[發明專利]一種多孔陶瓷材料等效折射率測量裝置及孔隙率計算方法

在審

• 申請號: 202011352862.2
• 申請日: 2020-11-27
• 公開（公告）號: CN112630119A
• 公開（公告）日: 2021-04-09
• 發明（設計）人: 高小強;吳永紅;劉林;謝陽;劉浩;葛萌;王宗軍;劉曉旭
• 申請（專利權）人: 北京航天計量測試技術研究所
• 主分類號: G01N15/08
• 分類號: G01N15/08;G01N21/01;G01N21/41
• 代理公司: 北京理工大學專利中心 11120
• 代理人: 梁倩;廖輝

1.一種多孔陶瓷材料等效折射率的測量裝置，其特征在于，包括：太赫茲波源(1)、第一太赫茲透鏡(2)、第二太赫茲透鏡(4)、太赫茲探測器(5)和信號采集及處理系統(6)；

所述太赫茲波源(1)、第一太赫茲透鏡(2)、多孔陶瓷材料(3)、第二太赫茲透鏡(4)及太赫茲探測器(5)按順序間隔設定距離布置；所述太赫茲探測器(5)與所述信號采集及處理系統(6)電氣連接；

其中，所述太赫茲波源(1)用于輸出探測用的太赫茲波束；所述第一太赫茲透鏡(2)和第二太赫茲透鏡(4)用于聚焦太赫茲波束；所述太赫茲探測器(5)用于探測經過第二太赫茲透鏡(4)后的太赫茲波在不同頻率的強度信息，并將所述強度信息發送給信號采集及處理系統(6)；所述信號采集及處理系統(6)用于采集所述太赫茲波在不同頻率的強度信息，并根據所述強度信息計算穿過多孔陶瓷材料(3)后的太赫茲波的頻率信息，進而計算得到多孔陶瓷材料(3)的等效折射率。

2.如權利要求1所述的一種多孔陶瓷材料等效折射率的測量裝置，其特征在于，所述太赫茲波源(1)、第一太赫茲透鏡(2)、多孔陶瓷材料(3)、第二太赫茲透鏡(4)及太赫茲探測器(5)的中心位于同一條直線上。

3.如權利要求1所述的一種多孔陶瓷材料等效折射率的測量裝置，其特征在于，所述太赫茲波源(1)發射太赫茲波束的頻率為0.1THz-1THz。

4.基于權利要求1的一種多孔陶瓷材料孔隙率的計算方法，其特征在于，具體步驟如下：

第一步，通過所述多孔陶瓷材料等效折射率的測量裝置，分別對參考標準的多孔陶瓷材料及待測量的多孔陶瓷材料的等效折射率進行測量，得到參考標準的多孔陶瓷材料等效折射率N_參考及待測量的多孔陶瓷材料等效折射率N_測量；

第二步，對參考標準的多孔陶瓷材料等效折射率N_參考及待測量的多孔陶瓷材料等效折射率N_測量進行比較，得到參考標準的多孔陶瓷材料等效折射率N_參考與待測量的多孔陶瓷材料等效折射率N_測量在不同太赫茲頻率下的比值

第三步，根據第二步得到的比值及已知的參考標準的多孔陶瓷材料孔隙率，計算得到待測量的多孔陶瓷材料孔隙率：

5.如權利要求4所述的一種多孔陶瓷材料孔隙率的計算方法，其特征在于，所述多孔陶瓷材料等效折射率的測量裝置的太赫茲波源(1)發射太赫茲波束的頻率為0.1THz-1THz。