[發(fā)明專利]一種IO測試設(shè)備及IO測試系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011373589.1
• 申請日: 2020-11-30
• 公開（公告）號: CN112649718B
• 公開（公告）日: 2022-04-15
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 朱翔;趙云建;于小建;吳宗喜;郭東明
• 申請（專利權(quán)）人: 聯(lián)寶（合肥）電子科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京樂知新創(chuàng)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11734
• 代理人: 劉婧

1.一種IO測試設(shè)備，其特征在于，包括：

機架，所述機架上具有檢測平臺，所述檢測平臺的兩側(cè)設(shè)有多個IO插頭，且所述檢測平臺的中部設(shè)有第一傳送機構(gòu)，所述第一傳送機構(gòu)能夠沿第一方向傳送載具，以帶動載具進入或離開檢測工位，其中，所述第一方向平行于所述檢測平臺的上表面；

第二傳送機構(gòu)，設(shè)置于所述機架的前端，并能夠沿第二方向傳送載具，所述載具上承載有待檢測產(chǎn)品，其中，所述第二方向平行于所述檢測平臺的上表面并垂直于所述第一方向；

頂升傳送機構(gòu)，設(shè)置于所述第二傳送機構(gòu)下方，所述頂升傳送機構(gòu)能夠沿第三方向伸縮運動，以頂升所述載具至設(shè)定位置或回降所述載具至所述第二傳送機構(gòu)上；所述載具被頂升至所述設(shè)定位置的狀態(tài)下，所述頂升傳送機構(gòu)還能夠沿所述第一方向傳送所述載具，以帶動所述載具移動至所述第一傳送機構(gòu)上，其中，所述第三方向垂直于所述檢測平臺的上表面；

夾緊定位機構(gòu)，設(shè)置于所述檢測平臺上，所述夾緊定位機構(gòu)包括驅(qū)動裝置和兩塊夾板，所述兩塊夾板與所述驅(qū)動裝置傳動連接，在所述第二方向上，所述驅(qū)動裝置帶動所述兩塊夾板反向運動，以夾緊或松開載具上的待檢測產(chǎn)品；

兩套抓取機構(gòu)，設(shè)置于所述檢測平臺上，并位于所述檢測平臺的兩側(cè)，所述抓取機構(gòu)上設(shè)有視覺定位裝置，所述視覺定位裝置能夠獲取所述檢測工位上待檢測產(chǎn)品的各IO插口的位置信息；所述抓取機構(gòu)根據(jù)所述位置信息依次抓取所述IO插頭并插入對應(yīng)的IO插口內(nèi)，且在設(shè)定時長后，將所述IO插頭從所述IO插口內(nèi)拔出并放回原位。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的IO測試設(shè)備，其特征在于，還包括升降機構(gòu)，所述檢測平臺的中部開設(shè)有缺口部，所述第一傳送機構(gòu)位于所述缺口部內(nèi)，所述升降機構(gòu)設(shè)置于所述第一傳送機構(gòu)下方，且所述升降機構(gòu)的動力輸出端與所述第一傳送機構(gòu)的底部連接，所述升降機構(gòu)能夠沿所述第三方向往復移動，以帶動所述第一傳送機構(gòu)上升或下降設(shè)定的距離；

所述第二傳送機構(gòu)至少包括待檢測產(chǎn)品傳送機構(gòu)和已檢測產(chǎn)品傳送機構(gòu)，所述已檢測產(chǎn)品傳送機構(gòu)位于所述待檢測產(chǎn)品傳送機構(gòu)的下方，且所述待檢測產(chǎn)品傳送機構(gòu)和已檢測產(chǎn)品傳送機構(gòu)的下方均設(shè)有所述頂升傳送機構(gòu)；

所述升降機構(gòu)能夠帶動所述第一傳送機構(gòu)上升至與所述待檢測產(chǎn)品傳送機構(gòu)相對應(yīng)的第一位置，以使位于所述待檢測產(chǎn)品傳送機構(gòu)下方的頂升傳送機構(gòu)帶動所述載具移動至所述第一傳送機構(gòu)上；所述升降機構(gòu)還能夠帶動所述第一傳送機構(gòu)下降至與所述已檢測產(chǎn)品傳送機構(gòu)相對應(yīng)的第二位置，以使所述第一傳送機構(gòu)帶動所述載具移動至位于所述已檢測產(chǎn)品傳送機構(gòu)下方的頂升傳送機構(gòu)上，且位于所述已檢測產(chǎn)品傳送機構(gòu)下方的頂升傳送機構(gòu)帶動所述載具回降至所述已檢測產(chǎn)品傳送機構(gòu)上。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的IO測試設(shè)備，其特征在于，所述抓取機構(gòu)包括三軸移動模組、旋轉(zhuǎn)電機和夾取部，所述旋轉(zhuǎn)電機設(shè)置在所述三軸移動模組上，以使所述三軸移動模組能夠帶動所述旋轉(zhuǎn)電機移動至設(shè)定位置，所述夾取部設(shè)置在所述旋轉(zhuǎn)電機上，以使所述旋轉(zhuǎn)電機能夠帶動所述夾取部繞所述旋轉(zhuǎn)電機的轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn)設(shè)定的角度，所述旋轉(zhuǎn)電機的轉(zhuǎn)軸沿所述第二方向設(shè)置。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的IO測試設(shè)備，其特征在于，所述夾取部包括開合氣缸和夾爪，所述夾爪設(shè)置在所述開合氣缸的動力輸出端上，以使所述開合氣缸能夠帶動所述夾爪在所述第二方向上開合運動；

所述夾爪上開設(shè)有限位槽，所述IO插頭上設(shè)有限位凸柱，所述夾爪抓取所述IO插頭的狀態(tài)下，所述限位槽與所述限位凸柱相卡合，以限制所述夾爪與所述IO插頭的相對移動。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的IO測試設(shè)備，其特征在于，所述檢測平臺的兩側(cè)均設(shè)有IO插頭定位座，所述IO插頭定位座上預設(shè)有多個停放位，各所述停放位處均設(shè)有定位凸起，所述IO插頭的底部設(shè)有定位凹槽，所述IO插頭停放在所述停放位的狀態(tài)下，所述定位凸起能夠與所述定位凹槽相卡合，以限制所述IO插頭與所述IO插頭定位座的相對位置。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的IO測試設(shè)備，其特征在于，所述IO插頭的外殼為金屬外殼，所述停放位上還設(shè)有磁體，所述IO插頭停放在所述停放位的狀態(tài)下，所述磁體磁性吸附所述金屬外殼，以使所述金屬外殼的底部與所述IO插頭定位座相接觸。