 | 申請日: | 2020-12-01 |
| 公開(公告)號: | CN112511108A | 公開(公告)日: | 2021-03-16 |
| 發明(設計)人: | 俞啟進;張力;董昊;李江舟 | 申請(專利權)人: | 南京典格通信科技有限公司 |
| 主分類號: | H03F1/00 | 分類號: | H03F1/00 |
| 代理公司: | 南京知識律師事務所 32207 | 代理人: | 張蘇沛 |
| 地址: | 210000 江蘇省南京市玄武區*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 兼容 ldmos gan 功放 設計 方法 | ||
1.一種兼容LDMOS和GaN功放的設計方法,所述LDMOS功放是指正壓控制LDMOS功放,所述GaN功放是指負壓控制的GaN功放;其特征在于:
通過一個正壓的DAC或者類似電壓調節電路(如分壓電路)進行功放工作狀態的調節;通過一個加法器的設計,DAC控制電壓加上一個0電平或負壓電平,通過控制中心切換,兼容了LDMOS正壓和GaN負壓的工作狀態;通過漏極開關進行控制,實現了GaN和LDMOS的兼容。
2.根據權利要求1所述的兼容LDMOS和GaN功放的設計方法,其特征在于:
開關SW1低電平閉合,懸空或高電平斷開;
開關SW2低電平閉合,懸空或高電平斷開;
開關SW3低電平接地,高電平接負壓VSS。
3.根據權利要求1所述的兼容LDMOS和GaN功放的設計方法,其特征在于:
負壓發生模塊提供GaN所需的負壓,當負壓輸出完成后,負壓發生模塊會提供一個負壓輸出完成標志REG,當輸出負壓小于設定負壓閥值時,標志位清除。
4.根據權利要求1所述的兼容LDMOS和GaN功放的設計方法,其特征在于:
通過加法器實現功放柵壓可調,同時兼容GaN負壓的柵壓可調,通過電壓0與負壓VSS的切換,實現LDMOS和GaN功放的兼容。
柵壓控制實現功放輸出柵壓可調,用DAC,分壓電阻或者PWM波加濾波器方式實現;
控制中心MCU,實現LDMOS和GaN的切換,以及柵壓的控制調節。
5.根據權利要求1至4之一所述的兼容LDMOS和GaN功放的設計方法,其特征在于:
控制中心I/O切換到低電平,此時系統工作在LDMOS狀態,此時開關SW2接地,導致開關SW1閉合導通,漏極供電VDD上電;開關SW3切換到地,此時功放柵壓為DAC輸出的正壓;LDMOS實現正常工作;
控制中心I/O切換到高電平,此時系統工作在GaN狀態,此時開關SW2懸空,開關SW1只有在負壓發生模塊產生REG標志信號時,才會閉合導通,漏極供電VDD上電;開關SW3切換到VSS,此時功放柵壓為DAC輸出的正壓與VSS負壓的和,VSS的絕對值大于DAC輸出,實現負壓控制;GaN實現正常工作。
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