[發(fā)明專利]一種腦電數(shù)據(jù)處理方法、裝置以及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011374355.9 | 申請(qǐng)日: | 2020-11-30 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112515686B | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-12-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉軍濤;蔡新霞;徐聲偉;邢宇;陸柏濤 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院空天信息創(chuàng)新研究院 |
| 主分類號(hào): | A61B5/372 | 分類號(hào): | A61B5/372 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 王毅 |
| 地址: | 100190 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 數(shù)據(jù)處理 方法 裝置 以及 計(jì)算機(jī) 可讀 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
1.一種腦電數(shù)據(jù)處理方法,其特征在于,包括:
S1:獲取標(biāo)準(zhǔn)組的多個(gè)位點(diǎn)的腦電數(shù)據(jù)和特征組的多個(gè)位點(diǎn)的腦電數(shù)據(jù);
S2:采用經(jīng)驗(yàn)?zāi)B(tài)分解方法分別對(duì)所述標(biāo)準(zhǔn)組的每個(gè)位點(diǎn)的腦電數(shù)據(jù)和所述特征組的每個(gè)位點(diǎn)的腦電數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,分別得到所述標(biāo)準(zhǔn)組的多個(gè)第一階至第四階的固有模態(tài)函數(shù)分量和所述特征組的多個(gè)第一階至第四階的固有模態(tài)函數(shù)分量;將所述標(biāo)準(zhǔn)組的多個(gè)第一階至第四階的固有模態(tài)函數(shù)分量進(jìn)行計(jì)算,得到標(biāo)準(zhǔn)組樣本熵集合;將所述特征組的多個(gè)第一階至第四階的固有模態(tài)函數(shù)分量進(jìn)行計(jì)算,得到特征組樣本熵集合,其中,每個(gè)位點(diǎn)具有對(duì)應(yīng)的第一階至第四階固有模態(tài)函數(shù)分量;
分別計(jì)算所述標(biāo)準(zhǔn)組的腦電數(shù)據(jù)和所述特征組的腦電數(shù)據(jù)中相關(guān)聯(lián)的位點(diǎn)的腦電數(shù)據(jù)的時(shí)序相關(guān)性,得到標(biāo)準(zhǔn)組相關(guān)性集合和特征組相關(guān)性集合,包括:
提取所述標(biāo)準(zhǔn)組中對(duì)稱分布的兩個(gè)位點(diǎn)的數(shù)據(jù),將所述標(biāo)準(zhǔn)組中對(duì)稱分布的兩個(gè)所述位點(diǎn)的數(shù)據(jù)按照波段分為N組,計(jì)算每個(gè)波段的兩個(gè)所述位點(diǎn)的數(shù)據(jù)的時(shí)序相關(guān)性數(shù)據(jù)和功率比值,其中,N為大于或等于2的正整數(shù);
將所述標(biāo)準(zhǔn)組中計(jì)算得到的所有時(shí)序相關(guān)性數(shù)據(jù)和功率比值的自然對(duì)數(shù)組成標(biāo)準(zhǔn)組的相關(guān)性集合;
提取所述特征組中與所述標(biāo)準(zhǔn)組中提取位點(diǎn)相對(duì)應(yīng)的兩個(gè)位點(diǎn)的數(shù)據(jù),將所述特征組兩個(gè)所述位點(diǎn)的數(shù)據(jù)按照波段分為四組,計(jì)算每個(gè)波段的兩個(gè)所述位點(diǎn)的數(shù)據(jù)的時(shí)序相關(guān)性數(shù)據(jù)和功率比值;
將所述特征組中計(jì)算得到的所有時(shí)序相關(guān)性數(shù)據(jù)和功率比值的自然對(duì)數(shù)組成特征組的相關(guān)性集合;
