[發明專利]一種基于石墨烯的三明治結構散熱薄膜、半導體器件及其制備方法在審
| 申請號: | 202011349967.2 | 申請日: | 2020-11-26 |
| 公開(公告)號: | CN112490204A | 公開(公告)日: | 2021-03-12 |
| 發明(設計)人: | 李昕;朱莉;沈鑫;楊向紅;劉康;孫岳;黨鑫;胡龍;劉衛華;韓傳余 | 申請(專利權)人: | 西安交通大學 |
| 主分類號: | H01L23/367 | 分類號: | H01L23/367;H01L23/373 |
| 代理公司: | 西安通大專利代理有限責任公司 61200 | 代理人: | 安彥彥 |
| 地址: | 710049 *** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 石墨 三明治 結構 散熱 薄膜 半導體器件 及其 制備 方法 | ||
1.一種基于石墨烯的三明治結構散熱薄膜,其特征在于,包括氧化還原石墨烯層(1)和CVD石墨烯層(2),氧化還原石墨烯層(1)兩側的表面上均設有CVD石墨烯層(2)。
2.根據權利要求1所述的一種基于石墨烯的三明治結構散熱薄膜,其特征在于,氧化還原石墨烯層(1)的厚度為10nm-20nm,CVD石墨烯層(2)的厚度為0.33nm-0.5nm。
3.根據權利要求1所述的一種基于石墨烯的三明治結構散熱薄膜,其特征在于,還包括金屬襯底,由氧化還原石墨烯層(1)以及其兩側的表面的CVD石墨烯層(2)組成的整體結構設置于所述金屬襯底上。
4.制備權利要求1或2所述基于石墨烯的三明治結構散熱薄膜的方法,其特征在于,包括如下步驟:
S1,采用CVD法在金屬襯底上生長CVD石墨烯層,得到結構A;
S2,在結構A的CVD石墨烯層表面制備氧化還原石墨烯層,形成復合結構B;
S3,在復合結構B的氧化還原石墨烯層表面制備CVD石墨烯層,再烘干水分,得到復合結構C;
S4,去除復合結構C的金屬襯底,并進行漂洗,得到所述基于石墨烯的三明治結構散熱薄膜。
5.根據權利要求4所述的方法,其特征在于,S1中,在金屬襯底上生長CVD石墨烯層的制備過程包括:
將金屬襯底表面的氧化物去除,清洗吹干后放入生長爐,通入甲烷和氫氣,在1000℃-1300℃溫度區間內生長30-60分鐘,得到結構A。
6.根據權利要求4所述的方法,其特征在于,S2中,氧化還原石墨烯的制備過程包括:向每10ml去離子水中加入1-2mg氧化石墨烯,得到混合物A,再對混合物A震蕩10-60分鐘,然后超聲4-24小時,得到分散均勻的氧化石墨烯分散液;氧化石墨烯溶液通過還原劑還原成氧化還原石墨烯;將氧化還原石墨烯覆蓋至結構A的CVD石墨烯層表面,得到氧化還原石墨烯層/CVD石墨烯復合層;再在40℃-70℃下烘10-30分鐘,再進行退火處理,形成復合結構B;退火的氣體環境為氬氣或氮氣,退火分三次進行:第一次退火溫度為250℃-350℃退火時間在30-60分鐘;第二次退火溫度在450℃-600℃退火時間在30-60分鐘;第三次退火溫度在750℃-1000℃退火時間在30-60分鐘。
7.根據權利要求4所述的方法,其特征在于,S3中,在復合結構B的氧化還原石墨烯層表面制備CVD石墨烯層的過程包括:
將帶有金屬襯底的CVD石墨烯薄膜表面旋涂PMMA,將旋涂后的CVD石墨烯薄膜放入刻蝕液中,將金屬襯底面朝下,將金屬襯底刻蝕掉;金屬襯底刻蝕完后采用浸漬提拉法將CVD石墨烯薄膜移到去離子水中,漂洗10-120分鐘;再將CVD石墨烯薄膜轉移至復合結構B的氧化還原石墨烯層表面,轉移后泡入丙酮中去除PMMA;之后用去離子水浸泡10-20分鐘,撈出吹干表面水分,再用烘烤1-10分鐘得到符合結構C;其中,刻蝕液為過硫酸銨溶液、三氯化鐵溶液或碘與碘化鉀混合溶液,刻蝕時間為4-24小時。
8.根據權利要求4所述的方法,其特征在于,S4中,去除復合結構C的金屬襯底時,金屬襯底面朝下放入刻蝕液中,刻蝕時間為4-24小時,刻蝕液為過硫酸銨溶液、三氯化鐵溶液或碘與碘化鉀混合溶液。
9.根據權利要求4所述的方法,其特征在于,S4中,得到所述基于石墨烯的三明治結構散熱薄膜后,再進行退火;退火溫度在250℃-350℃,時間為30-60分鐘,氣體環境為氬氣或氮氣。
10.一種半導體器件,其特征在于,包括其表面設置的散熱層,所述散熱層為權利要求1或2所述的基于石墨烯的三明治結構散熱薄膜。
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