[發(fā)明專利]一種雷達(dá)高度表抗干擾半實(shí)物仿真系統(tǒng)及方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011361161.5 | 申請(qǐng)日: | 2020-11-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112558495B | 公開(公告)日: | 2022-04-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 朱曉菲;李國(guó)梁;何兵;趙欣;常瑞花;金國(guó)棟;譚力寧 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)人民解放軍火箭軍工程大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G05B17/02 | 分類號(hào): | G05B17/02;G01S7/36 |
| 代理公司: | 北京高沃律師事務(wù)所 11569 | 代理人: | 杜陽(yáng)陽(yáng) |
| 地址: | 710025 *** | 國(guó)省代碼: | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 雷達(dá) 高度表 抗干擾 實(shí)物 仿真 系統(tǒng) 方法 | ||
1.一種雷達(dá)高度表抗干擾半實(shí)物仿真系統(tǒng),其特征在于,包括:干擾對(duì)抗場(chǎng)景控制子系統(tǒng)、回波模擬和干擾器子系統(tǒng)、抗干擾性能檢驗(yàn)評(píng)估子系統(tǒng)和雷達(dá)高度表測(cè)試控制子系統(tǒng);
干擾對(duì)抗場(chǎng)景控制子系統(tǒng)的輸出端與所述回波模擬和干擾器子系統(tǒng)的第一輸入端連接;所述干擾對(duì)抗場(chǎng)景控制子系統(tǒng)用于配置場(chǎng)景參數(shù),生成仿真參數(shù)、回波參數(shù)和干擾參數(shù);
所述回波模擬和干擾器子系統(tǒng)的第二輸入端連接待測(cè)雷達(dá)高度表的輸出端;所述回波模擬和干擾器子系統(tǒng)用于根據(jù)所述待測(cè)雷達(dá)高度表的發(fā)射信號(hào)以及所述干擾對(duì)抗場(chǎng)景控制子系統(tǒng)發(fā)送的回波參數(shù)和干擾參數(shù),進(jìn)行回波模擬和干擾模擬,生成射頻信號(hào),并將所述射頻信號(hào)發(fā)送至所述待測(cè)雷達(dá)高度表的射頻通道;
所述雷達(dá)高度表測(cè)試控制子系統(tǒng)與所述待測(cè)雷達(dá)高度表進(jìn)行雙向通信,所述雷達(dá)高度表測(cè)試控制子系統(tǒng)用于配置所述待測(cè)雷達(dá)高度表的參數(shù)和采集所述待測(cè)雷達(dá)高度表的輸出數(shù)據(jù);
所述抗干擾性能檢驗(yàn)評(píng)估子系統(tǒng)的輸入端連接所述干擾對(duì)抗場(chǎng)景控制子系統(tǒng)的輸出端,所述抗干擾性能檢驗(yàn)評(píng)估子系統(tǒng)用于根據(jù)所述待測(cè)雷達(dá)高度表的仿真數(shù)據(jù)評(píng)估所述待測(cè)雷達(dá)高度表的抗干擾性能;
所述回波模擬和干擾器子系統(tǒng)包括:控制器、環(huán)形器、衰減器、功率分配器、回波模擬器、干擾器、信號(hào)合成器和限幅器;
所述控制器的輸入端與所述干擾對(duì)抗場(chǎng)景控制子系統(tǒng)的輸出端連接;所述控制器的第一輸出端與所述回波模擬器的輸入端連接,用于將所述干擾對(duì)抗場(chǎng)景控制子系統(tǒng)發(fā)送的回波參數(shù)發(fā)送至所述回波模擬器;所述控制器的第二輸出端與所述干擾器的輸入端連接,用于將所述干擾對(duì)抗場(chǎng)景控制子系統(tǒng)發(fā)送的干擾參數(shù)發(fā)送至所述干擾器;
所述待測(cè)雷達(dá)高度表射頻通道與所述環(huán)形器連接,所述待測(cè)雷達(dá)高度表發(fā)射的射頻信號(hào)依次經(jīng)過所述環(huán)形器、所述衰減器和所述功率分配器后分成兩路,一路輸入所述回波模擬器,另一路輸入所述干擾器;
所述回波模擬器用于根據(jù)輸入的射頻信號(hào)和所述回波參數(shù)進(jìn)行回波模擬,輸出第一射頻信號(hào);所述干擾器用于根據(jù)輸入的射頻信號(hào)和所述干擾參數(shù)進(jìn)行干擾模擬,輸出第二射頻信號(hào);
所述信號(hào)合成器用于接收所述第一射頻信號(hào)和所述第二射頻信號(hào),并合成第三射頻信號(hào);所述第三射頻信號(hào)依次經(jīng)過所述限幅器和所述環(huán)形器后傳輸至所述待測(cè)雷達(dá)高度表的射頻通道。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雷達(dá)高度表抗干擾半實(shí)物仿真系統(tǒng),其特征在于,所述干擾對(duì)抗場(chǎng)景控制子系統(tǒng)包括:場(chǎng)景配置模塊、仿真計(jì)算模塊和態(tài)勢(shì)控制模塊;
所述場(chǎng)景配置模塊用于對(duì)待測(cè)雷達(dá)高度表的運(yùn)動(dòng)軌跡進(jìn)行配置、對(duì)待測(cè)雷達(dá)高度表的射頻參數(shù)進(jìn)行配置、對(duì)干擾機(jī)的射頻參數(shù)進(jìn)行配置以及對(duì)回波模擬器的射頻參數(shù)進(jìn)行配置;
所述仿真計(jì)算模塊用于根據(jù)配置參數(shù)計(jì)算所述仿真參數(shù);
所述態(tài)勢(shì)控制模塊用于對(duì)所述仿真參數(shù)進(jìn)行可視化顯示。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雷達(dá)高度表抗干擾半實(shí)物仿真系統(tǒng),其特征在于,所述雷達(dá)高度表測(cè)試控制子系統(tǒng)包括:雷達(dá)高度表控制模塊和高度監(jiān)視器;所述雷達(dá)高度表控制模塊用于配置所述待測(cè)雷達(dá)高度表的參數(shù),所述高度監(jiān)視器用于采集所述待測(cè)雷達(dá)高度表的高度數(shù)據(jù)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)人民解放軍火箭軍工程大學(xué),未經(jīng)中國(guó)人民解放軍火箭軍工程大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202011361161.5/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。





