[發明專利]一種產品外殼通斷測試裝置及測試方法

有效

• 申請號: 202011346876.3
• 申請日: 2020-11-26
• 公開（公告）號: CN112363089B
• 公開（公告）日: 2022-11-18
• 發明（設計）人: 王學坤;劉躍;賀志增
• 申請（專利權）人: 歌爾科技有限公司
• 主分類號: G01R31/54
• 分類號: G01R31/54;G01R31/56;G01R27/20;G01R1/04
• 代理公司: 北京鴻元知識產權代理有限公司 11327
• 代理人: 袁文婷;張娓娓

本申請公開了一種產品外殼通斷測試裝置及測試方法，產品外殼通斷測試裝置包括測試設備以及安裝于測試設備端部的觸件；觸件為軟質觸件，軟質觸件具有導電性，用于在測試過程中與待測產品的測試點接觸；測試設備包括固定裝置和移動裝置，移動裝置用于帶動軟質觸件移動，軟質觸件通過固定裝置固定安裝于移動裝置；軟質觸件的硬度小于待測產品的硬度。在軟質觸件與待測產品接觸的過程中，由于軟質觸件的硬度小于待測產品的硬度，因此即使軟質觸件與待測產品接觸，也不會對待測產品造成劃傷，可以有效保護待測產品。

技術領域

本申請涉及ESD通斷測試技術領域，更具體地說，涉及一種產品外殼通斷測試裝置。此外，本申請還涉及一種應用于上述產品外殼通斷測試裝置的測試方法。

背景技術

現有技術中，在對耳機類產品進行ESD(Electro-Static discharge，靜電釋放)通斷性能測試時，需要使用金屬彈針，在產品的金屬網布表面進行扎針測試，由于金屬網布表面鍍層非常薄，極易造成網布劃傷、變形和工裝磨損。

綜上所述，如何避免ESD通斷性能測試過程中劃傷金屬網布，是目前本領域技術人員亟待解決的問題。

發明內容

有鑒于此，本申請的目的是提供一種產品外殼通斷測試裝置，在測試的過程中通過軟質觸件與待測產品接觸，并且軟質觸件的硬度小于待測產品的硬度，可以有效避免對待測產品造成劃傷。

本申請的另一目的是提供一種應用于上述產品外殼通斷測試裝置的測試方法。

為了實現上述目的，本申請提供如下技術方案：

一種產品外殼通斷測試裝置，包括測試設備以及安裝于所述測試設備端部的觸件；

所述觸件為軟質觸件，所述軟質觸件具有導電性，用于在測試過程中與待測產品的測試點接觸；

所述測試設備包括固定裝置和移動裝置，所述移動裝置用于帶動所述軟質觸件移動，所述軟質觸件通過所述固定裝置固定安裝于所述移動裝置；所述軟質觸件的硬度小于所述待測產品的硬度。

優選的，所述移動裝置包括沿軸向可移動設置的滑動導電桿，所述滑動導電桿的一端沿軸向凸出設置有定位柱，所述軟質觸件設置有與所述定位柱過盈配合的凹槽，所述軟質觸件套設于所述定位柱的外周部。

優選的，所述定位柱伸入所述軟質觸件的長度占所述軟質觸件總長度的60％-70％。

優選的，所述定位柱設置有定位平面，所述凹槽設置有與所述定位平面配合、以限制所述軟質觸件相對于所述定位柱轉動的配合面。

優選的，還包括套設于所述軟質觸件外周部的套環，所述套環與所述軟質觸件過盈配合。

優選的，所述套環與所述軟質觸件在軸向具有重合，且重合長度為所述軟質觸件總長度的20％-30％。

優選的，還包括用于使所述滑動導電桿沿軸向移動后復位的彈性部件。

優選的，所述軟質觸件為添加有石墨的橡膠材質。

優選的，所述軟質觸件的邵氏硬度為40A-50A。

一種測試方法，應用于上述任一項所述的產品外殼通斷測試裝置，包括：

所述產品外殼通斷測試裝置控制所述移動裝置帶動所述軟質觸件移動至待測產品的測試點；

所述產品外殼通斷測試裝置控制所述軟質觸件與所述待測產品電連接，以使所述產品外殼通斷測試裝置與所述待測產品形成閉合測試電路；

所述產品外殼通斷測試裝置獲取所述待測產品的接地電阻。