[發(fā)明專利]一種電老煉實(shí)現(xiàn)裝置和方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011359773.0
• 申請日: 2020-11-27
• 公開（公告）號(hào): CN112698172B
• 公開（公告）日: 2023-03-21
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李國強(qiáng);甘家健;王莉;鄭文強(qiáng);王巍丹;牛磊;葉林;崔巍;段友峰
• 申請（專利權(quán)）人: 北京無線電計(jì)量測試研究所
• 主分類號(hào): G01R31/26
• 分類號(hào): G01R31/26
• 代理公司: 北京國昊天誠知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11315
• 代理人: 南霆

1.一種電老煉實(shí)現(xiàn)裝置，用于分立式晶體濾波器，其特征在于，包含：晶振加電模塊和濾波器測試模塊；

所述晶振加電模塊，用于產(chǎn)生與待測分立式晶體濾波器中心頻率相同的正弦波激勵(lì)信號(hào)；

所述濾波器測試模塊，用于接收所述正弦波激勵(lì)信號(hào)，輸出濾波信號(hào)，所述濾波信號(hào)用于高溫電老煉測試；

所述晶振加電模塊，包含：晶體振蕩器、測試座、測試電阻、測試電容和連接金屬針；

所述晶體振蕩器可分離地放置在所述測試座上，所述晶體振蕩器用于產(chǎn)生與待測分立式晶體濾波器中心頻率相同的正弦波信號(hào)，從所述測試座的管腳輸出；

所述測試座的管腳輸出的正弦波信號(hào)經(jīng)過所述測試電阻、測試電容和連接金屬針后輸出所述正弦波激勵(lì)信號(hào)；

所述濾波器測試模塊，包含：絕緣片、冠簧和連接金屬針；

所述正弦波激勵(lì)信號(hào)，通過所述連接金屬針至所述冠簧至所述待測分立式晶體濾波器；

所述待測分立式晶體濾波器通過所述冠簧可分離地固定在所述絕緣片上；

絕緣片給待測分立式晶體濾波器提供支撐，防止待測分立式晶體濾波器底座和電路板連接頭短路，冠簧完成電信號(hào)傳輸以及固定待測分立式晶體濾波器，連接金屬針將待測分立式晶體濾波器輸出電信號(hào)傳輸?shù)綔y試板。

2.如權(quán)利要求1所述的電老煉實(shí)現(xiàn)裝置，其特征在于，所述晶振加電模塊和所述濾波器測試模塊安裝在同一塊電路板上。

3.如權(quán)利要求1所述的電老煉實(shí)現(xiàn)裝置，其特征在于，所述裝置還包含：高溫電老煉監(jiān)測模塊；

所述高溫電老煉監(jiān)測模塊，用于接收所述濾波信號(hào)，進(jìn)行電老煉試驗(yàn)。

4.如權(quán)利要求1所述的電老煉實(shí)現(xiàn)裝置，其特征在于，所述晶體振蕩器選用SMD7050晶體振蕩器，所述測試座為DIP14圓孔測試座。

5.一種電老煉實(shí)現(xiàn)方法，使用權(quán)利要求1～4任一項(xiàng)所述的電老煉實(shí)現(xiàn)裝置，其特征在于，包含以下步驟：

產(chǎn)生與待測分立式晶體濾波器中心頻率相同的正弦波激勵(lì)信號(hào)給所述待測分立式晶體濾波器；

將所述正弦波激勵(lì)信號(hào)濾波后輸出濾波信號(hào)。

6.如權(quán)利要求5所述的電老煉實(shí)現(xiàn)方法，其特征在于，所述方法還包含：

進(jìn)行高溫電老煉監(jiān)測。