[發明專利]一種用于離子微波頻標的離子阱射頻勢實時監測反饋系統

在審

• 申請號: 202011359930.8
• 申請日: 2020-11-27
• 公開（公告）號: CN112491416A
• 公開（公告）日: 2021-03-12
• 發明（設計）人: 杜麗軍;王韋瑋;張榮彥;湯雨龍;賀玉玲;蒙艷松;張立新
• 申請（專利權）人: 西安空間無線電技術研究所
• 主分類號: H03L7/26
• 分類號: H03L7/26
• 代理公司: 中國航天科技專利中心 11009
• 代理人: 張麗娜

1.一種用于離子微波頻標的離子阱射頻勢實時監測反饋系統，其特征在于：該實時監測反饋系統用于實時監測離子阱的射頻信號，該射頻信號是通過射頻驅動電路提供；該實時監測反饋系統包括一個雙刀雙擲開關、兩個隔離級、兩個檢波器、兩個射隨器、兩個計數器、兩個頻譜儀、兩個幅度數據采集器、兩個π形匹配網絡和一個伺服反饋電路；兩組分壓電容對分別為第一組分壓電容對和第二組壓電容對；兩個隔離級分別為第一隔離級和第二隔離級，兩個檢波器分別為第一檢波器和第二檢波器，兩個射隨器分別為第一射隨器和第二射隨器，兩個計數器分別為第一計數器和第二計數器，兩個頻譜儀分別為第一頻譜儀和第二頻譜儀，兩個幅度數據采集器分別為第一幅度數據采集器和第二幅度數據采集器，兩個π形匹配網絡分別為第一π形匹配網絡和第二π形匹配網絡；

雙刀雙擲開關的兩個輸入端接入到射頻驅動電路的最后一級的兩個輸出端上，雙刀雙擲的其中兩個輸出端與第一組分壓電容對、離子阱的一組相對極桿形電極連接，雙刀雙擲的另外兩個輸出端與第二組分壓電容對、離子阱的另一組相對極桿形電極連接；第一組分壓電容對的兩個電容之間電位為V_測試端1，第二組分壓電容對的兩個電容之間電位為V_測試端2，射頻驅動電路的最后一級的其中一個輸出端的電位為V_離子阱1，射頻驅動電路的最后一級的另一個輸出端的電位為V_離子阱2，當雙刀雙擲開關打至其中一檔時，V_離子阱1分壓后是V_測試端1，V_離子阱2分壓后是V_測試端1；打至另外一檔時，V_離子阱1分壓后是V_測試端2，V_離子阱2分壓后是V_測試端1；

第一組分壓電容對的兩個電容之間接入至第一隔離級；

第一隔離級輸出的信號分為三路，分別為第一路、第二路和第三路；

第一隔離級輸出的第一路信號接入到第一計數器中；

第一隔離級輸出的第二路信號進入第一射隨器和第一π形匹配網絡后，連接至第一頻譜儀中；

第一隔離級輸出的第三路信號進入第一檢波器后，轉化為直流信號，連接至第一幅度數據采集器中，第一幅度數據采集器采集射頻幅度信息，通過伺服反饋電路對離子阱射頻幅度進行反饋控制；

第二組分壓電容對的兩個電容之間接入至第二隔離級；

第二隔離級輸出的信號分為三路，分別為第一路、第二路和第三路；

第二隔離級輸出的第一路信號接入到第二計數器中；

第二隔離級輸出的第二路信號進入第二射隨器和第二π形匹配網絡后，連接至第二頻譜儀中；

第二隔離級輸出的第三路信號進入第二檢波器后，轉化為直流信號，連接至第二幅度數據采集器中，第二幅度數據采集器采集到的射頻幅度信息與第一幅度數據采集器采集到的射頻幅度信息進行比較，評測相對幅度差。

2.根據權利要求1所述的一種用于離子微波頻標的離子阱射頻勢實時監測反饋系統，其特征在于：雙刀雙擲開關的兩個輸入端接入到射頻驅動電路的最后一級的兩個輸出端上是指：雙刀雙擲開關的其中一個輸入端接入到射頻驅動電路的最后一級的一個輸出端上，雙刀雙擲開關的另一個輸入端接入到射頻驅動電路的最后一級的另一個輸出端上。

3.根據權利要求1所述的一種用于離子微波頻標的離子阱射頻勢實時監測反饋系統，其特征在于：第一隔離級輸出的第一路信號接入到第一計數器中用于測量頻率的穩定性，第一隔離級輸出的第二路信號進入第一射隨器和第一π形匹配網絡后連接至第一頻譜儀中是用于監測雜波功率與信號功率比，監測波形完好性。

4.根據權利要求1所述的一種用于離子微波頻標的離子阱射頻勢實時監測反饋系統，其特征在于：第二隔離級輸出的第一路信號接入到第二計數器中用于測量頻率的穩定性；第二隔離級輸出的第二路信號進入第二射隨器和第二π形匹配網絡后連接至第二頻譜儀中用于監測雜波功率與信號功率比，監測波形完好性。

5.根據權利要求1所述的一種用于離子微波頻標的離子阱射頻勢實時監測反饋系統，其特征在于：

將第一隔離級的輸出端和第二隔離級的輸出端接入至同一計數器中，用于測量相對相位抖動。