[發明專利]一種應用于干式刻蝕工藝的上部電極等離子熔射方法有效
| 申請號: | 202011368454.6 | 申請日: | 2020-11-30 |
| 公開(公告)號: | CN112490106B | 公開(公告)日: | 2021-07-30 |
| 發明(設計)人: | 權太植 | 申請(專利權)人: | 合肥微睿光電科技有限公司 |
| 主分類號: | H01J37/32 | 分類號: | H01J37/32;H01L21/67 |
| 代理公司: | 北京眾達德權知識產權代理有限公司 11570 | 代理人: | 劉杰 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 應用于 刻蝕 工藝 上部 電極 等離子 方法 | ||
本發明公開了一種應用于干式刻蝕工藝的上部電極等離子熔射方法,具體包括:S1.遮蔽:采用不銹鋼板對上部電極進行遮蔽,遮蔽非熔射面,露出熔射面;S2.噴砂:對熔射面進行噴砂處理;S3.等離子噴涂:對熔射面進行等離子噴涂;S4.去除遮蔽:去除上部電極上遮蔽的不銹鋼板;S5.一次清洗:采用干冰清洗方式清洗上部電極的表面;S6.檢查:檢查熔射涂層的外觀和尺寸;S7.二次清洗:采用高壓清洗方式清洗上部電極上的電極孔;S8.干燥:對上部電極進行烘干。本發明能夠獲得所需厚度的熔射涂層,提高了上部電極的脆弱部位的絕緣性及耐腐蝕性,且能夠降低在使用端上線時形成電弧與擊穿的發生率,延長了上部電極的使用壽命。
技術領域
本發明涉及TFT-LCD(薄膜晶體管液晶顯示器)制造技術領域,具體是一種應用于干式刻蝕工藝的上部電極等離子熔射方法。
背景技術
TFT-LCD(薄膜晶體管液晶顯示器)制造工藝中的干式刻蝕(Dry Etch)工藝是指在真空腔室內部,通過等離子體刻蝕去除在LCD玻璃基板(LCD GLASS)上形成的金屬(Mo,Ta,Al,ITO)和絕緣膜(Si,SiNx)的工藝。
受這種等離子體刻蝕環境的影響,真空腔室的耗材因為腐蝕性需要周期性的更換,進行維護管理。其中上部電極作為耗材中的核心部件,具有提供氣體(GAS)均勻噴射口的功能。上部電極通過在鋁合金表面進行陽極氧化處理,以達到提高等離子體環境中的耐腐蝕性和絕緣性。高品質的上部電極,可以延長更換周期,提高運行率的效果。目前,為了延長其使用壽命,在形成陽極氧化膜后再對孔周圍進行等離子熔射,來加強耐腐蝕性和絕緣性。
10.5代TFT-LCD是目前LCD行業最大尺寸的產品,相對于8.5、7、6代等產品,其干式刻蝕所用的上部電極耗材尺寸也是最大的。上部電極應用于TET-LCD干式刻蝕制造設備內,大多數為鋁制品,在對陽極氧化膜表面進行等離子熔射后,賦予上部電極良好的耐電壓、阻抗及耐腐蝕性能。
干式刻蝕的大型化(10.5G)意味著更高的注入能量(RF Power),應用更大量的腐蝕性等離子氣體,因此對于上部電極皮膜及涂層的電氣性能,其品質要求高于8.5G及以下的陽極氧化膜和涂層膜性能要求。
上部電極的電氣性能包括耐電壓、阻抗、耐腐蝕性等,這些重要的性能參數均與陽極氧化膜和熔射涂層的厚度密切相關。因此,有必要設計一種應用于干式刻蝕工藝的上部電極等離子熔射方法,來降低上部電極在使用端上線時形成電弧與擊穿的發生率,以延長上部電極的使用壽命。
發明內容
本發明的目的是為了克服現有技術存在的缺陷和不足,提供一種應用于干式刻蝕工藝的上部電極等離子熔射方法,能夠獲得所需厚度的熔射涂層,以提高上部電極的脆弱部位的絕緣性及耐腐蝕性,且能夠降低在使用端上線時形成電弧與擊穿的發生率,并可延長上部電極的使用壽命。
為實現上述目的,本發明提供如下技術方案:
一種應用于干式刻蝕工藝的上部電極等離子熔射方法,其特征在于:具體包括以下步驟:
S1.遮蔽:選用一塊表面均布有圓孔的不銹鋼板,其中所述圓孔的內徑大于待熔射的上部電極上的電極孔的內徑,將所述的不銹鋼板覆蓋并固定在待熔射的上部電極的表面,要求不銹鋼板上的圓孔與待熔射的上部電極上的電極孔一一對應,待熔射的上部電極中,從圓孔中露出的表面為熔射面,其他部位為非熔射面,并被所述不銹鋼板遮蔽;
S2.噴砂:對步驟S1中被不銹鋼板遮蔽的上部電極的熔射面進行噴砂處理,使得所述熔射面的粗糙度達到2~5μm;
S3.等離子噴涂:對經步驟S2噴砂處理后的上部電極的熔射面進行等離子噴涂,在所述的熔射面上形成厚度為170~230μm的熔射涂層;
S4.去除遮蔽:將經步驟S3等離子噴涂后的上部電極上遮蔽的不銹鋼板去除;
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