[發明專利]像素電路、光電檢測基板、光電檢測裝置及驅動方法

有效

• 申請號: 202011364399.3
• 申請日: 2020-11-27
• 公開（公告）號: CN112468744B
• 公開（公告）日: 2023-05-19
• 發明（設計）人: 史魯斌;李付強;周婷婷
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司
• 主分類號: H04N25/63
• 分類號: H04N25/63;H04N25/60;H04N25/76;H04N25/77
• 代理公司: 北京市立方律師事務所 11330
• 代理人: 張筱寧;宋海斌

本申請實施例提供一種像素電路、光電檢測基板、光電檢測裝置及驅動方法。該像素電路包括：電荷存儲單元，第一端、第二端分別與第一節點、第二節點電連接；復位單元，第一端、第二端、第三端分別用于與參考信號線、第一初始化信號線、第二初始化信號線電連接，第四端、第五端、第六端分別與第一節點、光電二極管的陰極、第二節點電連接；感光控制單元，第一端、第二端、第三端，分別與光電二極管的陰極、第一節點、第二節點電連接；輸出單元，第一端、第二端分別與第一電平端、感光控制單元的第四端電連接。本申請實施例能夠提高像素電路的檢測的均一性及精度。

技術領域

本申請涉及光電檢測技術領域，具體而言，本申請涉及一種像素電路、光電檢測基板、光電檢測裝置及驅動方法。

背景技術

像素電路的輸出單元的開關器件的輸出端的電流線性跟隨其柵極的電平變化，然而由于MOS(Metal?Oxide?Semiconductor，金屬氧化物半導體)器件或者TFT(Thin?FilmTransistor，薄膜晶體管)的體效應和均一性，其輸出電平或者電流并不是理想的線性關系。

在不同源漏極電壓V_gs下，TFT(Thin?Film?Transistor，薄膜晶體管)的驅動電流I_ds大小不同。對于光電檢測基板中的TFT而言，不同TFT個體間存在均一性的差異，而且相同的V_gs下由于TFT器件的均一性差異，TFT的輸出驅動電流I_ds也會存在差異，從而導致對現有像素電路輸出的驅動電流的檢測的均一性和精度降低。

發明內容

本申請針對現有方式的缺點，提出一種像素電路、光電檢測基板、光電檢測裝置及驅動方法，用以解決現有技術存在的對現有像素電路輸出的驅動電流的檢測的均一性和精度降低的技術問題。

第一方面，本申請實施例提供一種像素電路，包括：

電荷存儲單元，電荷存儲單元的第一端、第二端分別與第一節點、第二節點電連接；

復位單元，復位單元的第一控制端用于與復位控制信號線電連接，復位單元的第二控制端用于與掃描信號線電連接，復位單元的第一端、第二端、第三端分別用于與參考信號線、第一初始化信號線、第二初始化信號線電連接，復位單元的第四端、第五端、第六端分別與第一節點、像素電路的光電二極管、第二節點電連接；

感光控制單元，感光控制單元的控制端用于與柵極信號線電連接，感光控制單元的第一端、第二端、第三端，分別與光電二極管、第一節點、第二節點電連接；

輸出單元，輸出單元的第一控制端與第二節點電連接，輸出單元的第二控制端用于與掃描信號線電連接，輸出單元的第一端、第二端分別與第一電平端、感光控制單元的第四端電連接。

在一個可能的實現方式中，復位單元包括第一復位模塊、第二復位模塊和第三復位模塊；

第二復位模塊和第三復位模塊的控制端以及第一復位模塊的第一控制端，共同作為復位單元的第一控制端；

第一復位模塊的第二控制端作為復位單元的第二控制端；

第一復位模塊的第一端、第二端，分別作為復位單元的第一端、第四端；

第二復位模塊的第一端、第二端，分別作為復位單元的第二端、第五端；

第三復位模塊的第一端、第二端，分別作為復位單元的第三端、第六端。

在一個可能的實現方式中，感光控制單元包括第一開關模塊和第二開關模塊；

第一開關模塊和第二開關模塊的控制端共同作為感光控制單元的控制端；

第一開關模塊的第一端、第二端，分別作為感光控制單元的第一端、第二端；