[發(fā)明專利]接口測試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲介質(zhì)

在審

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• 申請日: 2020-11-30
• 公開（公告）號: CN112363948A
• 公開（公告）日: 2021-02-12
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張星亮;丁湘和
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市六度人和科技有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 深圳盛德大業(yè)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44333
• 代理人: 賈振勇

本發(fā)明適用于計算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域，提供了一種接口測試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲介質(zhì)，所述方法包括以下步驟：一種接口測試方法，所述方法包括以下步驟：將接口測試用例按基礎(chǔ)層、多個接口層、多個模板層以及多個用例層呈樹杈式封裝，其中，所述基礎(chǔ)層和多個所述接口層為繼承關(guān)系，多個所述用例層相互獨(dú)立；通過所述用例層執(zhí)行用例啟動；調(diào)用所述模板層的檢測方法；調(diào)用所述接口層的方法；調(diào)用所述基礎(chǔ)層的請求方法和鑒權(quán)；遍歷執(zhí)行所述模板層的檢測方法直至多個所述用例層的步驟全部執(zhí)行完畢。本發(fā)明提供的接口測試方法，解決了現(xiàn)有的接口測試的用例編寫效率低的問題。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于計算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種接口測試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲介質(zhì)。

背景技術(shù)

軟件項目迭代頻繁，需要經(jīng)常變更已有的接口來完成相應(yīng)的功能，一個接口的變更，需要調(diào)整所有調(diào)用該接口的用例的邏輯，特別是頻繁的版本迭代，造成了繁重的接口用例維護(hù)工作，這也是接口測試的主要痛點(diǎn)之一。在多人協(xié)作的項目中，接口測試用例往往由多人協(xié)作完成，但往往項目中各個功能模塊的業(yè)務(wù)經(jīng)常有關(guān)聯(lián)，所以會存在用例編寫過程中互相調(diào)用的情況，對已有的用例進(jìn)行修改，經(jīng)常會影響到調(diào)用該用例的人員相關(guān)聯(lián)的用例受影響。

主流的接口測試腳本通常設(shè)計為以項目為維度編寫測試用例，多人協(xié)作時，各自創(chuàng)建一個文件編寫各自負(fù)責(zé)模塊內(nèi)的測試用例，與他人業(yè)務(wù)重疊的部分，為了避免代碼冗余，則直接調(diào)用他人的用例，來作為用例的前置或者后置步驟，版本迭代時，手動修改所有關(guān)聯(lián)的用例，對于特別復(fù)雜的修改，有時候考慮到維護(hù)成本太大，則直接放棄掉一部分用例，重新編寫。

同時，主流的接口測試腳本在編寫時，對于同一個接口常常會有多處調(diào)用，在接口在后續(xù)的版本迭代中，一旦發(fā)送變化，需要對所有調(diào)用該接口的地方進(jìn)行調(diào)整，不乏還有一些需要調(diào)整業(yè)務(wù)邏輯的地方，難于維護(hù)甚至為了避免高昂的維護(hù)成本，直接舍棄一部分用例；并且，主流的接口測試腳本在編寫時，多人協(xié)作常常各自為戰(zhàn)，提取本人用例腳本的公共部分作為底層調(diào)用，當(dāng)編寫用例需要調(diào)用他人的底層腳本時，會出現(xiàn)相互調(diào)用的情況，一旦有人變更自己負(fù)責(zé)的底層代碼，將會影響到所有調(diào)用這份代碼的用例，可能導(dǎo)致無法執(zhí)行，或者報錯；同時，每個執(zhí)行用例都增加鑒權(quán)獲取的操作，增加了用例執(zhí)行的時間且無法并發(fā)的執(zhí)行其他用例，再者現(xiàn)有的接口測試腳本，在處理復(fù)雜業(yè)務(wù)邏輯，封裝長流程業(yè)務(wù)時，用例編寫步驟復(fù)雜，編寫效率低。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明實(shí)施例的目的在于提供一種接口測試方法，旨在解決現(xiàn)有的接口測試方法在處理復(fù)雜業(yè)務(wù)邏輯，封裝長流程業(yè)務(wù)時，編寫效率低的問題。

本發(fā)明實(shí)施例是這樣實(shí)現(xiàn)的，一種接口測試方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：

將接口測試用例按基礎(chǔ)層、多個接口層、多個模板層以及多個用例層呈樹杈式封裝，其中，所述基礎(chǔ)層和多個所述接口層為繼承關(guān)系，多個所述用例層相互獨(dú)立；

通過所述用例層執(zhí)行用例啟動；

調(diào)用所述模板層的檢測方法；

調(diào)用所述接口層的方法；

調(diào)用所述基礎(chǔ)層的請求方法和鑒權(quán)；

遍歷執(zhí)行所述模板層的檢測方法直至多個所述用例層的步驟全部執(zhí)行完畢。

更進(jìn)一步地，將接口測試用例按基礎(chǔ)層、多個接口層、多個模板層以及多個用例層呈樹杈式封裝的方法包括以下步驟：

將所有所述接口測試用例的共用方法封裝成一個類，以形成所述基礎(chǔ)層；

將所述基礎(chǔ)層中的所有的功能模塊對應(yīng)的所有接口分別封裝成一個類，以形成多個所述接口層；

將各個功能模塊所有相關(guān)業(yè)務(wù)封裝成一個類，以形成多個模板層；

根據(jù)多個所述接口層生成對應(yīng)的單元測試框架，以形成多個所述用例層。