[發明專利]實現光子循環增強的多結太陽電池及其制作方法有效
| 申請號: | 202011372923.1 | 申請日: | 2020-11-30 |
| 公開(公告)號: | CN112490301B | 公開(公告)日: | 2022-10-21 |
| 發明(設計)人: | 李欣益;陸宏波;李戈;張瑋;錢子勍;楊瑰婷;楊丞;鄭奕 | 申請(專利權)人: | 上海空間電源研究所 |
| 主分類號: | H01L31/0224 | 分類號: | H01L31/0224;H01L31/0232;H01L31/0687;H01L31/0725;H01L31/076;H01L31/18 |
| 代理公司: | 上海航天局專利中心 31107 | 代理人: | 余岢 |
| 地址: | 200245 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 實現 光子 循環 增強 太陽電池 及其 制作方法 | ||
1.一種多結太陽電池的制作方法,其特征在于,包括:
1)在支撐襯底上分別制備頂層子電池與底層子電池:通過金屬有機物氣相沉積的方法,分別在GaAs襯底上生長晶格匹配的GaInP/GaAs雙結電池,在InP襯底上生長晶格匹配的InGaAsP/InGaAs雙結電池,其中GaInP/GaAs雙結電池需采用反向生長,即子電池的各功能層的生長順序應與器件中的實際順序相反;
2)分別在各子電池表面光刻柵線圖形,蒸鍍金屬柵線:分別在生長的GaInP/GaAs子電池與InGaAsP/InGaAs子電池表面光刻柵線圖形,為避免二次遮擋,柵線圖形與最終四結太陽電池器件正面電極圖形一致,采用電子束蒸發在光刻后的子電池表面蒸鍍金屬,對于GaInP/GaAs子電池,蒸鍍的金屬使用Pd/Ag/Au,對于InGaAsP/InGaAs子電池,蒸鍍金屬使用AuGeNi/Au/Ag/Au;
3)對蒸鍍的金屬柵線保護后,分別在頂層子電池與底層子電池的表面蒸鍍光學膜層:通過套刻工藝對子電池表面蒸鍍的金屬柵線進行保護,在GaInP/GaAs子電池表面依次蒸鍍SiOx與HfOx;在InGaAsP/InGaAs子電池表面依次蒸鍍SiOx與HfOx;
4)翻轉頂層子電池,通過頂層子電池表面的金屬柵線進行圖形對準,在預設的溫度與壓力下進行圖形鍵合:翻轉頂層子電池,通過子電池表面的金屬柵線進行圖形對準,在預設的溫度下進行圖形鍵合,鍵合過程中待鍵合樣品兩端保持壓力,鍵合完成后形成“GaAs襯底/GaInP/GaAs//InGaAsP/InGaAs/InP襯底”結構;
5)通過物理或化學的方法移除頂層子電池的支撐襯底,以獲得級聯的多結太陽電池本體:使用氨水、雙氧水、水的混合液,將GaAs生長襯底完全去除,初步獲得InP襯底上的GaInP/GaAs/InGaAsP/InGaAs四結太陽電池本體;
6)在多結太陽電池本體表面制備正面電極:在四結太陽電池表面光刻正面電極圖形,采用電子束蒸發在光刻后的子電池表面蒸鍍金屬,金屬材料使用AuGeNi/Au/Ag/Au;
7)對正面電極保護后,在多結太陽電池表面蒸鍍減反射膜:通過套刻工藝對四結太陽電池正面電極進行保護,在多結太陽電池表面蒸鍍TiO/SiO雙層減反射膜,厚度分別為44.3nm與76.0nm;
8)在底層子電池的支撐襯底背面蒸鍍金屬材料,形成背面電極:在InP襯底背面通過電子束蒸鍍AuGeNi/Au/Ag/Au材料,形成背面電極。
2.如權利要求1所述的多結太陽電池的制作方法,其特征在于,對蒸鍍的金屬柵線保護后,分別在頂層子電池與底層子電池的表面蒸鍍光學膜層的步驟中,
所述光學膜層材料選擇一種或多種折射率在1.01-1.20、且在多結太陽電池相應波段無吸收的介質材料。
3.如權利要求1所述的多結太陽電池的制作方法,其特征在于,分別在各子電池表面光刻柵線圖形,蒸鍍金屬柵線的步驟中,
所述金屬柵線的結構參數與多結太陽電池的正面電極保持一致,金屬柵線的金屬材料根據頂層子電池的材料進行調整,以不超過0.1mΩ·cm2的接觸電阻率。
4.如權利要求1所述的多結太陽電池的制作方法,其特征在于,所述光學膜層材料為氧化鉿、氧化鉭或氧化硅。
5.如權利要求1所述的多結太陽電池的制作方法,其特征在于,所述光學膜層使用雙層膜層結構,其中,靠近子電池的表面的光學膜層使用折射率略高的材料,靠近空氣的光學膜層使用折射率略低的材料。
6.如權利要求1所述的多結太陽電池的制作方法,其特征在于,在步驟2)中,所述柵線圖形的柵線寬度10μm,柵線間距690μm,柵線高度3μm;
在步驟3)中,在GaInP/GaAs子電池表面依次蒸鍍37.8nm的SiOx與12.6nm的HfOx;在InGaAsP/InGaAs子電池表面依次蒸鍍93.15nm的SiOx與21.4nm的HfOx;
在步驟4)中,在220℃下進行圖形鍵合,鍵合過程中待鍵合樣品兩端保持4000N的壓力;
在步驟6)中,所述正面電極圖形的柵線寬度10μm,柵線間距690μm,柵線高度5μm。
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H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





