[發明專利]一種晶圓旋轉裝置在審
| 申請號: | 202011374182.0 | 申請日: | 2020-11-30 |
| 公開(公告)號: | CN112397436A | 公開(公告)日: | 2021-02-23 |
| 發明(設計)人: | 林生海;何玉森;趙晗;張雨 | 申請(專利權)人: | 冠禮控制科技(上海)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/683 | 分類號: | H01L21/683;H01L21/67 |
| 代理公司: | 上海智力專利商標事務所(普通合伙) 31105 | 代理人: | 張文玄;周濤 |
| 地址: | 200131 上海市浦東新區富*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 旋轉 裝置 | ||
1.一種晶圓旋轉裝置,所述晶圓設置在晶圓框架中構成待旋轉清洗的組合結構,其特征在于,所述裝置包括:
驅動機構,提供一自轉軸;
支撐盤,所述支撐盤的底部中心固定連接在所述自轉軸上,所述支撐盤的頂部支撐所述組合結構,所述頂部設置有高度低于中心環的外環。
2.根據權利要求1所述的晶圓旋轉裝置,其特征在于,所述中心環與外環之間設置有傾斜的過渡環。
3.根據權利要求2所述的晶圓旋轉裝置,其特征在于,所述過渡環與水平面的角度小于30°。
4.根據權利要求1所述的晶圓旋轉裝置,其特征在于,所述支撐盤內設置有空氣腔室,所述頂部設置有多個通孔,所述通孔與所述空氣腔室連通,所述空氣腔室與外部的抽真空結構連通。
5.根據權利要求4所述的晶圓旋轉裝置,其特征在于,所述自轉軸內部中空,且其一端與所述空氣腔室連通,另一端與所述抽真空結構連通。
6.根據權利要求3所述的晶圓旋轉裝置,其特征在于,所述中心環上均勻布設有多個圓形的第一孔。
7.根據權利要求6所述的晶圓旋轉裝置,其特征在于,所述外環上均勻布設有多個弧形的第二孔。
8.根據權利要求7所述的晶圓旋轉裝置,其特征在于,所述第二孔包括第一直徑孔和第二直徑孔,所述第一直徑大于所述第二直徑。
9.根據權利要求8所述的晶圓旋轉裝置,其特征在于,相鄰的所述第一直徑孔和第二直徑孔在角度上部分重疊。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





