[發明專利]一種適用于慣性組件的多功能標校測試裝置

在審

• 申請號: 202011369104.1
• 申請日: 2020-11-30
• 公開（公告）號: CN112649020A
• 公開（公告）日: 2021-04-13
• 發明（設計）人: 郇光周;米秀秀;楊琪
• 申請（專利權）人: 西安航天三沃機電設備有限責任公司
• 主分類號: G01C25/00
• 分類號: G01C25/00
• 代理公司: 西安文盛專利代理有限公司 61100
• 代理人: 佘文英

本發明公開了一種適用于慣性組件的多功能標校測試裝置，包括：六面體工裝、轉接底座、限位塊；所述轉接底座可高精度定位安裝于各類標校測試試驗平臺上，所屬轉接底座設置高精度卡槽，實現對所述六面體工裝進行高精度定位；所述六面體工裝采用雙層框架結構，第一層框架結構與被測慣性組件裝配，第二層框架結構與轉接底座固定安裝；所述限位塊與轉接底座聯接，用于對六面體工裝進行夾緊限位。本發明能夠適用于各類標校測試試驗平臺，實現在不拆卸慣性組件的前提下實現對慣性組件六個自由度方向的各項性能指標的標校測試工作。

技術領域

本發明屬于測試設備技術領域，尤其適用于小型制導導彈彈上慣性組件在生產及儲存過程中的各項性能標校測試裝置。

技術背景

伴隨著世界軍事的變革與高新技術的廣泛應用，現代戰爭的作戰形態和作戰理念正在發生變化，“基于效果作戰”的戰爭效益觀逐漸被世界各國所接受。小型制導武器具有體積小、重量輕、作戰實現成本低、控制精度高等優勢，在當今局部戰爭，尤其是反恐戰爭中廣泛應用，成為近年來國內相關科研單位的重點發展方向。

受成本、體積等因素限制，現階段小型制導導彈的彈上慣性組件大都采用MEMS慣性器件，如MEMS加速度計和MEMS陀螺儀。

MEMS慣性器件具有體積小、功耗低和可靠性高等明顯的優勢，在其生產及儲存過程中，需要對慣性器件的各項性能指標進行標校測試，如使用轉臺對MEMS陀螺儀進行標校及交叉耦合測試、使用離心機對MEMS加速度計的滿量程測、零位重復性測試等，慣性組件的性能測試標校工作的準確性直接影響產品的性能指標，從而影響導彈的命中精度，關系到導彈的作戰效能。慣性組件與各種試驗平臺的轉接測試裝置是標校測試的重要一環，直接影響測試及標校的準確性，同時影響生產效率，因此設計適用于慣性組件的多功能標校測試裝置，保證測試的準確性，同時提高生產效率。

目前慣性組件常規的標校測試方法是，針對不同標校測試項目設計各類不同的標校測試裝置，該方法涉及到將慣性組件從各種裝置上進行反復拆卸，存在損壞慣性組件產品安裝孔的風險，同時每次裝配時各種裝置需與試驗平臺進行拆卸，再次安裝時影響標校測試精度，實施過程復雜。以上問題導致在慣性組件標校測試時，精度不能保證，同時生產效率較低，制約了慣性組件的生產及應用。

發明內容

為了解決以上問題，本發明的目的是提供一種適用于慣性組件的多功能標校測試裝置，該裝置能夠適用于各項標校測試與試驗平臺的高精度轉接工作，從而保證慣性組件的各項性能指標要求。

能夠適用于各類標校測試試驗平臺，實現在不拆卸慣性組件的前提下實現對慣性組件六個自由度方向的各項性能指標的標校測試工作。

本發明通過以下技術方案實現：一種適用于慣性組件的多功能標校測試裝置，其特征在于，包括：六面體工裝、轉接底座、限位塊；

所述六面體工裝采用雙層框架結構，第一層框架結構與被測慣性組件裝配，第二層框架結構與轉接底座固定安裝；所述限位塊與轉接底座聯接；所述轉接底座定位安裝于各類標校測試試驗平臺上，所屬轉接底座設置L型卡槽，對所述六面體工裝另外兩個自由度進行定位，實現壓緊限位。

更進一步地，所述六面體工裝采用正六面結構，可實現不拆卸被測慣性組件的情況下實現對六個自由度標校測試；

更進一步地，第一層框架結構使用環形套接及徑向兩個定位螺釘固定的方式，實現平動自由度方向精度0.03mm，轉動自由度方向精度0.06°。

更進一步地，六面體工裝的雙層框架結構在六個面采用矩形開槽方式進行布局及減重設計。

更進一步地，六面體工裝的+X方向的端面采用兩邊開槽的方式對聯接線纜進行出線；

更進一步地，用對角設置的兩個定位銷對轉接底座與試驗平臺進行定位。

本發明的有益效果：