[發明專利]一種碳化硅復合材料圓管查找確認漏點的方法

在審

• 申請號: 202011349456.0
• 申請日: 2020-11-26
• 公開（公告）號: CN112504576A
• 公開（公告）日: 2021-03-16
• 發明（設計）人: 程涵;謝宇輝;滕章第
• 申請（專利權）人: 核工業第八研究所
• 主分類號: G01M3/22
• 分類號: G01M3/22;G01M3/20
• 代理公司: 上海科盛知識產權代理有限公司 31225
• 代理人: 劉燕武

本發明涉及一種碳化硅復合材料圓管查找確認漏點的方法，包括以下步驟：(1)取確定有漏點的碳化硅復合材料圓管，套上熱縮管，熱縮處理后，形成熱縮管與碳化硅復合材料圓管之間沒有漏點的碳化硅檢測裝配組件；(2)再將碳化硅檢測裝配組件與左芯模組件和右芯模組件裝配并密封處理，形成無漏點的待檢測組件，接著與氦質譜檢漏儀連接；(3)將熱縮管的某一檢測區域劃開后，在氦質譜檢漏儀處于檢測狀態下時，在對應檢測區域位置噴入定量氦氣，由氦質譜檢漏儀檢測待檢測組件的漏率，直至所有檢測區域完成檢漏。與現有技術相比，本發明可以在不改變和損壞碳化硅復合材料圓管情況下可找出漏點，達到對碳化硅復合材料圓管漏點位置確定的要求。

技術領域

本發明屬于漏點位置檢測技術領域，涉及一種碳化硅復合材料圓管查找確認漏點的方法。

背景技術

碳化硅復合材料圓管是核電中應用的新材料圓管，產品長度為1-2m，由于其特殊的制作工藝，用氦罩法真空系統測試結果可能存在漏率，而確定漏點位置對碳化硅復合材料圓管制作工藝的改進相當重要，因此有必要對碳化硅復合材料圓管漏點位置進行確定。由于碳化硅復合材料圓管長度較長，其內直徑在10mm，外徑為12mm，相對細長，難以確定其漏點位置。

發明內容

本發明的目的就是為了提供一種碳化硅復合材料圓管查找確認漏點的方法，以在不改變和損壞碳化硅復合材料圓管情況下可找出漏點，達到對碳化硅復合材料圓管漏點位置確定的要求。

本發明的目的可以通過以下技術方案來實現：

一種碳化硅復合材料圓管查找確認漏點的方法，包括以下步驟：

(1)取確定有漏點的碳化硅復合材料圓管，套上一尺寸匹配的熱縮管，并確保熱縮處理后，形成熱縮管與碳化硅復合材料圓管之間沒有漏點的碳化硅檢測裝配組件；

(2)再將碳化硅檢測裝配組件與左芯模組件和右芯模組件裝配并密封處理，形成無漏點的待檢測組件，接著將待檢測組件與氦質譜檢漏儀連接；

(3)將碳化硅檢測裝配組件上的熱縮管分割成若干段檢測區域，將某一檢測區域劃開后，在氦質譜檢漏儀處于檢測狀態下時，在熱縮管上劃開的對應檢測區域位置噴入定量氦氣，由氦質譜檢漏儀檢測待檢測組件的漏率，直至所有檢測區域完成檢漏。

進一步的，所述碳化硅復合材料圓管的內徑為8-10mm，外徑為10-12mm，長度為1000-2000mm。

進一步的，所述熱縮管的內徑為11-14mm。

進一步的，熱縮管的內徑比碳化硅復合材料圓管的外徑大1-2mm。

進一步的，每段檢測區域的長度為50-100mm。

進一步的，步驟(3)中，氦質譜檢漏儀檢測待檢測組件的漏率時分為兩種情況，其中，第一種為：若氦質譜檢漏儀快速檢出漏率并快速恢復，則表示此部分檢測區域存在漏點，隨后將此部分檢測區域的熱縮管全部剝離，并用密封膠帶對剝離部分進行密封，確保恢復至不漏狀態，然后繼續確定熱縮管其余檢測區域的漏點情況；

第二種為：若氦質譜檢漏儀緩慢檢出漏率并慢速恢復，且表示此部分劃開區域不存在漏點，然后繼續確定熱縮管其余檢測區域的漏點情況。

更進一步的，所述的密封膠帶為丁基密封膠帶。

更進一步的，在氦質譜檢漏儀的檢測狀態下，逐漸剝離漏點區域的密封膠帶，當氦氣檢漏儀的測量值發生明顯變化時，即確定對應時刻的位置存在漏點。

更進一步的，氦質譜檢漏儀快速檢出漏率指幾乎同時檢出漏率，具體指自噴入氮氣1s內即檢出漏率，快速恢復指在1-2min內恢復至初始狀態。

更進一步的，氦質譜檢漏儀緩慢檢出漏率指在自噴入氮氣后5s以上才檢出，慢速恢復指在10min以上才恢復至初始狀態。