[發(fā)明專利]一種接口測(cè)試方法、裝置、介質(zhì)和計(jì)算設(shè)備

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011351412.1
• 申請(qǐng)日: 2020-11-26
• 公開（公告）號(hào): CN112346989B
• 公開（公告）日: 2023-06-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 孫喬;姜聰;劉勝;崔奇凡
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 網(wǎng)易（杭州）網(wǎng)絡(luò)有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/36
• 分類號(hào): G06F11/36
• 代理公司: 北京市鑄成律師事務(wù)所 11313
• 代理人: 楊瑾瑾;林軍

本發(fā)明提供一種接口測(cè)試方法、裝置、介質(zhì)和計(jì)算設(shè)備，該方法包括：基于待測(cè)接口的屬性字段所對(duì)應(yīng)的逆向開關(guān)，確定執(zhí)行逆向測(cè)試的第一類屬性字段；從異常參數(shù)庫中包含的多個(gè)候選異常參數(shù)集合中，確定所述第一類屬性字段對(duì)應(yīng)的異常參數(shù)集合；其中，所述多個(gè)候選異常參數(shù)集合中不同的候選異常參數(shù)集合對(duì)應(yīng)不同的場(chǎng)景類別；所述候選異常參數(shù)集合中包括同一場(chǎng)景類別下的一個(gè)或多個(gè)候選異常參數(shù)；基于所述第一類屬性字段對(duì)應(yīng)的異常參數(shù)集合，生成針對(duì)所述待測(cè)接口的測(cè)試請(qǐng)求；基于所述針對(duì)待測(cè)接口的測(cè)試請(qǐng)求對(duì)所述待測(cè)接口執(zhí)行逆向測(cè)試得到測(cè)試結(jié)果。

背景技術(shù)

本部分旨在為權(quán)利要求書中陳述的本發(fā)明的實(shí)施方式提供背景或上下文。此處的描述不因?yàn)榘ㄔ诒静糠种芯统姓J(rèn)是現(xiàn)有技術(shù)。

相關(guān)技術(shù)中，常規(guī)接口測(cè)試流程，根據(jù)實(shí)際的業(yè)務(wù)場(chǎng)景特性配置具體的請(qǐng)求參數(shù)，構(gòu)建具體的接口測(cè)試用例，接著觸發(fā)執(zhí)行對(duì)應(yīng)的接口用例，隨后通過斷言等形式來自動(dòng)化分析判斷用例結(jié)果。上述接口測(cè)試流程主要指的是正常測(cè)試，而往往在接口測(cè)試中還需要進(jìn)行逆向測(cè)試，也就是為待測(cè)接口的屬性字段設(shè)計(jì)異常參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，然而現(xiàn)有的接口測(cè)試方法中的逆向測(cè)試存在配置靈活性較低、設(shè)計(jì)成本較高以及測(cè)試覆蓋率較低的問題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明期望提供一種接口測(cè)試方法、裝置、介質(zhì)和計(jì)算設(shè)備，以至少解決上述技術(shù)問題。

本發(fā)明實(shí)施方式的第一方面，提供一種接口測(cè)試方法，包括：

基于待測(cè)接口的屬性字段所對(duì)應(yīng)的逆向開關(guān)，確定執(zhí)行逆向測(cè)試的第一類屬性字段；

從異常參數(shù)庫中包含的多個(gè)候選異常參數(shù)集合中，確定所述第一類屬性字段對(duì)應(yīng)的異常參數(shù)集合；其中，所述多個(gè)候選異常參數(shù)集合中不同的候選異常參數(shù)集合對(duì)應(yīng)不同的場(chǎng)景類別；所述候選異常參數(shù)集合中包括同一場(chǎng)景類別下的一個(gè)或多個(gè)候選異常參數(shù)；

基于所述第一類屬性字段對(duì)應(yīng)的異常參數(shù)集合，生成針對(duì)所述待測(cè)接口的測(cè)試請(qǐng)求；

基于所述針對(duì)待測(cè)接口的測(cè)試請(qǐng)求對(duì)所述待測(cè)接口執(zhí)行逆向測(cè)試得到測(cè)試結(jié)果。

在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，所述方法還包括：

基于預(yù)設(shè)的過濾規(guī)則對(duì)所述測(cè)試結(jié)果進(jìn)行過濾，得到異常測(cè)試結(jié)果；

其中，所述預(yù)設(shè)的過濾規(guī)則中包含以下至少之一：

若所述測(cè)試結(jié)果中的響應(yīng)碼與預(yù)設(shè)響應(yīng)碼不同，則確定所述測(cè)試結(jié)果為異常測(cè)試結(jié)果；

若所述測(cè)試結(jié)果中的響應(yīng)頭與預(yù)設(shè)響應(yīng)頭不同，則確定所述測(cè)試結(jié)果為異常測(cè)試結(jié)果；

若所述測(cè)試結(jié)果中的響應(yīng)體長(zhǎng)度不在預(yù)設(shè)響應(yīng)體的長(zhǎng)度范圍內(nèi)，則確定所述測(cè)試結(jié)果為異常測(cè)試結(jié)果；

若所述測(cè)試結(jié)果中的響應(yīng)內(nèi)容中不包含預(yù)設(shè)響應(yīng)內(nèi)容，則確定所述測(cè)試結(jié)果為異常測(cè)試結(jié)果。

在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，所述基于待測(cè)接口的屬性字段所對(duì)應(yīng)的逆向開關(guān)，確定執(zhí)行逆向測(cè)試的第一類屬性字段，包括：

將所述待測(cè)接口的屬性字段中逆向開關(guān)為第一值的N個(gè)屬性字段作為執(zhí)行逆向測(cè)試的N個(gè)第一類屬性字段，將所述待測(cè)接口的屬性字段中逆向開關(guān)為第二值的K個(gè)屬性字段作為不執(zhí)行逆向測(cè)試的K個(gè)第二類屬性字段；

其中，所述N和K為大于等于0的整數(shù)。

在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，所述從異常參數(shù)庫中包含的多個(gè)候選異常參數(shù)集合中，確定所述第一類屬性字段對(duì)應(yīng)的異常參數(shù)集合，包括：

基于所要執(zhí)行的逆向接口測(cè)試的場(chǎng)景類型，從異常參數(shù)庫中包含的多個(gè)候選異常參數(shù)集合中選取與所述場(chǎng)景類型對(duì)應(yīng)的候選異常參數(shù)集合；從與所述場(chǎng)景類型對(duì)應(yīng)的候選異常參數(shù)集合中，確定所述N個(gè)第一類屬性字段中的第i個(gè)第一類屬性字段的異常參數(shù)集合；其中i為大于等于1且小于等于N的整數(shù)。