S3:采用顯著性檢驗(yàn)的方法對(duì)所述標(biāo)準(zhǔn)組樣本熵集合、所述特征組樣本熵集合、所述標(biāo)準(zhǔn)組相關(guān)性集合以及所述特征組相關(guān)性集合進(jìn)行處理,得到標(biāo)準(zhǔn)組樣本熵指征數(shù)據(jù)、特征組樣本熵指征數(shù)據(jù)、標(biāo)準(zhǔn)組相關(guān)性指征數(shù)據(jù)和特征組相關(guān)性指征數(shù)據(jù);
S4:根據(jù)所述標(biāo)準(zhǔn)組樣本熵指征數(shù)據(jù)、所述特征組樣本熵指征數(shù)據(jù)、所述標(biāo)準(zhǔn)組相關(guān)性指征數(shù)據(jù)和所述特征組相關(guān)性指征數(shù)據(jù)計(jì)算邊界條件;
S5:采用如所述S1至所述S4的方法處理待分類組的腦電數(shù)據(jù)得到待分類組的樣本熵指征數(shù)據(jù)和相關(guān)性指征數(shù)據(jù),通過(guò)所述待分類組的樣本熵指征數(shù)據(jù)和相關(guān)性指征數(shù)據(jù)結(jié)合所述邊界條件判斷所述待分類組的腦電數(shù)據(jù)的分組類別。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的腦電數(shù)據(jù)處理方法,其特征在于,所述S2中,所述將所述標(biāo)準(zhǔn)組的多個(gè)第一階至第四階的固有模態(tài)函數(shù)分量進(jìn)行計(jì)算,得到標(biāo)準(zhǔn)組樣本熵集合包括:
分別對(duì)所述標(biāo)準(zhǔn)組和所述特征組內(nèi)每一個(gè)位點(diǎn)的腦電數(shù)據(jù)計(jì)算得到的第一階至第四階的固有模態(tài)函數(shù)分量,對(duì)所述固有模態(tài)函數(shù)分量計(jì)算得到多組分量樣本熵;
將所述多組所述分量樣本熵計(jì)算平均值得到當(dāng)前位點(diǎn)的樣本熵,將所述標(biāo)準(zhǔn)組內(nèi)計(jì)算得到的所有樣本熵組合成標(biāo)準(zhǔn)組樣本熵集合,將所述特征組內(nèi)計(jì)算得到的所有樣本熵組合成特征組樣本熵集合。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的腦電數(shù)據(jù)處理方法,其特征在于,所述多個(gè)位點(diǎn)為腦內(nèi)兩兩對(duì)稱分布的位點(diǎn)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的腦電數(shù)據(jù)處理方法,其特征在于,所述S3中,
采用顯著性檢驗(yàn)的方法分別對(duì)所述標(biāo)準(zhǔn)組樣本熵集合和所述特征組樣本熵集合進(jìn)行計(jì)算得到多個(gè)位點(diǎn)顯著性差異數(shù)據(jù),提取多個(gè)所述位點(diǎn)顯著性差異數(shù)據(jù)中k個(gè)最小的值對(duì)應(yīng)的樣本熵作為樣本熵指征數(shù)據(jù);
采用顯著性檢驗(yàn)的方法分別對(duì)所述標(biāo)準(zhǔn)組相關(guān)性集合和所述特征組相關(guān)性集合進(jìn)行計(jì)算得到多個(gè)所述位點(diǎn)顯著性差異數(shù)據(jù),提取多個(gè)所述位點(diǎn)顯著性差異數(shù)據(jù)中k個(gè)最小的值對(duì)應(yīng)的時(shí)序相關(guān)性數(shù)據(jù)或功率比值的自然對(duì)數(shù)作為相關(guān)性指征數(shù)據(jù),其中k為小于所述位點(diǎn)數(shù)量的50%的正整數(shù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的腦電數(shù)據(jù)處理方法,其特征在于,所述S4中包括:
根據(jù)所述標(biāo)準(zhǔn)組中所有腦電數(shù)據(jù)的樣本熵指征數(shù)據(jù)和相關(guān)性指征數(shù)據(jù)以及所述特征組中所有腦電數(shù)據(jù)的樣本熵指征數(shù)據(jù)和相關(guān)性指征數(shù)據(jù)計(jì)算邊界條件。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的腦電數(shù)據(jù)處理方法,其特征在于,所述S5之后還包括:將已分類組的腦電數(shù)據(jù)添加到對(duì)應(yīng)分類組中并更新腦電數(shù)據(jù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1至6任一項(xiàng)所述的腦電數(shù)據(jù)處理方法,其特征在于,所述特征組的數(shù)量至少為兩個(gè)。
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